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片上系統(tǒng):可重用設(shè)計(jì)方法學(xué)

片上系統(tǒng):可重用設(shè)計(jì)方法學(xué)

定 價(jià):¥35.00

作 者: (美)Michael Keating,(美)Pierre Bricaud著;沈戈[等]譯;沈戈譯
出版社: 電子工業(yè)出版社
叢編項(xiàng): 國(guó)外電子與通信教材系列
標(biāo) 簽: 電路設(shè)計(jì)

ISBN: 9787505393387 出版時(shí)間: 2004-05-01 包裝: 簡(jiǎn)裝本
開(kāi)本: 24cm 頁(yè)數(shù): 226 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書(shū)是VSIA(VirtualSocketInterfaceAlliance,虛擬插件接口聯(lián)盟)發(fā)布相關(guān)設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)的主要參考書(shū)目之一。在我們第一次拜讀了本書(shū)的英文版后,就一直遵循著書(shū)中提供的片上系統(tǒng)可重用設(shè)計(jì)方法進(jìn)行我們自己的設(shè)計(jì),并取得了很好的效果。本書(shū)所涉及的相關(guān)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)非常有助于國(guó)內(nèi)廣大集成電路設(shè)計(jì)者進(jìn)行相應(yīng)的設(shè)計(jì)。本書(shū)指出許多片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)中常遇到的問(wèn)題并提出了對(duì)應(yīng)的解決方案,通過(guò)遵循書(shū)中所提到的設(shè)計(jì)規(guī)則,設(shè)計(jì)者可以在設(shè)計(jì)過(guò)程中避免許多類似問(wèn)題的發(fā)生。對(duì)全文的翻譯結(jié)合了我們?cè)谄舷到y(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)踐中使用本書(shū)的經(jīng)驗(yàn),譯者相信本書(shū)一定能使設(shè)計(jì)者在設(shè)計(jì)過(guò)程中受益匪淺。書(shū)中的設(shè)計(jì)規(guī)則易于理解,在很大程度上覆蓋了ASIC設(shè)計(jì)的各個(gè)方面,并且從設(shè)計(jì)應(yīng)用的角度描述了如何完成one-pass-tapeout。書(shū)中的設(shè)計(jì)規(guī)則并未涉及全定制設(shè)計(jì)的一些方面,比如鎖存器的設(shè)計(jì)等,但是規(guī)則的大部分可以用來(lái)指導(dǎo)進(jìn)行全定制設(shè)計(jì)且有利于全定制設(shè)計(jì)的復(fù)用。本書(shū)講述了片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)中可重用設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過(guò)程所需注意的各種規(guī)則,這些規(guī)則都基于作者在進(jìn)行片上系統(tǒng)可重用設(shè)計(jì)時(shí)的切身體會(huì),同時(shí)也是許多IC公司在進(jìn)行可重用設(shè)計(jì)時(shí)所遵循的。雖然隨著工藝和電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具的不斷發(fā)展,可重用設(shè)計(jì)方法也會(huì)隨之不斷進(jìn)步,但是本書(shū)所講述的方法卻是可重用設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)并會(huì)在將來(lái)的可重用設(shè)計(jì)中繼續(xù)被遵循。本書(shū)是SoC設(shè)計(jì)方面的一本經(jīng)典著作。書(shū)中許多有關(guān)基于IP核的SoC設(shè)計(jì)方法的基本概念已被VSIA國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織引用。本書(shū)內(nèi)容主要取材于作者在集成電路設(shè)計(jì)工程方面的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和理論。全書(shū)共13章,前5章從SoC設(shè)計(jì)的基本概念出發(fā),介紹了片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程、系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)問(wèn)題(包括規(guī)則和工具)、核設(shè)計(jì)過(guò)程、RTL編碼指南等方面的基礎(chǔ)知識(shí)。然后進(jìn)一步詳細(xì)講解了SoC設(shè)計(jì)實(shí)踐方面的方法。在IP核綜合指南、IP核驗(yàn)證指南、開(kāi)發(fā)硬IP核、IP核的配置、針對(duì)可重用設(shè)計(jì)的封裝、用可重用IP核的集成、系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證、數(shù)據(jù)和項(xiàng)目管理等方面系統(tǒng)闡述了SoC可重用設(shè)計(jì)方法學(xué)在集成電路設(shè)計(jì)實(shí)踐中的應(yīng)用方法。最后以國(guó)際著名集成電路設(shè)計(jì)公司的SoC設(shè)計(jì)實(shí)踐活動(dòng)為例,講述了當(dāng)今最先進(jìn)的SoC設(shè)計(jì)方面的技術(shù)。本書(shū)可作為微電子類、電子工程類、計(jì)算機(jī)圖形圖像處理類本科生、研究生的專業(yè)課程教學(xué)用教材,也可供從事集成電路設(shè)計(jì)、電子技術(shù)、電氣工程和計(jì)算機(jī)工程方面的工程技術(shù)人員學(xué)習(xí)參考。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《片上系統(tǒng):可重用設(shè)計(jì)方法學(xué)》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

