現(xiàn)代干涉測量技術

　　由于科學技術的進步，干涉測量技術已經(jīng)得到相當廣泛的應用。一方面因為微電子、微機械、微光學和現(xiàn)代工業(yè)提出了愈來愈高的精度和更大的量程，其它方法難以勝任；另一方面因為當代干涉測量技術本身具有靈敏度高、量程大、可以適應惡劣環(huán)境、光波和米定義聯(lián)系而容易溯源等特點，因而在現(xiàn)代工業(yè)中應用非常廣泛。目前已經(jīng)有幾個著名廠家的成熟的干涉儀產(chǎn)品，覆蓋了相當大的應用范圍。但是干涉儀畢竟不是一個簡單的工具，沒有一定的理論基礎難以正確使用，何況還有許多新的應用領域有待研究，需要更加深入的理論知識。全國統(tǒng)編教材不可能有很大的篇幅介紹干涉測量技術。本書可作為光學儀器、計量測試、精密儀器等專業(yè)的高年級學生及研究生的教學參考書，同時也可供從事計量測試、儀器設計的工程技術人員參考。參加本書各章編寫的專家和教授都長期在該領域從事科研和教學工作，許多章節(jié)成稿后又請了有關專家審閱。本書是中國計量科學院前院長趙克功博士提出，并取得德國政府和中國國家教育委員會資助的三本教材之一。參編人員曾分兩批赴德參觀訪問和收集資料。本書第二章由張增耀副教授編寫，第三章由朱若谷副教授編寫，第四章由方仲彥教授編寫，第五章一至四節(jié)由郭彥珍教授編寫，第六章由陳耀煌研究員編寫，第七章由徐毓嫻副教授編寫，第九章由徐毅研究員編寫，第十章由王東生教授編寫，第十一章由德國聯(lián)邦物理研究院的P．Becker博士和J．Stuempel博士編寫、徐毓嫻副教授翻譯、郭彥珍教授校對，第十二章由郭繼華副教授編寫，第一章、第八章、第五章的五至六節(jié)、第九章的第二節(jié)由殷純永教授編寫，全書由殷純永教授統(tǒng)稿。最后裘惠孚教授審閱了全書并提出修改意見。因為時間緊迫，本書采用的符號要求每位作者獨立決定，保證每章內(nèi)部的一致性。這樣，不影響讀者的理解。

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