納米材料分析

第一章 緒論
1.1 尺寸效應(yīng)
1.2 納米結(jié)構(gòu)功能材料與器件的分子工程研究
1.3 納米結(jié)構(gòu)分析器件
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第二章 掃描隧道顯微術(shù)
2.1 STM基礎(chǔ)知識(shí)
2.2 STM實(shí)驗(yàn)方法
2.3 STM應(yīng)用舉例
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第三章 原子力顯微術(shù)
3.1 AFM基礎(chǔ)知識(shí)
3.2 AFM的不同操作模式
3.3 納米材料研究中的AFM
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第四章 針尖化學(xué)
4.1 針尖化學(xué)的概念
4.2 針尖的化學(xué)修飾方法
4.3 分子間力與表面力
4.4 化學(xué)力滴定
4.5 表面化學(xué)識(shí)別
4.6 表面化學(xué)反應(yīng)的監(jiān)測(cè)
4.7 鍵能與鍵強(qiáng)度的測(cè)定
4.8 化學(xué)反應(yīng)的限域
4.9 單分子性質(zhì)測(cè)定
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第五章 XPS及與其他技術(shù)組合在納米材料分析中的應(yīng)用
5.1 XPS對(duì)Au(111)上4-巰基氫化肉桂酸自組裝膜的表征
5.2 XPS與高分辨透射與掃描電鏡組合對(duì)納米線和納米電纜的表征
5.3 XPS等研究pH對(duì)納米結(jié)晶WO3膜結(jié)構(gòu)和光致變色特性的影響
5.4 角分解XPS(Angle?Resolved XPS,ARXPS)對(duì)自組裝單層(Self Assembled Monolayers,SAMs)的分析
5.5 XPS等對(duì)在引發(fā)劑修飾的SAMs上進(jìn)行聚(CN-異丙基丙烯酸胺)合成的分析
5.6 烷基胺和烷基硫醇對(duì)小Pt納米原子團(tuán)簇的表面修飾：XPS研究有機(jī)配體對(duì)小Pt納米原子團(tuán)簇結(jié)合能的影響
5.7 用XPS峰形分析測(cè)定表面納米結(jié)構(gòu)
5.8 XPS和近邊X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)對(duì)Au和Ag上含硫芳香族自組裝單層結(jié)構(gòu)的分析
5.9 X射線光電子衍射(Xray Photoelectron Diffraction,XPD)對(duì)SiC和AlN外延膜多種類(lèi)型和極化性的研究
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第六章 紫外光電子能譜在納米材料分析中的應(yīng)用
6.1 第一排過(guò)渡金屬和C3原子團(tuán)簇的振動(dòng)分辨光電子能譜：MC-3（M=Sc,V,Cr,Mn,Fe,Co和Ni）
6.2 UPS等對(duì)自組裝有機(jī)/無(wú)機(jī)半導(dǎo)體界面上酞菁鉛電子結(jié)構(gòu)的分析
6.3 光電發(fā)射譜對(duì)單壁碳納米管束的分析
6.4 角分解光電子發(fā)射分析準(zhǔn)一維導(dǎo)體Nb3Te4
6.5 角分解光電子能譜（ARPES）和STM等分析半導(dǎo)體表面上自組織的量子線
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第七章 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜術(shù)、電子能量損失譜和表面擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)等在納米材料分析中的應(yīng)用
7.1 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜術(shù)對(duì)自組裝單層的分析
7.2 電子能量損失譜在納米材料分析中的應(yīng)用
7.3 表面擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜等對(duì)Cu(100)上自組裝納米尺度Fe島結(jié)構(gòu)和磁性的分析
7.4 近邊X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜（NEXAFS）等對(duì)氧化硅納米原子團(tuán)的形態(tài)、光致發(fā)光和電子結(jié)構(gòu)的分析
7.5 XPS等對(duì)Si納米線中表面結(jié)構(gòu)、光致發(fā)光和激發(fā)的比較研究1
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第八章 俄歇電子能譜在納米材料分析中的應(yīng)用
8.1 引言
8.2 俄歇電子能譜原理
8.3 俄歇電子能譜儀的結(jié)構(gòu)
8.4 俄歇電子能譜的實(shí)驗(yàn)技術(shù)
8.5 俄歇電子能譜圖的分析技術(shù)
8.6 俄歇電子能譜在納米材料研究上的應(yīng)用
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第九章 X射線結(jié)構(gòu)分析技術(shù)
9.1 X射線衍射分析基礎(chǔ)
9.2 X射線衍射的基本理論
9.3 X射線衍射裝置和實(shí)驗(yàn)
9.4 X射線衍射分析
9.5 納米材料研究中的XRD分析
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第十章 納米材料的顆粒度分析
10.1 基礎(chǔ)知識(shí)
10.2 粒度分析方法
10.3 粒度分析的樣品制備
10.4 粒度分析在納米材料中的應(yīng)用
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第十一章 電子顯微分析技術(shù)
11.1 透射電鏡（TEM）基礎(chǔ)知識(shí)
11.2 掃描電鏡（SEM）基礎(chǔ)知識(shí)
11.3 電鏡技術(shù)在納米材料研究中的應(yīng)用
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第十二章 振動(dòng)光譜技術(shù)
12.1 振動(dòng)光譜的基本原理
12.2 納米材料的紅外吸收和拉曼散射行為
12.3 幾種典型的振動(dòng)光譜實(shí)驗(yàn)技術(shù)
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