系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計(jì)

第一章緒論
1.1系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計(jì)的意義
1.2系統(tǒng)可靠性的基本概念
1.2.1可靠性與可靠度及可靠度函數(shù)
1.2.2故障率
1.2.3平均故障間隔時(shí)間
1.2.4可維性和可用性的概念
1.2.5安全性的基本概念
1.3系統(tǒng)的壽命分布
1.4系統(tǒng)可靠性模型
1.4.1建立可靠性模型的目的和用途
1.4.2串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性模型
1.4.3并聯(lián)系統(tǒng)的可靠性模型
1.4.4混聯(lián)系統(tǒng)的可靠性模型
1.4.5表決結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的可靠性模型
1.4.6非工作儲(chǔ)備模型(旁聯(lián)模型)
1.5可維修系統(tǒng)的馬爾可夫模型
1.5.1馬爾可夫過(guò)程的基本概念
1.5.2可維修系統(tǒng)的馬爾可夫模型
1.6提高系統(tǒng)可靠性的途徑
1.6.1系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)
1.6.2系統(tǒng)容錯(cuò)設(shè)計(jì)
1.6.3加固設(shè)計(jì)
1.6.4避錯(cuò)技術(shù)
1.7系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計(jì)的內(nèi)容
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題一
第二章元器件的可靠性及其選擇
2.1元器件的失效特征
2.2元器件的失效機(jī)理
2.3元器件的選擇
2.4元器件的篩選
2.4.1元器件篩選的基本概念
2.4.2元器件的篩選方法
2.5電阻器的性能及其選擇
2.5.1電阻器的種類(lèi)和性能
2.5.2電阻器的選擇
2.5.3使用電阻器時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng)
2.6電容器的性能及其選擇
2.6.1電容器的主要性能
2.6.2電容器的等效電路
2.6.3電容器的選擇
2.6.4電容器使用時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng)
2.7繼電器的選擇
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題二
第三章半導(dǎo)體元器件的性能及其選擇
3.1半導(dǎo)體元器件的性能及選擇要求
3.1.1半導(dǎo)體元器件的分類(lèi).性能和應(yīng)用
3.1.2半導(dǎo)體元器件的應(yīng)用要求
3.1.3半導(dǎo)體分立元器件的選擇要求
3.1.4半導(dǎo)體分立元器件的選擇
3.2二極管的性能及其選擇
3.2.1二極管的種類(lèi)
3.2.2二極管的選擇
3.3晶體管的性能及其選擇
3.3.1晶體管的種類(lèi)
3.3.2功率晶體管的選擇
3.3.3小功率晶體管的選擇
3.4場(chǎng)效應(yīng)管的性能及其選擇
3.4.1場(chǎng)效應(yīng)管的類(lèi)型
3.4.2場(chǎng)效應(yīng)管的選擇
3.4.3微波場(chǎng)效應(yīng)管的選擇
3.4.4雙柵場(chǎng)效應(yīng)管的選擇
3.5數(shù)字集成電路的性能及其選擇
3.5.1數(shù)字集成電路的類(lèi)型
3.5.2數(shù)字集成電路的特點(diǎn)
3.5.3數(shù)字集成電路的選擇
3.6模擬集成電路的類(lèi)型及其選擇
3.6.1模擬集成電路的類(lèi)型
3.6.2運(yùn)算放大器的性能及其選擇
3.6.3線性放大器的選擇
3.6.4非線性電路的選擇
3.6.5穩(wěn)壓器的選擇
3.7微處理器.存儲(chǔ)器的選擇
3.7.1微處理器的選擇
3.7.2存儲(chǔ)器的選擇
3.8外圍接口電路的選擇
3.8.1外圍接口電路的類(lèi)型及選擇
