數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)方法與應(yīng)用：世紀(jì)新版

第1章　數(shù)字萬(wàn)用表概述　1
1.1　數(shù)字萬(wàn)用表的主要特點(diǎn)　1
1.2　數(shù)字萬(wàn)用表的基本構(gòu)成　4
1.2.1　普通數(shù)字萬(wàn)用表的基本構(gòu)成　4
1.2.2　單片數(shù)字萬(wàn)用表的基本構(gòu)成　5
1.2.3　智能數(shù)字萬(wàn)用表的基本構(gòu)成　5
1.3　數(shù)字萬(wàn)用表的產(chǎn)品分類(lèi)　6
1.3.1　按照量程轉(zhuǎn)換方式分類(lèi)　6
1.3.2　按照用途及功能分類(lèi)　7
1.4　數(shù)字萬(wàn)用表典型產(chǎn)品介紹　8
1.4.1　DT890D型數(shù)字萬(wàn)用表的性能特點(diǎn)　8
1.4.2　DT890D型數(shù)字萬(wàn)用表的主要技術(shù)指標(biāo)　8
第2章　數(shù)字萬(wàn)用表基本測(cè)量原理及應(yīng)用　10
2.1　測(cè)量直流電壓　10
2.2　測(cè)量交流電壓　11
2.3　測(cè)量電流　12
2.4　測(cè)量電阻　13
2.4.1　用比例法測(cè)量常規(guī)電阻　13
2.4.2　測(cè)量高阻的電路　14
2.5　測(cè)量電導(dǎo)　16
2.5.1　測(cè)量電導(dǎo)的基本原理　16
2.5.2　數(shù)字電導(dǎo)表的電路工作原理　16
2.6　測(cè)量電容　17
2.7　測(cè)量頻率　19
2.8　測(cè)量二極管　20
2.9　測(cè)量晶體管hFE　21
2.10　測(cè)量溫度　22
2.10.1　測(cè)溫電橋的工作原理　22
2.10.2　測(cè)量注意事項(xiàng)　24
2.11　檢測(cè)線(xiàn)路通斷　24
第3章　數(shù)字萬(wàn)用表的使用注意事項(xiàng)　26
3.1　使用前的注意事項(xiàng)　26
3.2　測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng)　28
3.3　其他使用注意事項(xiàng)　32
第4章　用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)常用元器件的方法　34
4.1　檢測(cè)二極管并區(qū)分硅管與鍺管的方法　34
4.1.1　判定二極管的正、負(fù)極　34
4.1.2　區(qū)分硅管與鍺管　35
4.1.3　使用注意事項(xiàng)　35
4.2　檢測(cè)整流橋的方法　36
4.2.1　檢測(cè)整流橋的方法　36
4.2.2　注意事項(xiàng)　37
4.3　檢測(cè)變?nèi)荻O管的方法　37
4.3.1　變?nèi)荻O管的構(gòu)造原理　37
4.3.2　檢測(cè)變?nèi)荻O管的方法　38
4.3.3　注意事項(xiàng)　39
4.4　識(shí)別肖特基二極管的方法　39
4.4.1　肖特基二極管的工作原理　40
4.4.2　識(shí)別肖特基二極管的方法　41
4.4.3　注意事項(xiàng)　41
4.5　檢測(cè)晶體管并區(qū)分硅管與鍺管的方法　41
4.5.1　判定基極　42
4.5.2　鑒別NPN管與PNP管　42
4.5.3　判定集電極和發(fā)射極，同時(shí)測(cè)量hFE值　42
4.5.4　注意事項(xiàng)　43
4.6　利用復(fù)測(cè)法消除hFE擋測(cè)量誤差的方法　43
4.6.1　hFE擋測(cè)量誤差的分析　43
4.6.2　利用復(fù)測(cè)法消除hFE擋的測(cè)量誤差　44
4.7　擴(kuò)展電阻擋測(cè)量范圍的方法　44
4.7.1　擴(kuò)展電阻擋測(cè)量范圍的簡(jiǎn)便方法　44
4.7.2　注意事項(xiàng)　45
4.8　利用hFE擋應(yīng)急測(cè)量電阻的方法　45
4.9　檢測(cè)場(chǎng)效應(yīng)管的方法　46
4.9.1　檢測(cè)結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管　46
4.9.2　估測(cè)絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管的跨導(dǎo)　49
4.10　檢測(cè)VMOS管的方法　49
4.10.1　VMOS管的結(jié)構(gòu)　50
