光學(xué)測試技術(shù)

定　價(jià)：￥16.50

作　者：	蘇大圖等編著
出版社：	北京理工大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	普通高等教育兵工類規(guī)劃教材
標(biāo)　簽：	光學(xué)

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ISBN：	9787810451611	出版時(shí)間：	2001-10-01	包裝：	膠版紙
開本：	26cm	頁數(shù)：	219	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本教材為光學(xué)儀器、計(jì)量測試技術(shù)與儀器專業(yè)的專業(yè)課教材，還供光電技術(shù)專業(yè)作為教材或教學(xué)參考書。本書系統(tǒng)介紹了光學(xué)測試中七種主要測試技術(shù)的基本理論、主要應(yīng)用、測試方法和測量誤差分析等。在選材上既注重基礎(chǔ)理論及實(shí)用性，又注意選擇國內(nèi)外有重要應(yīng)用價(jià)值的的光學(xué)測試的新技術(shù)，其中不少是作者自己近年來的科研成果。因而使本教材既拓寬了知識(shí)面，又能適應(yīng)光學(xué)測試技術(shù)近期發(fā)展的需要。本書所介紹的測試技術(shù)，不僅適用于光學(xué)行業(yè)，對(duì)機(jī)械、輕工、航空、航天、計(jì)量、測繪等部門的有關(guān)行業(yè)也有產(chǎn)實(shí)用價(jià)值。所以，本書還可供這些行業(yè)從事科研、生產(chǎn)的科技人員參考。

作者簡介

暫缺《光學(xué)測試技術(shù)》作者簡介

圖書目錄

第一章  基本光學(xué)測量技術(shù)
  第一節(jié)  光學(xué)測量中的對(duì)準(zhǔn)與調(diào)焦技術(shù)
  第二節(jié)  光學(xué)測試裝置的基本部件及其組合
  第三節(jié)  焦距和頂焦距的測量
  第四節(jié)  分辨率測量
第二章  光學(xué)系統(tǒng)的光度和色度性能測量
  第一節(jié)  積分球和CIE標(biāo)準(zhǔn)照明體
  第二節(jié)  光學(xué)系統(tǒng)透射比的測量
  第三節(jié)  光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)的測量
  第四節(jié)  色度學(xué)的基本知識(shí)
  第五節(jié)  測色儀器
  第六節(jié)  光學(xué)系統(tǒng)的色度性能測量
第三章  光學(xué)測量用的精密測角度
  第一節(jié)  光學(xué)測量的用精密側(cè)角儀
  第二節(jié)  測角技術(shù)的應(yīng)用
第四章  準(zhǔn)直與自準(zhǔn)直技術(shù)
  第一節(jié)  激光束準(zhǔn)直與準(zhǔn)直技術(shù)
  第二節(jié)  自淮直法測量平面光學(xué)零件光學(xué)平行度
  第三節(jié)  自準(zhǔn)直法測量曲率半徑和焦距
  第四節(jié)  自準(zhǔn)直法測量非球面面形
第五章  干涉測量
  第一節(jié)  干涉測量基礎(chǔ)
  第二節(jié)  泰曼干涉測量和菲索干涉測量
  第三節(jié)  錯(cuò)位干涉測量
  第四節(jié)  移相干涉測量
  第五節(jié)  外差干涉測量
第六章  偏振光分析法測量
  第一節(jié)  偏振光分析法基本原理
  第二節(jié)  光學(xué)玻璃應(yīng)力雙折射測量
  第三節(jié)  光學(xué)薄薄膜厚度和折射率測量
  第四節(jié)  偏振移相涉術(shù)與偏振外差干涉術(shù)
第七章  現(xiàn)代莫爾測量技術(shù)
  第一節(jié)  概述
  第二節(jié)  莫爾條紋的形成原理
  第三節(jié)  光柵調(diào)制測形法
  第四節(jié)  莫爾偏折術(shù)
參考文獻(xiàn)