3.8.2D／A與A／D轉(zhuǎn)換器的選擇
3.8.3電平轉(zhuǎn)換器與電壓比較器的選擇
3.8.4驅(qū)動(dòng)器的選擇
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題三
第四章系統(tǒng)失效分析
4.1系統(tǒng)失效分析的概念
4.2失效分析的意義.思路與方法
4.3失效分析的一般過(guò)程
4.4失效分析儀器設(shè)備
4.4.1失效分析儀器設(shè)備的分類(lèi)
4.4.2幾種主要的功能測(cè)試分析儀器
4.4.3幾種性能分析測(cè)試儀器
4.4.4表面分析儀器
4.5故障模式影響分析
4.5.1概述
4.5.2故障模式分析
4.5.3分析的方法及其必須掌握的資料
4.5.4故障影響分析
4.5.5FMEA工作步驟
4.6故障模式.影響及危害性分析
4.6.1概述
4.6.2進(jìn)行FMECA的步驟
4.6.3危害性分析法
4.6.4FMECA的過(guò)程
4.6.5應(yīng)用FMECA時(shí)應(yīng)注意的問(wèn)題
4.7故障樹(shù)分析
4.7.1概述
4.7.2故障樹(shù)的基本概念及其符號(hào)
4.7.3故障樹(shù)的建立
4.7.4故障樹(shù)定性分析
4.7.5故障分析中應(yīng)注意的問(wèn)題
4.8事件樹(shù)分析
4.8.1概述
4.8.2事件樹(shù)的建造
4.8.3事件樹(shù)的定量分析
4.8.4事件樹(shù)與故障樹(shù)兩種分析方法的綜合應(yīng)用
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題四
第五章系統(tǒng)可靠性預(yù)計(jì)與指標(biāo)的分配
5.1系統(tǒng)可靠性要求的確定
5.1.1可靠性定性要求
5.1.2可靠性定量要求
5.1.3可靠性要求的確定
5.2系統(tǒng)可靠性模型的建立
5.3電子設(shè)備的可靠性預(yù)計(jì)
5.3.1可靠性預(yù)計(jì)的目的和程序
5.3.2電子設(shè)備的可靠性預(yù)計(jì)的特點(diǎn)
5.3.3電子設(shè)備的可靠性預(yù)計(jì)方法
5.3.4CRT顯示器的可靠性預(yù)計(jì)實(shí)例
5.4機(jī)械產(chǎn)品的可靠性預(yù)計(jì)
5.4.1機(jī)械產(chǎn)品可靠性預(yù)計(jì)的特點(diǎn)
5.4.2機(jī)械產(chǎn)品的可靠性預(yù)計(jì)方法
5.4.3機(jī)械產(chǎn)品的可靠性預(yù)計(jì)實(shí)例
5.5系統(tǒng)的可靠性預(yù)計(jì)
5.5.1系統(tǒng)可靠性預(yù)計(jì)的目的
5.5.2系統(tǒng)的可靠性預(yù)計(jì)方法
5.5.3系統(tǒng)研制階段可靠性預(yù)計(jì)方法的選擇
5.5.4進(jìn)行系統(tǒng)可靠性預(yù)計(jì)時(shí)應(yīng)注意的問(wèn)題
5.6系統(tǒng)的可靠性分配
5.6.1系統(tǒng)可靠性分配的目的
5.6.2可靠性分配的準(zhǔn)則
5.6.3無(wú)約束條件的系統(tǒng)可靠性分配方法
5.6.4有約束條件的系統(tǒng)可靠性分配方法
5.6.5不同研制階段可靠性分配方法的選擇和使用時(shí)應(yīng)注意的問(wèn)題
5.7計(jì)算機(jī)設(shè)備可靠性評(píng)估軟件
5.7.1計(jì)算機(jī)設(shè)備可靠性評(píng)估軟件的功能
5.7.2計(jì)算機(jī)設(shè)備可靠性評(píng)估軟件的特點(diǎn)
5.8計(jì)算機(jī)設(shè)備可靠性評(píng)估軟件的應(yīng)用
5.8.1CRT顯示器可靠性評(píng)估
5.8.2計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可靠性評(píng)估
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題五
第六章系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)