4.10.2　檢測(cè)VMOS管的方法　50
4.10.3　注意事項(xiàng)　50
4.11　檢測(cè)單結(jié)晶體管的方法　51
4.11.1　判定單結(jié)管的電極　52
4.11.2　檢查單結(jié)管的觸發(fā)能力，兼區(qū)分B1、B2極　52
4.11.3　測(cè)量單結(jié)晶體管的分壓比　53
4.12　檢測(cè)晶閘管的方法　53
4.12.1　判定晶閘管的電極　54
4.12.2　檢查晶閘管的觸發(fā)能力　54
4.12.3　注意事項(xiàng)　55
4.13　檢測(cè)雙向晶閘管的方法　55
4.13.1　判定雙向晶閘管的電極　56
4.13.2　檢查雙向晶閘管的觸發(fā)能力　56
4.13.3　注意事項(xiàng)　57
4.14　估測(cè)電容器容量的方法　57
4.14.1　直接測(cè)量法　57
4.14.2　間接測(cè)量法　58
4.15　檢查電解電容器的方法　59
4.15.1　測(cè)量方法　60
4.15.2　注意事項(xiàng)　60
4.16　檢查壓電陶瓷片的方法　60
4.16.1　壓電陶瓷片的性能特點(diǎn)　60
4.16.2　用數(shù)字萬(wàn)用表檢查壓電陶瓷片的方法　60
4.17　檢測(cè)普通發(fā)光二極管的方法　61
4.17.1　用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)單色發(fā)光二極管的方法　62
4.17.2　用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)變色發(fā)光二極管的方法　63
4.18　檢測(cè)藍(lán)光、白光發(fā)光二極管的方法　64
4.18.1　藍(lán)光LED的性能特點(diǎn)及檢測(cè)方法　65
4.18.2　白光LED的性能特點(diǎn)及檢測(cè)方法　66
4.19　檢測(cè)閃爍發(fā)光二極管的方法　67
4.20　檢測(cè)LED數(shù)碼管的方法　68
4.21　檢查液晶顯示器的方法　71
4.21.1　液晶顯示器的性能特點(diǎn)與工作原理　71
4.21.2　用數(shù)字萬(wàn)用表檢查液晶顯示器的方法　72
4.22　檢測(cè)光耦合器的方法　73
4.22.1　光耦合器的類(lèi)型及性能特點(diǎn)　74
4.22.2　利用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)光耦合器的方法　75
4.23　檢測(cè)固態(tài)繼電器的方法　76
4.23.1　固態(tài)繼電器的工作原理　76
4.23.2　檢測(cè)固態(tài)繼電器的方法　77
4.24　精確測(cè)量表頭內(nèi)阻的方法　78
4.25　檢測(cè)CMOS模擬開(kāi)關(guān)的方法　79
4.25.1　CMOS模擬開(kāi)關(guān)的工作原理　79
4.25.2　用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)模擬開(kāi)關(guān)　81
4.26　檢測(cè)磁珠的方法　81
4.26.1　磁珠的基本工作原理　81
4.26.2　磁珠在開(kāi)關(guān)電源中的典型應(yīng)用　83
4.26.3　用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)磁珠的方法　84
4.27　檢測(cè)數(shù)字電位器的方法　85
4.27.1　數(shù)字電位器的主要特點(diǎn)及產(chǎn)品分類(lèi)　85
4.27.2　數(shù)字電位器的工作原理與典型應(yīng)用　86
4.27.3　數(shù)字電位器的誤差分析與檢測(cè)方法　88
4.28　檢測(cè)數(shù)字電容器的方法　90
4.28.1　X90100型數(shù)字電容器的主要特點(diǎn)　90
4.28.2　X90100型數(shù)字電容器的原理與應(yīng)用　90
4.28.3　數(shù)字電容器的檢測(cè)方法　92
第5章　數(shù)字萬(wàn)用表的應(yīng)用　93
5.1　給數(shù)字萬(wàn)用表增加自動(dòng)關(guān)機(jī)功能　93
5.1.1　自動(dòng)關(guān)機(jī)電路的工作原理　93
5.1.2　改裝方法　94
5.1.3　注意事項(xiàng)　95
5.2　提高數(shù)字萬(wàn)用表穩(wěn)定性的方法　95
