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數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)性

數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)性

定　價(jià)：￥9.80

作　者： 曾芷德編著
出版社： 國(guó)防科技大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 數(shù)字系統(tǒng) 自動(dòng)檢測(cè)
ISBN： 9787810241953 出版時(shí)間： 1992-12-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 266頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書介紹了數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)性領(lǐng)域的基本理論和方法。內(nèi)容包括：數(shù)字系統(tǒng)的故障與故障模型、組合電路的路徑敏化一類測(cè)試生成算法、時(shí)序電路的結(jié)構(gòu)測(cè)試與功能測(cè)試方法等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)性》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

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