核物理實驗數(shù)據(jù)處理

     目錄
   序言
   第一章 預(yù)備知識
    第一節(jié) 隨機(jī)事件和概率
    第二節(jié) 隨機(jī)變量及其概率分布
    一、分布函數(shù)和概率（密度）函數(shù)
    二、隨機(jī)變量的變換
    三、特征數(shù)字
    四、特征數(shù)字的運(yùn)算
    第三節(jié) 常用的幾種分布
    一、二項分布
    二、泊松分布
    三、正態(tài)分布
    四、多維正態(tài)分布
    五、指數(shù)分布
    六、均勻分布
    第四節(jié) 特征函數(shù)
    一、特征函數(shù)的定義
    二、特征函數(shù)的性質(zhì)
    三、母函數(shù)
    四、有關(guān)母函數(shù)的運(yùn)算法則
    第五節(jié) 幾個重要統(tǒng)計量的分布
    一 x2分布
    二、t分布
    三、F分布
    四 抽樣分布定理
    第六節(jié) 大數(shù)定律和中心極限定理
    一、契比雪夫不等式
    二、契比雪夫定理
    三、貝努里定理
    四、中心極限定理
   第二章 參數(shù)估計和假設(shè)檢驗
    第一節(jié) 參數(shù)的估計
    一、矩法
    二、最大似然法
    第二節(jié) 估計量的好壞標(biāo)準(zhǔn)
    一、無偏性
    二、有效性
    三、一致性
    第三節(jié) 似然函數(shù)的漸近性質(zhì)
    一、單參數(shù)情況
    二、多參數(shù)情況
    第四節(jié) 區(qū)間估計
    一、置信區(qū)間的概念
    二、置信區(qū)間的求法
    第五節(jié) 參數(shù)估計的貝葉斯方法
    一、參數(shù)的驗前分布和驗后分布
    二、貝葉斯假設(shè)
    第六節(jié) 假設(shè)檢驗概述
    一、基本概念
    二、顯著性檢驗的一般方法
    三、兩類錯誤
    第七節(jié) 正態(tài)分布的參數(shù)檢驗
    一、平均值的檢驗
    二、兩個平均值的比較
    三、方差的檢驗
    第八節(jié) 分布型式的檢驗
    一、皮爾遜x2檢驗法
    二、柯爾莫哥洛夫檢驗法
    第九節(jié) 似然比檢驗
    一、對單假設(shè)的似然比檢驗
    二、最大似然比檢驗
    第十節(jié) 方差分析
    一、單因素方差分析
    二、雙因素方差分析
   第三章 實驗誤差
    第一節(jié) 等精度觀測下的隨機(jī)誤差
    一、分布和有關(guān)的統(tǒng)計量
    二、誤差的表示和求法
    三、隨機(jī)誤差的報道
    四、可疑測量值的舍棄
    第二節(jié) 不等精度觀測誤差的處理
    一、權(quán)的概念和加權(quán)均值
    二、單位權(quán)方差的估算
    三、數(shù)據(jù)協(xié)調(diào)性的檢驗
    第三節(jié) 間接測量中的誤差傳遞
    一、線性函數(shù)的誤差傳遞公式
    二、一般函數(shù)的誤差傳遞公式
    第四節(jié) 系統(tǒng)誤差
    一、系統(tǒng)誤差的分類和對測量結(jié)果的影響
    二、系統(tǒng)誤差的確定和表示
    三、系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)和檢驗
    四、系統(tǒng)誤差的限制和消除
    第五節(jié) 誤差的合成和分配
    一、隨機(jī)誤差的合成
    二、總誤差的臺成
    三、誤差分配和誤差分析
    習(xí)題
   第四章 放射性測量中的統(tǒng)計學(xué)
    第一節(jié) 核衰變數(shù)和計數(shù)的統(tǒng)計分布
    一、核衰變數(shù)的統(tǒng)計分布
    二、計數(shù)的統(tǒng)計分布
    三、計數(shù)的合成
    第二節(jié) 放射性測量的統(tǒng)計誤差
    一、統(tǒng)計誤差及其表示方法
    二、計數(shù)率的統(tǒng)計誤差計算
    三、測量條件的選擇
    四、平均效應(yīng)的統(tǒng)計誤差