5.2.1　用外部穩(wěn)壓管來(lái)提高基準(zhǔn)電壓的穩(wěn)定性　95
5.2.2　用外部基準(zhǔn)電壓源來(lái)提高基準(zhǔn)電壓的穩(wěn)定性　96
5.3　改善數(shù)字萬(wàn)用表頻率特性的方法　99
5.3.1　利用高頻探頭改善數(shù)字萬(wàn)用表的頻率特性　99
5.3.2　注意事項(xiàng)　100
5.3.3　改裝前后數(shù)字萬(wàn)用表的頻率特性對(duì)照　101
5.4　數(shù)字萬(wàn)用表的單電源/雙電源轉(zhuǎn)換電路　101
5.4.1　利用CMOS門(mén)電路產(chǎn)生-5V電源　101
5.4.2　利用ICL7660產(chǎn)生-5V電源　102
5.4.3　正負(fù)壓連續(xù)可調(diào)、對(duì)稱(chēng)輸出的穩(wěn)壓電源　104
5.5　數(shù)字萬(wàn)用表電源適配器及電源模塊　104
5.5.1　數(shù)字萬(wàn)用表電源適配器　105
5.5.2　智能數(shù)字萬(wàn)用表電源模塊　107
5.6　提高電壓擋靈敏度的方法　110
5.6.1　ICL7650的性能簡(jiǎn)介　110
5.6.2　由ICL7650構(gòu)成的前置放大電路　111
5.7　擴(kuò)展電壓擋測(cè)量范圍的簡(jiǎn)便方法　112
5.7.1　利用分壓電阻擴(kuò)展電壓量程　112
5.7.2　利用外部分壓器擴(kuò)展電壓量程　113
5.8　測(cè)量高內(nèi)阻信號(hào)源電壓的方法　113
5.9　測(cè)量真有效值電壓的方法　114
5.9.1　真有效值數(shù)字儀表的基本原理　115
5.9.2　單片真有效值/直流轉(zhuǎn)換器的產(chǎn)品分類(lèi)　116
5.9.3　真有效值數(shù)字電壓表的實(shí)用電路　117
5.10　減小真有效值數(shù)字電壓表交流誤差的方法　119
5.10.1　增大平均電容CAV的容量　120
5.10.2　增加后置濾波器　120
5.11　多量程真有效值數(shù)字電壓表　121
5.12　測(cè)量真有效值電平的方法　122
5.12.1　電平的測(cè)量　122
5.12.2　由AD536A構(gòu)成的真有效值數(shù)字電平表　123
5.12.3　由AD637構(gòu)成的真有效值數(shù)字電平表　124
5.13　多量程真有效值數(shù)字電壓/電平表　124
5.14　單片真有效值/直流轉(zhuǎn)換器的使用技巧　125
5.14.1　給AD737增加測(cè)量電平的功能　125
5.14.2　利用兩片AD637完成求矢量和的運(yùn)算　126
5.14.3　提高測(cè)量準(zhǔn)確度的方法　127
5.15　數(shù)字萬(wàn)用表的保護(hù)電路　127
5.15.1　電流擋的保護(hù)電路　127
5.15.2　電壓擋的保護(hù)電路　128
5.15.3　電阻擋的保護(hù)電路　129
5.15.4　二極管擋的保護(hù)電路　130
5.15.5　電容擋的保護(hù)電路　130
5.15.6　頻率擋的保護(hù)電路　131
5.15.7　電導(dǎo)擋的保護(hù)電路　131
5.16　給數(shù)字萬(wàn)用表增加液晶條圖顯示功能　131
5.16.1　多重液晶顯示儀表專(zhuān)用集成電路的分類(lèi)　132
5.16.2　ICL7182型高分辨率液晶條圖A/D轉(zhuǎn)換器　132
5.16.3　多重?cái)?shù)字/液晶條圖顯示儀表的電路設(shè)計(jì)　134
5.17　給數(shù)字萬(wàn)用表增加LED條圖顯示功能　136
5.17.1　LM3914型LED條圖驅(qū)動(dòng)器　136
5.17.2　高精度100段LED條圖顯示儀表　137
5.18　利用數(shù)字萬(wàn)用表的單片A/D轉(zhuǎn)換器完成運(yùn)算功能　138
5.18.1　做乘法、除法及倒數(shù)運(yùn)算　138
5.18.2　做加法、減法運(yùn)算　139
5.18.3　典型應(yīng)用實(shí)例　139
5.18.4　使用注意事項(xiàng)　140
5.19　檢查數(shù)字萬(wàn)用表A/D轉(zhuǎn)換器的方法　140
5.19.1　ICL7106的功能檢查(200mV量程)　140
5.19.2　ICL7107的功能檢查(200mV量程)　141
5.19.3　MCl4433的功能檢查(2V量程)　142
5.20　智能數(shù)字萬(wàn)用表A/D轉(zhuǎn)換器的特殊應(yīng)用　142
