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電子測(cè)試與實(shí)驗(yàn)技術(shù)

電子測(cè)試與實(shí)驗(yàn)技術(shù)

定　價(jià)：￥3.60

作　者： 黃以銘主編
出版社： 人民郵電出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 電子測(cè)量 電子技術(shù)
ISBN： 9787115034274 出版時(shí)間： 1988-03-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 254頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　內(nèi)容為：一、電子測(cè)量技術(shù)，包括測(cè)量方法、誤差分析、電路測(cè)試及常用電子儀器，器件的基本知識(shí)等。二、實(shí)驗(yàn)研究，介紹新型集成器件的實(shí)驗(yàn)技術(shù)，包括一些微機(jī)硬件的功能測(cè)試與使用等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《電子測(cè)試與實(shí)驗(yàn)技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

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