6.1系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)的內(nèi)容及其設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
6.2元器件的降額設(shè)計(jì)
6.3元器件的容差和漂移設(shè)計(jì)
6.3.1容差和漂移設(shè)計(jì)的概念
6.3.2容差和漂移設(shè)計(jì)的方法
6.3.3最壞情況法
6.3.4蒙特卡羅法
6.3.5其他容差和漂移設(shè)計(jì)方法
6.4環(huán)境保護(hù)設(shè)計(jì)
6.4.1環(huán)境保護(hù)設(shè)計(jì)的內(nèi)容
6.4.2環(huán)境因素對(duì)系統(tǒng)可靠性的影響
6.4.3環(huán)境防護(hù)原則
6.4.4耐環(huán)境設(shè)計(jì)措施
6.5系統(tǒng)的熱設(shè)計(jì)
6.6系統(tǒng)的三防設(shè)計(jì)
6.7系統(tǒng)抗振動(dòng)沖擊設(shè)計(jì)
6.8印制板的可靠性設(shè)計(jì)
6.8.1印制電路板可靠性設(shè)計(jì)的目的
6.8.2覆銅箔印制板的選擇
6.8.3印制板上元器件的布局
6.8.4元器件的安裝技術(shù)
6.8.5表面貼裝技術(shù)的應(yīng)用
6.8.6印制板的布線原則與印制導(dǎo)線設(shè)計(jì)
6.9可維性和可用性設(shè)計(jì)
6.9.1可維性設(shè)計(jì)
6.9.2可用性設(shè)計(jì)
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題六
第七章冗余設(shè)計(jì)
7.1冗余設(shè)計(jì)的基本概念
7.1.1冗余設(shè)計(jì)的概念
7.1.2本章介紹的冗余結(jié)構(gòu)
7.1.3冗余系統(tǒng)處理故障的方式
7.2冗余設(shè)計(jì)要考慮的主要問(wèn)題
7.3電路冗余設(shè)計(jì)
7.3.1二倍冗余電路
7.3.2四倍冗余電路
7.4靜態(tài)冗余設(shè)計(jì)
7.4.1三模冗余(TMR)
7.4.2表決技術(shù)
7.4.3三模表決系統(tǒng)的典型應(yīng)用
7.4.4自動(dòng)重構(gòu)容錯(cuò)系統(tǒng)
7.5動(dòng)態(tài)冗余設(shè)計(jì)
7.5.1雙機(jī)比較
7.5.2并聯(lián)結(jié)構(gòu)
7.5.3其他動(dòng)態(tài)冗余技術(shù)
7.6動(dòng)態(tài)冗余中的可重組技術(shù)
7.6.1重組技術(shù)
7.6.2后援備份重組
7.6.3緩慢降級(jí)重組
7.7雙機(jī)容錯(cuò)設(shè)計(jì)的應(yīng)用
7.7.1二模協(xié)同冗余模式在BellESS—2和鐵路交通控制中的應(yīng)用
7.7.2雙機(jī)系統(tǒng)在石油測(cè)井控制與數(shù)據(jù)處理中的應(yīng)用
7.7.3雙機(jī)系統(tǒng)在過(guò)程控制監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用
7.8三模冗余系統(tǒng)設(shè)計(jì)的應(yīng)用
7.8.1航天系統(tǒng)中的三模冗余結(jié)構(gòu)的應(yīng)用
7.8.2航空系統(tǒng)中應(yīng)用的三模冗余結(jié)構(gòu)的應(yīng)用
7.8.3工業(yè)過(guò)程控制與監(jiān)測(cè)系統(tǒng)中的三模冗余結(jié)構(gòu)的應(yīng)用
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題七
第八章系統(tǒng)的電磁兼容性設(shè)計(jì)
8.1電磁兼容性的基本概念
8.2系統(tǒng)的電磁干擾
8.3電磁干擾的耦合方式
8.4電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)
8.5濾波和屏蔽技術(shù)
8.5.1濾波器
8.5.2鐵氧體磁珠濾波器
8.5.3電磁屏蔽
8.6電磁干擾的隔離和控制
8.6.1光電隔離
8.6.2繼電器隔離
8.6.3變壓器隔離
8.6.4布線隔離
