晶體X射線衍射學基礎

     目錄
   1X射線的產生和性質
    1.1X射線的本質
    1.2X射線的產生
    1.3X射線譜
    1.4X射線與物質的相互作用
    1.5X射線的探測與防護
   2幾何晶體學基礎
    2.1晶體結構與空間點陣
    2.2晶體對稱的基本概念
    2.3晶面與晶向指數(shù)
    2.4晶體投影
    2.5倒易點陣
    2.6倒易點陣與正點陣的指數(shù)變換
    2.7晶帶
   3X射線衍射的幾何原理
    3.1晶體點陣對X射線的衍射
    3.2干涉函數(shù)與勞厄方程
    3.3布拉格定律
    3.4衍射矢量方程和厄瓦爾德圖解
   4X射線衍射線束的強度
    4.1一個電子對X射線的散射
    4.2一個原子對X射線的散射
    4.3單胞對X射線的散射
    4.4一個小晶體對X射線的散射
    4.5粉末多晶體衍射的積分強度
    4.6消光效應對衍射強度的影響
   5勞厄法及其應用
    5.1勞厄相的攝照
    5.2勞厄法成相原理和衍射斑點分布規(guī)律的解釋
    5.3勞厄衍射花樣指數(shù)化
    5.4晶體取向的測定
    5.5晶體的定向安裝和對稱性的測定
    5.6滑移面和孿生面的測定
   6多晶體衍射的照相方法
    6.1粉末法成相原理
    6.2德拜－謝樂法
    6.3衍射花樣的指數(shù)化
    6.4輻射的選擇
    6.5聚焦照相法
    6.6平面底片照相法
   7X射線衍射儀
    7.1衍射儀的基本組成
    7.2測角儀的工作原理
    7.3晶體單色器
    7.4輻射探測器的工作原理
    7.5計數(shù)測量中的主要電路
    7.6計數(shù)測量方法和測量參數(shù)的選擇
    7.7衍射數(shù)據采集和數(shù)據處理的自動化
    7.8衍射峰的積分強度
    7.9衍射峰位的確定方法
   8X射線物相分析
    8.1定性相分析
    8.2定量相分析
   9點陣常數(shù)的精確測定
    9.1原理
    9.2德拜－謝樂法的系統(tǒng)誤差
    9.3衍射儀法的主要誤差
    9.4外推法消除系統(tǒng)誤差
    9.5柯亨（M.U.Cohen）最小二乘方法
   10宏觀內應力的測定
    10.1基本原理
    10.2測試技術
    10.3應力測定中的幾個相關問題
   11晶格畸變及衍射線形分析
    11.1衍射線的寬化效應
    11.2Ka雙線分離
    11.3實測衍射峰與物理寬化效應的關系
    11.4衍射峰物理寬化的測定
    11.5晶格畸變量和晶塊尺寸的測定
   12織構的測定
    12.1多晶體材料中的織構和衍射花樣特征
    12.2極圖及其測繪方法
    12.3反極圖及其測繪方法
    12.4織構的取向分布函數(shù)
   13非晶態(tài)物質結構的X射線衍射分析
    13.1非晶態(tài)物質結構的主要特征
    13.2非晶態(tài)結構的徑向分布函數(shù)
    13.3實驗要求和數(shù)據處理
   附錄
    1.元素的物理性質
    2.K系標識譜線的波長、吸收限和激發(fā)電壓
    3.元素的質量衰減系數(shù)
    4.原子散射因子
    5.洛倫茲－偏振因子
    6.德拜－瓦洛溫度因子
    7.吸收因子
    8.立方晶系晶面（或晶向）間的夾角
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