    第三節(jié) 放射性測 數(shù)據(jù)的檢驗
    一、兩次測量值差異的檢驗
    二、對一組計數(shù)值的檢驗
    三、分布類型的x2檢驗
    第四節(jié) 探測下限的確定方法
    一、判斷限
    二、探測下限
    三、定量下限
    第五節(jié) 脈沖幅度分辨率
    一、電離的統(tǒng)計漲落
    二、倍增過程統(tǒng)計學(xué)
    第六節(jié) 核脈沖事件的時間間隔分布
    一、相鄰脈沖的時間間隔分布
    二、包括多個脈沖的時間分布
    三、分辨時間和漏計數(shù)校正
    四、脈沖重迭數(shù)的計算
    習(xí) 題
   第五章 最小二乘法和曲線擬合
    第一節(jié)最小二乘法原理
    一、最小二乘法準(zhǔn)則
    二、最小二乘法與最大似然法
    三、殘差平方和
    第二節(jié) 等精度觀測下線性參數(shù)的估計
    一、直線方程
    二、二次三項式函數(shù)
    三、最小二乘估計的精度
    第三節(jié) 一般情況的下線性參數(shù)估計
    一、參數(shù)的估計
    二、參數(shù)和擬合值的精度
    三、擬合優(yōu)度
    第四節(jié) 非線性參數(shù)的估計
    一、高斯牛頓法
    二、麥夸特（Marquardt）法
    三、半線性最小二乘擬合
    第五節(jié) 用最小二乘法作曲線擬合
    一、用多項式作曲線擬合
    二、用正交多項式擬合
    三、用勒讓德多項式擬合
    第六節(jié) 約束條件下的最小二乘擬合
    一、線性約束
    二、一般情況
    第七節(jié) 用樣條函數(shù)作曲線擬合
    一、一般的樣條函數(shù)
    二、三階B－樣條函數(shù)
    習(xí) 題
   第六章 譜數(shù)據(jù)的處理
    第一節(jié) 實驗測量對譜數(shù)據(jù)的影響
    一、實驗誤差影響 分辨函數(shù)
    二、探測效率影響
    三、實驗道寬的影響
    四、本底和干擾因素的影響
    第二節(jié) 連續(xù)譜的解析
    一、問題的提出
    二、常用的方法
    三、響應(yīng)函數(shù)的獲得
    第三節(jié) 穆斯堡爾譜的解析
    一、譜形的解析表達(dá)式
    二、常用的計算方法
    三、對內(nèi)磁場為連續(xù)分布的解譜方法
    四、幾個問題的討論
    第四節(jié) 正電子譜的解析
    一、數(shù)學(xué)模型
    二、按多指數(shù)函數(shù)擬合
    三、按卷積函數(shù)擬合
   第七章 蒙特卡羅方法
    第一節(jié) 引言
    第二節(jié) 偽隨機(jī)數(shù)的產(chǎn)生與檢驗
    一、偽隨機(jī)數(shù)列
    二、偽隨機(jī)數(shù)的產(chǎn)生
    三、偽隨機(jī)數(shù)的檢驗
    第三節(jié) 任意給定分布的隨機(jī)抽樣
    一、離散型隨機(jī)變量的直接抽樣
    二、連續(xù)型隨機(jī)變量的直接抽樣
    三、舍選抽樣法
    四、復(fù)合抽樣法
    五、離散逼近法
    六、幾種重要分布的抽樣
    第四節(jié) 多維隨機(jī)變量的抽樣
    一、直接抽樣方法
    二、條件密度抽樣方法
    三、舍選抽樣法和約束條件抽樣法
    四、離散逼近法
    第五節(jié) 誤差和加速收斂
    一、評價蒙特卡羅實驗的標(biāo)準(zhǔn)
    二、加速收斂原理
    三、重要抽樣方法
    四、分層抽樣方法
    五、相關(guān)方法
    習(xí) 題
   第八章 蒙特卡羅方法應(yīng)用舉例
    第一節(jié) 快中子飛行時間譜儀的模擬
    一、物理圖象
    二、各種因素的細(xì)致考慮及計算
    三、程序框圖和計算結(jié)果
    第二節(jié) Y射線的探測效率估計
    一、幾何效率估算
    二、本征效率估算
    第三節(jié) 中子屏蔽問題
    一、直接模擬法
    二、加權(quán)方法
    三、統(tǒng)計估計法
    習(xí) 題
   參考書目和文獻(xiàn)
   附 錄