放射性同位素的工業(yè)應(yīng)用

     目錄
   1 基本數(shù)據(jù)和定義
    1.1 符號(hào)
    1.2 同位素技術(shù)中所用的基本定義
    1.3 100種最重要放射性同位素的主要性質(zhì)
    1.4 放射性同位素和同位素制劑的主要性質(zhì)
    1.4.1 放射性同位素的一般性質(zhì)
    1.4.2 密封源的主要性質(zhì)
    l.4.2.1 α輻射源
    1.4.2.2 β輻射源
    1.4.2.3 Υ輻射源
    1.4.2.4 中子源
    1.4.2.5 專用輻射源
   2 核儀器和測量方法
    2.1 核輻射探測器
    2.1.1 氣體電離探測器
    2.1.1.1 電離室
    2.1.l.2 正比計(jì)數(shù)器
    2.1.1.3 GM計(jì)數(shù)管
    2.1.2 半導(dǎo)體探測器
    2.1.3 閃爍探測器
    2.2 輻射測量的基本類型和分析儀器
    2.2.1 計(jì)數(shù)率計(jì)
    2.2.2 定標(biāo)器
    2.2.3 幅度分析器
    2.3 工業(yè)用核測量的基本原理
    2.3.1 輻射源和容器
    2.3.2 工業(yè)環(huán)境中的輻射探測
    2.3.3 工業(yè)應(yīng)用中的測量系統(tǒng)
    2.3.4 測量的統(tǒng)計(jì)誤差
    2.4 核測量確定材料物理特性
    2.4.1 料位高度測定
    2.4.1.1 料位高度（極值）指示
    2.4.1.2 連續(xù)料位高度測量
    2.4.2 密度測量
    2.4.3 輸送量測量
    2.4.4 厚度測量
    2.4.5 包覆層厚度測量
    2.4.6 水分測量
    2.5 手提式核儀器
   3 放射性示蹤技術(shù)
    3.1 一般原理
    3.1.1 研究準(zhǔn)備
    3.1.1.1 示蹤同位素的選擇
    3.1.1.2 測量準(zhǔn)備，同位素需要量的計(jì)算
    3.2 物質(zhì)的鑒別和探傷
    3.2.1 物質(zhì)的鑒別及其運(yùn)動(dòng)的跟蹤
    3.2.2 破裂和泄漏的探測
    3.3 流速測定
    3.3.1 脈沖式示蹤劑注入
    3.3.2 連續(xù)示蹤劑注入
    3.3.3 應(yīng)用實(shí)例
    3.4 工業(yè)過程中物料流的研究
    3.4.1 單元操作的基本原理
    3.4.2 停留時(shí)間分布函數(shù)的測定
    3.4.3 物料流研究的工業(yè)實(shí)例
    3.4.4 混合均勻性研究
    3.5 質(zhì)量或體積和傳質(zhì)的測量
    3.5.1 質(zhì)量或體積的測定
    3.5.2 磨損研究
    3.6 物理和化學(xué)中的示蹤研究
    3.6.1 物理操作中的示蹤劑
    3.6.1.1 分離過程的示蹤
    3.6.1.2 擴(kuò)散
    3.6.1.3 吸附和表面化學(xué)的示蹤研究
    3.6.2 反應(yīng)機(jī)理和動(dòng)力學(xué)研究
    3.6.2.1 同位素交換
    3.6.2.2 中間體和反應(yīng)途徑的研究
    3.6.2.3 借標(biāo)記位置測定研究反應(yīng)途徑
    3.6.2.4 同位素的動(dòng)力學(xué)方法
    3.6.2.5 雙標(biāo)記
    3.7 生物活性化學(xué)物質(zhì)研究中的示蹤劑
    3.7.1 藥劑的藥物動(dòng)力學(xué)和代謝研究
    3.7.1.1 藥物動(dòng)力學(xué)研究
    3.7.1.2 代謝研究
    3.7.2 農(nóng)藥研究中的放射性示蹤技術(shù)
    3.8 放射性同位素年代測定
   4 放射分析法
    4.1 基于與輻射的物理相互作用的分析方法
    4.1.1 基于電離的氣體分析
    4.1.2 基于β吸收和散射的分析
    4.1.3 X射線和γ射線的吸收和散射分析
    4.1.4 同位素X射線熒光分析（IXRF）
    4.1.4.1 理論基礎(chǔ)
    4.1.4.2 儀器
    4.1.4.3 實(shí)際應(yīng)用
    4.1.5 基于中子吸收，散射和慢化的分析方法
    4.1.6 基于穆斯堡爾效應(yīng)的分析
    4.2 活化分析
    4.2.1 理論基礎(chǔ)
    4.2.1.1 中子活化
    4.2.1.2 Υ活化