第1章  引言
 1.1  本書(shū)的目標(biāo)
 1.2  可重用設(shè)計(jì)中的挑戰(zhàn)
 1.3  可重用設(shè)計(jì)方法所帶來(lái)的新商業(yè)模式
 第2章  片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程
 2.1  SoC設(shè)計(jì)范例
 2.2  系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程
 2.3  規(guī)范的制定
 2.4  系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程
 第3章  系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)問(wèn)題:規(guī)則和工具
 3.1  標(biāo)準(zhǔn)模型
 3.2  時(shí)序收斂設(shè)計(jì):邏輯設(shè)計(jì)問(wèn)題
 3.3  時(shí)序收斂設(shè)計(jì):物理設(shè)計(jì)問(wèn)題
 3.4  可驗(yàn)證設(shè)計(jì):驗(yàn)證策略
 3.5  系統(tǒng)內(nèi)部互連和片上總線
 3.6  可啟動(dòng)和可調(diào)試設(shè)計(jì):片上調(diào)試結(jié)構(gòu)
 3.7  低功耗設(shè)計(jì)
 3.8  可測(cè)性設(shè)計(jì):生產(chǎn)測(cè)試策略
 3.9  可重用的必要條件
 第4章  核設(shè)計(jì)過(guò)程
 4.1  IP設(shè)計(jì)概述
 4.2  關(guān)鍵特征
 4.3  規(guī)劃和制定規(guī)范
 4.4  核設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
 4.5  軟核生產(chǎn)
 第5章  RTL編碼指南
 5.1  編碼指南概述
 5.2  基本編碼方法
 5.3  可移植性編碼
 5.4  時(shí)鐘和Reset信號(hào)設(shè)計(jì)指南
 5.5  可綜合性編碼
 5.6  可綜合劃分
 5.7  帶有存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)
 5.8  代碼分析
 第6章  IP核綜合指南
 6.1  綜合問(wèn)題概述
 6.2  IP核綜合策略
 6.3  物理綜合
 6.4  RAM和數(shù)據(jù)通路產(chǎn)生器
 6.5  綜合腳本編碼指南
 第7章  IP核驗(yàn)證指南
 7.1  IP核驗(yàn)證概述
 7.2  檢查的重要性
 7.3  反向測(cè)試
 7.4  測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)
 7.5  驗(yàn)證模塊的設(shè)計(jì)
 7.6  達(dá)到100%覆蓋率
 7.7  時(shí)序驗(yàn)證
 第8章  硬核的設(shè)計(jì)方法
 8.1  概述
 8.2  硬核設(shè)計(jì)中存在的問(wèn)題
 8.3  硬核設(shè)計(jì)流程
 8.4  硬核的設(shè)計(jì)
 8.5  硬核的模型建立
 8.6  硬核的移植
 第9章  IP核的配置:針對(duì)可重用設(shè)計(jì)的封裝
 9.1  完整產(chǎn)品的交付
 9.2  用戶指南
 第10章  可重用IP核的系統(tǒng)集成
 10.1  集成概述
 10.2  片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)中IP核的集成
 10.3  IP核的選擇
 10.4  存儲(chǔ)器的集成
 10.5  物理設(shè)計(jì)
 第11章  系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證
 11.1  驗(yàn)證的重要性
 11.2  驗(yàn)證方案
 11.3  接口驗(yàn)證
 11.4  功能驗(yàn)證
 11.5  隨機(jī)測(cè)試
 11.6  基于應(yīng)用程序的驗(yàn)證
 11.7  門級(jí)驗(yàn)證
 11.8  針對(duì)系統(tǒng)驗(yàn)證的特殊硬件設(shè)備
 第12章  數(shù)據(jù)和項(xiàng)目管理
 12.1  數(shù)據(jù)管理
 12.2  項(xiàng)目管理
 第13章  可重用SoC設(shè)計(jì)實(shí)例
 13.1  阿爾卡特公司
 13.2  Atmel
 13.3  英飛凌科技
 13.4  LSI Logic公司
 13.5  Philips Semiconductor
 13.6  意法半導(dǎo)體
 13.7  結(jié)束語(yǔ)

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