8.7雷擊與靜電的危害及其防護(hù)
8.7.1雷擊危害及其防護(hù)
8.7.2靜電危害及其防護(hù)
8.8系統(tǒng)的接地技術(shù)
8.8.1接地的基本概念
8.8.2接地干擾的產(chǎn)生原因及其危害
8.8.3工作地
8.8.4安全地
8.8.5屏蔽地
8.8.6微機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)接地技術(shù)
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題八
第九章系統(tǒng)的防電磁泄漏設(shè)計(jì)
9.1計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的電磁泄漏
9.2系統(tǒng)的電磁泄漏特性
9.3系統(tǒng)輻射信息的接收與測(cè)試
9.3.1對(duì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)輻射信息的接收與恢復(fù)
9.3.2測(cè)試計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)泄漏電磁信息的儀器
9.3.3對(duì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)備輻射泄漏的測(cè)量
9.3.4對(duì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)備傳導(dǎo)泄漏的測(cè)量
9.4TEMPEST技術(shù)
9.5計(jì)算機(jī)的防電磁泄漏設(shè)計(jì)
9.6外圍設(shè)備的防電磁泄漏設(shè)計(jì)
9.7計(jì)算機(jī)設(shè)備的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)
9.8發(fā)展我國(guó)TEMPEST技術(shù)的措施
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題九
第十章系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃栽O(shè)計(jì)
10.1數(shù)據(jù)傳輸差錯(cuò)的自檢與校正
10.1.1數(shù)據(jù)傳輸?shù)闹饕收?br />10.1.2傳輸故障的解決辦法
10.1.3編碼檢錯(cuò)與糾錯(cuò)的有關(guān)概念
10.2系統(tǒng)信息的差錯(cuò)自檢與校正裝置
10.2.1自檢校驗(yàn)裝置
10.2.2編碼檢錯(cuò)與糾錯(cuò)能力
10.2.3奇偶校驗(yàn)樹(shù)
10.3奇偶校驗(yàn)錯(cuò)及糾錯(cuò)
10.3.1奇偶校驗(yàn)在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的應(yīng)用
10.3.2自動(dòng)定位糾錯(cuò)功能的擴(kuò)充
10.4多重校驗(yàn)檢錯(cuò)及校正
10.4.1多重校驗(yàn)的原理
10.4.2多重校驗(yàn)的應(yīng)用
10.5海明校驗(yàn)檢錯(cuò)及校正
10.5.1海明校驗(yàn)的原理
10.5.2海明校驗(yàn)的實(shí)現(xiàn)
10.5.3海明校驗(yàn)的應(yīng)用
10.6循環(huán)冗余校檢錯(cuò)與糾錯(cuò)
10.7數(shù)字傳輸信道的抗干擾設(shè)計(jì)
10.7.1開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)抖動(dòng)的抑制
10.7.2負(fù)邏輯傳輸數(shù)字信號(hào)
10.7.3提高輸入端門(mén)限電壓
10.7.4線間串?dāng)_的抑制
10.7.5提高數(shù)字信號(hào)的電壓等級(jí)
10.8容錯(cuò)條件下的故障處理
10.8.1計(jì)算機(jī)中的校錯(cuò)中斷
10.8.2容錯(cuò)情況下的故障處理
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題十
第十一章軟件可靠性設(shè)計(jì)
