超大規(guī)模集成電路設(shè)計

定　價：￥10.60

作　者：	（日）樹下行三等著；裴武煥譯
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項：	微電子學(xué)講座
標(biāo)　簽：	超大規(guī)模集成電路邏輯設(shè)計故障測試計算機輔助設(shè)計

ISBN：	9787030024572	出版時間：	1991-12-01	包裝：
開本：	20cm	頁數(shù)：	285頁	字數(shù)：

　　本書從基礎(chǔ)理論到最新發(fā)展，介紹了集成電路設(shè)計中的邏輯設(shè)計與測試技術(shù)。其中包括布爾代數(shù)、邏輯設(shè)計、邏輯模擬、測試系統(tǒng)的生成及易測性設(shè)計。

暫缺《超大規(guī)模集成電路設(shè)計》作者簡介

暫缺《超大規(guī)模集成電路設(shè)計》目錄

掃描二維碼

鄂公網(wǎng)安備 42010302001612號