5.20.1　MAX134的典型應(yīng)用　142
5.20.2　MAX134的特殊應(yīng)用　145
5.21　給數(shù)字萬(wàn)用表增加讀數(shù)保持功能　146
5.21.1　給ICL7106增加讀數(shù)保持功能　146
5.21.2　給ICL7107增加讀數(shù)保持功能　147
5.21.3　MCl4433的讀數(shù)保持電路　147
5.21.4　其他單片A/D轉(zhuǎn)換器的讀數(shù)保持電路　147
5.22　給數(shù)字萬(wàn)用表增加峰值保持功能　148
5.22.1　最大讀數(shù)保持電路　148
5.22.2　峰值保持電路　148
5.23　給數(shù)字萬(wàn)用表增加自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程功能　149
5.24　給數(shù)字萬(wàn)用表增加超量程閃爍報(bào)警功能　151
5.25　給數(shù)字萬(wàn)用表增加電池低電壓檢測(cè)電路　152
5.25.1　由異或門(mén)構(gòu)成的電池低電壓檢測(cè)電路　152
5.25.2　由晶體管構(gòu)成的低電壓檢測(cè)電路　153
5.26　給數(shù)字萬(wàn)用表增加電池測(cè)試電路　153
5.27　利用數(shù)字萬(wàn)用表兼作信號(hào)發(fā)生器　154
5.27.1　常見(jiàn)數(shù)字萬(wàn)用表中的信號(hào)源　154
5.27.2　使用注意事項(xiàng)　156
5.28　給數(shù)字萬(wàn)用表增加方波信號(hào)發(fā)生器　156
5.28.1　50Hz方波信號(hào)發(fā)生器　157
5.28.2　兩級(jí)反相式阻容振蕩器　157
5.28.3　頻率連續(xù)可調(diào)的方波信號(hào)發(fā)生器　158
5.28.4　方波信號(hào)發(fā)生器的特殊應(yīng)用　159
5.29　給數(shù)字萬(wàn)用表增加占空比可調(diào)的矩形波信號(hào)發(fā)生器　160
5.29.1　由門(mén)電路構(gòu)成占空比可調(diào)的振蕩器　160
5.29.2　由定時(shí)器構(gòu)成占空比可調(diào)的振蕩器　161
5.30　利用石英晶體振蕩器來(lái)提高時(shí)鐘頻率的穩(wěn)定性　162
5.30.1　石英晶體的工作原理　162
5.30.2　晶振電路的工作原理　163
5.31　給數(shù)字萬(wàn)用表增加秒基準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器　164
5.31.1　由CD4060構(gòu)成的秒基準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器　164
5.31.2　由石英鐘表集成電路構(gòu)成的秒基準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器　165
5.32　利用頻率合成技術(shù)獲取多種晶振頻率的方法　166
5.33　3 1/2位數(shù)字電壓表的印制板設(shè)計(jì)　168
5.33.1　MAX139的印制板設(shè)計(jì)　168
5.33.2　ICL7106和ICL7116的印制板設(shè)計(jì)　170
5.33.3　ICL7107與ICL7117的印制板設(shè)計(jì)　171
5.33.4　MCl4433的印制板設(shè)計(jì)　173
5.34　數(shù)字萬(wàn)用表的印制板設(shè)計(jì)　174
5.34.1　3 3/4位數(shù)字萬(wàn)用表的印制板　174
5.34.2　3 1/2位數(shù)字萬(wàn)用表的印制板　175
5.35　利用鎖相時(shí)鐘提高數(shù)字萬(wàn)用表抗電網(wǎng)干擾的能力　176
5.36　利用電磁干擾濾波器抑制數(shù)字萬(wàn)用表的噪聲干擾　177
5.36.1　電磁干擾濾波器的構(gòu)造原理及應(yīng)用　177
5.36.2　電磁干擾濾波器的技術(shù)參數(shù)及測(cè)試方法　179
5.37　利用高頻噪聲模擬器測(cè)量數(shù)字萬(wàn)用表的抗干擾性能　180
5.37.1　高頻噪聲模擬器的性能特點(diǎn)　180
5.37.2　高頻噪聲模擬器的工作原理　181
5.37.3　高頻噪聲模擬器的應(yīng)用　183
參考文獻(xiàn)　186
【媒體評(píng)論】