11.1軟件可靠性的概念與軟件可靠性技術(shù)
11.1.1軟件危機(jī)
11.1.2軟件可靠性的概念
11.1.3軟件可靠性技術(shù)
11.2軟件可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)
11.2.1軟件的一般研制過(guò)程
11.2.2軟件可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)
11.2.3匯編語(yǔ)言程序設(shè)計(jì)技巧和避錯(cuò)方法
11.2.4軟件的設(shè)計(jì)管理技術(shù)
11.3軟件正確性驗(yàn)證
11.4軟件容錯(cuò)設(shè)計(jì)技術(shù)
11.4.1軟件容錯(cuò)的概念及基本原理
11.4.2軟件容錯(cuò)設(shè)計(jì)基本技術(shù)
11.4.3容錯(cuò)算法的設(shè)計(jì)
11.4.4接口軟件的容錯(cuò)設(shè)計(jì)
11.4.5容錯(cuò)軟件常用方法
11.5信息保護(hù)技術(shù)
11.5.1信息保護(hù)技術(shù)概述
11.5.2內(nèi)存和外存的保護(hù)
11.5.3身份鑒別與口令
11.5.4信息編碼與加密
11.6防火墻技術(shù)
11.6.1設(shè)置防火墻的目的和作用
11.6.2防火墻的類(lèi)型
11.6.3防火墻的安全體系結(jié)構(gòu)
11.6.4防火墻的發(fā)展趨勢(shì)
11.7軟件可靠性模型
11.7.1概述
11.7.2杰林斯基—莫洛達(dá)模型
11.7.3葛爾-奧肯莫特的NHPP模型
11.7.4LittleWood貝葉斯排錯(cuò)模型
11.7.5軟件可靠性模型的應(yīng)用
11.8軟件的錯(cuò)誤分析及其測(cè)試
11.8.1軟件錯(cuò)誤的特征
11.8.2軟件錯(cuò)誤的分類(lèi)
11.8.3軟件錯(cuò)誤測(cè)試方法
11.8.4軟件錯(cuò)誤測(cè)試工具
11.9軟件可維性設(shè)計(jì)
11.9.1軟件的可維性
11.9.2改正性維護(hù)設(shè)計(jì)
11.9.3改造性維護(hù)設(shè)計(jì)
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題十一
第十二章系統(tǒng)可測(cè)試性設(shè)計(jì)
12.1系統(tǒng)可測(cè)試性的概念
12.1.1計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的測(cè)試
12.1.2故障可測(cè)試性
12.1.3系統(tǒng)故障的診斷測(cè)試
12.1.4測(cè)試的評(píng)價(jià)
12.2邏輯模擬與故障辭典
12.2.1邏輯模擬
12.2.2故障模擬
12.2.3數(shù)字模擬
12.2.4故障辭典
12.3改善系統(tǒng)可測(cè)試性的基本方法
12.3.1改善邏輯的可控性
12.3.2改善電路故障的可觀性
12.3.3改善系統(tǒng)和電路可測(cè)性
12.4通路敏化與故障定位測(cè)試法
12.4.1通路敏化的概念
12.4.2測(cè)試碼的生成
12.4.3故障定位測(cè)試方法
12.5臨界通路敏化法
12.6D算法
12.6.1D算法的原理
12.6.2D算法的過(guò)程
12.6.3D算法的應(yīng)用
12.7因果函數(shù)分析法
12.7.1因果函數(shù)及其主要性質(zhì)
12.7.2Paoge法
12.7.3Bossen法
12.8機(jī)內(nèi)自測(cè)試設(shè)計(jì)
12.8.1內(nèi)建自測(cè)試設(shè)備
12.8.2BITE的結(jié)構(gòu)
12.8.3測(cè)試點(diǎn)的選擇和評(píng)價(jià)
本章小結(jié)
習(xí)題與思考題十二
附錄
附錄一元器件降額標(biāo)準(zhǔn)
附錄二計(jì)算機(jī)設(shè)備可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
附錄三武器裝備可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
主要參考文獻(xiàn)