    4.2.1.3利用帶電粒子測定
    4.2.2 用于活化分析的輻射源
    4.2.3 放射性樣品的測量
    4.2.3.1 探測器
    4.2.3.2 Υ能譜的記錄和估算
    4.2.3.3 化學(xué)分離（破樣方法）
    4.2.4 實(shí)際應(yīng)用
    4.3 示蹤法在分析中的應(yīng)用
    4.3.1 同位素稀釋法
    4.3.1.1 簡單同位素稀釋法
    4.3.1.2 反同位素稀釋法與同位素雙稀釋法
    4.3.1.3 實(shí)際應(yīng)用
    4.3.2 亞化學(xué)計(jì)量同位素稀釋法
    4.3.2.1 金屬鰲合物的溶劑萃取
    4.3.2.2 其它亞化學(xué)計(jì)量分離
    4.3.3 放射性試劑
    4.3.4 放射性滴定
    4.3.4.1 適于作指示劑的放射性同位素
    4.3.4.2 萃取滴定
    4.3.4.3 EDTA滴定
    4.3.4.4 沉淀滴定
    4.3.4.5 氧化還原滴定和酸堿滴定
    4.3.5 放射性層析法
    4.3.5.1 離子交換放射性層析法
    4.3.5.2 萃取放射性層析法
    4.3.5.3 放射性紙上層析法
    4.3.5.4 放射性紙上電泳法
    4.3.5.5 聚焦紙上電泳法
    4.3.5.6 放射性薄層層析法
    4.3.5.7 放射性氣相色譜法
    4.3.6 同位素交換反應(yīng)
   5 核鉆孔地球物理學(xué)
    5.1 天然Υ射線測井
    5.1.1 巖石的地球化學(xué)特性
    5.1.2 方法的理論基礎(chǔ)
    5.1.3 天然Υ射線測井的解釋
    5.1.4 Υ射線法的應(yīng)用
    5.1.5 天然Υ能譜法
    5.2 使用Υ輻射源的方法
    5.2.1 Υ－Υ密度測井
    5.2.1.1 方法和解釋
    5.2.1.2 方法的應(yīng)用
    5.2.2 選擇性Υ－Υ法
    5.2.3 其它Υ－Υ法
    5.2.4 Υ－中子法
    5.3 使用中子源的方法
    5.3.1 基于同位素中子源的方法
    5.3.1.1 傳統(tǒng)中子法
    5.3.1.2 中子－Υ能譜法
    5.3.1.3 中子活化法
    5.3.2 使用中子發(fā)生器的方法
    5.3.2.1 中子非彈性散射的方法（快中子－中子測井）
    5.3.2.2 快中子活化
    5.3.2.3 脈沖中子－中子法
    5.3.2.4 脈沖中子－Υ法
    5.4 測井示蹤技術(shù)
   6 輻射加工技術(shù)
    6.1 輻射物理加工
    6.1.1 物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化
    6.1.1.1 導(dǎo)體
    6.1.1.2 半導(dǎo)體
    6.1.1.3 絕緣體
    6.1.2 核能轉(zhuǎn)換
    6.1.2.1 放射性光源
    6.1.2.2 放射性發(fā)電裝置
    6.1.3 改變介質(zhì)的導(dǎo)電性
    6.1.3.1 消除靜電
    6.1.3.2 放電點(diǎn)火裝置
    6.2 輻射化學(xué)加工
    6.2.1 無機(jī)物
    6.2.1.1 氣體
    6.2.1.2 水和水溶液
    6.2.1.3 無機(jī)離子交換劑
    6.2.2 有機(jī)物
    6.2.2.1 烴類
    6.2.2.2 制備過程
    6.2.2.3 聚合物
    6.3 輻射生物學(xué)加工
    6.3.1 農(nóng)業(yè)和食品工業(yè)中的輻射加工
    6.3.2 藥物和醫(yī)療用品的消毒
    6.4 結(jié)構(gòu)材料的耐輻射性
    6.4.1 無機(jī)材料
    6.4.1.1 空氣
    6.4.1.2 水和水溶液
    6.4.2 聚合物
    6.4.2.1 輻射損傷的主要技術(shù)影響
    6.4.2.2 影響分解的因素
    6.4.3 各種有機(jī)材料
    6.4.3.1 潤滑劑和有機(jī)慢化劑
    6.4.3.2 織物
    6.4.3.3 涂料
    6.4.3.4 粘合劑
    6.4.3.5 離子交換樹脂
    6.4.4 復(fù)合體系
    6.4.4.1 電纜
    6.4.4.2 電子元件
    6.5 輻照工藝
    6.5.1 輻射源
    6.5.2 經(jīng)濟(jì)因素
    6.6 輻照的控制
    6.6.1 硫酸亞鐵（弗利克）劑量測定法
