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計算機測試與控制

計算機測試與控制

定　價：￥3.85

作　者： 李行善編著
出版社： 北京航空航天大學出版社
叢編項：
標　簽： 微型計算機
ISBN： 9787810121453 出版時間： 1990-01-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 299頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書從應用角度全面闡述了采用微型計算機解決測控問題時所涉及的軟、硬件技術(shù)問題。

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