    6.6.2 硫酸鈰劑量測定法
    6.6.3 氯苯劑量測定法
    6.6.4 聚合物劑量計(jì)
    6.6.5 劑量指示計(jì)（監(jiān)測儀）
   7 工業(yè)射線照相法
    7.1 射線照相法的分類
    7.1.1 根據(jù)輻射類型分類
    7.1.2 根據(jù)輻射源能量分類
    7.1.3 根據(jù)缺陷探測方法分類
    7.2 Υ射線照相技術(shù)
    7.2.1 射線照相實(shí)驗(yàn)室
    7.2.2 Υ射線照相的野外檢測
    7.2.3 射線照相的準(zhǔn)備
    7.2.3.1 輻射源的選擇
    7.2.3.2 射線照相布局的設(shè)計(jì)
    7.2.3.3 曝光時(shí)間的確定
    7.2.3.4 射線照相的輔助工序
    7.2.3.5 膠片的加工與處理
    7.3 射線照相的圖像靈敏度
    7.3.1 射線照相靈敏度的量度
    7.3.2 圖像質(zhì)量對(duì)射線照相靈敏度的影響
    7.3.2.1 決定圖像反差的因素
    7.3.2.2 決定輪廓清晰度的因素
    7.3.3 膠片質(zhì)量對(duì)射線照相靈敏度的影響
    7.3.3.1 決定膠片反差的因素
    7.3.3.2 決定膠片輪廓清晰度的因素
    7.4 射線照片的評(píng)價(jià)
    7.4.1 焊接缺陷的測定
    7.4.2 鑄件缺陷的分類與評(píng)價(jià)
    7.5 中子和質(zhì)子射線照相法
    7.6 工業(yè)放射自顯影
    7.6.1 放射自顯影方法的效果
    7.6.1.1 放射自顯影的分辨本領(lǐng)
    7.6.1.2 放射自顯影的靈敏度
    7.6.1.3 放射自顯影的誤差來源
    7.6.2 放射自顯影技術(shù)
    7.6.2.1 樣品制備
    7.6.2.2 用放射性同位素標(biāo)記樣品
    7.6.2.3 乳膠的選擇及處理
    7.6.2.4 放射自顯影的膠片
    7.6.3 定量放射自顯影
    7.6.4 放射自顯影的應(yīng)用
    7.6.4.1 擴(kuò)散過程的研究
    7.6.4.2 熔析研究
    7.6.5 放射自顯影用的固體徑跡探測器
   8 輻射防護(hù)
    8.1 輻射防護(hù)概況
    8.1.1 輻射防護(hù)的任務(wù)
    8.1.2 劑量概念
    8.1.3 劑量限制制度
    8.1.4 劑量率的計(jì)算
    8.1.4.1 空氣中劑量率
    8.1.4.2 屏蔽計(jì)算
    8.1.5 劑量和劑量率的測量
    8.2 防護(hù)方法
    8.2.1 技術(shù)性防護(hù)
    8.2.2 行政管理和組織措施
    8.2.3 放射性物質(zhì)的包裝和運(yùn)輸
    8.2.3.1 包裝
    8.2.3.2 運(yùn)輸
    8.2.4 廢物處理和污染物的去污
    8.3 監(jiān)督方法
    8.3.1 個(gè)人劑量測量
    8.3.1.1 個(gè)人劑量計(jì)
    8.3.1.2 攝入活度的測定
    8.3.2 工作場所監(jiān)測
    8.3.2.1 劑量率測量
    8.3.2.2 表面污染監(jiān)測
    8.3.2.3 空氣監(jiān)測
    8.3.2.4 工業(yè)產(chǎn)品和廢物
    8.3.3 記錄
    8.4 密封源的使用
    8.4.1 密封源的定義和泄漏試驗(yàn)
    8.4.2 密封源的容器
    8.4.3 一般情況
    8.4.3.1 防護(hù)方法
    8.4.3.2 預(yù)備措施
    8.4.3.3 安裝和監(jiān)督
    8.4.3.4 維護(hù)、維修
    8.4.3.5 偶然事件、事故
    8.4.4 特殊要求
    8.4.4.1 工業(yè)核儀器
    8.4.4.2 工業(yè)射線照札
    8.4.4.3 輻射加工技術(shù)
    8.5 非密封放射性物質(zhì)的應(yīng)用
    8.5.1 一般情況
    8.5.1.1 防護(hù)方法
    8.5.1.2 籌劃與設(shè)計(jì)
    8.5.1.3 示蹤物的引入
    8.5.1.4 監(jiān)測
    8.5.1.5 排放物質(zhì)及產(chǎn)品
    8.5.1.6 偶然事件、事故
    8.5.2 特殊要求
    8.5.2.1 示蹤實(shí)驗(yàn)
    8.5.2.2 放射性分析工作
   附錄