r測井分層解釋法

     目錄
   前言
    上篇γ測井分層解釋理論基礎(chǔ)
   1.鉆孔γ場
    1.1鉆孔γ場理論計算
    1.1.1直孔γ場
    1.1.1.1點狀探測器
    1.1.1.2線狀探測器
    1.1.2斜孔γ場
    1.1.2.1點狀探測器
    1.1.2.2線狀探測器
    1.1.3斜孔γ場的近似計算
    1.1.3.1點狀探測器
    1.1.3.2線狀探測器
    1.2描述鉆孔γ場的兩個基本方程
   2.地質(zhì)脈沖函數(shù)與形態(tài)系數(shù)
    2.1地質(zhì)脈沖函數(shù)的概念及其計算公式
    2.1.1地質(zhì)脈沖函數(shù)的概念及其計算通式
    2.1.2γ場地質(zhì)脈沖函數(shù)的計算公式
    2.1.2.1點狀探測器直孔γ場地質(zhì)脈沖函數(shù)
    2.1.2.2線狀探測器直孔γ場地質(zhì)脈沖函數(shù)
    2.1.2.3點狀探測器斜孔γ場地質(zhì)脈沖函數(shù)
    2.1.2.4線狀探測器斜孔γ場地質(zhì)脈沖函數(shù)
    2.1.2.5斜孔γ場地質(zhì)脈沖函數(shù)的近似計算
    2.2形態(tài)系數(shù)的概念及其計算公式
    2.2.1形態(tài)系數(shù)的傳統(tǒng)定義法
    2.2.2形態(tài)系數(shù)的地質(zhì)脈沖函數(shù)定義法
    2.2.3γ場形態(tài)系數(shù)的計算
    2.3近似地質(zhì)脈沖函數(shù)與近似形態(tài)系數(shù)
    2.3.1近似地質(zhì)脈沖函數(shù)
    2.3.1.1近似地質(zhì)脈沖函數(shù)的來源
    2.3.1.2近似地質(zhì)脈沖函數(shù)的直接求法
    2.3.1.3近似地質(zhì)脈沖函數(shù)的誤差與含量計算中的負(fù)值
    2.3.2近似形態(tài)系數(shù)
    2.3.2.1近似形態(tài)系數(shù)的定義
    2.3.2.2近似形態(tài)系數(shù)的誤差
    2.4特征參數(shù)α的性質(zhì)
    2.4.1視特征參數(shù)α
    2.4.2影響特征參數(shù)α的若干因素
    2.4.2.1探測器長度的影響
    2.4.2.2巖（礦）層密度的影響
    2.4.2.3井徑的影響
    2.4.2.4套管、泥漿及儀器外殼附加吸收的影響
    2.4.2.5礦層厚度的影響
    2.4.3特征參數(shù)α對礦層線儲量的影響
    2.4.4特征參數(shù)α對分層能力的影響
   3.數(shù)字信號處理與反褶積的數(shù)學(xué)基礎(chǔ)
    3.1連續(xù)函數(shù)反褶積運(yùn)算的數(shù)學(xué)基礎(chǔ)
    3.1.1博立葉變換與頻譜分析
    3.1.2信號濾波
    3.1.3濾波的空間域表達(dá)式與褶積定理
    3.2連續(xù)信號的離散化與取樣定理
    3.2.1連續(xù)信號的離散化
    3.2.2取樣定理一
    3.2.3取樣定理二
    3.3離散信號恢復(fù)成連續(xù)信號的方法及其誤差的估計
    3.3.1離散信號恢復(fù)成連續(xù)信號的方法
    3.3.2γ測井曲線（或含量曲線）離散取樣產(chǎn)生的誤差
    3.4數(shù)字信號反褶積運(yùn)算的數(shù)學(xué)基礎(chǔ)
    3.4.1數(shù)字信號的頻譜分析
    3.4.2連續(xù)函數(shù)褶積運(yùn)算的離散取樣與離散褶積運(yùn)算
    3.4.3數(shù)字信號濾波與離散褶積定理
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   4.反褶積法
    4.1反褶積法的含量計算公式
    4.1.1反地質(zhì)脈沖函數(shù)及其含量計算
    4.1.2近似反地質(zhì)脈沖函數(shù)（近似反濾波器）
    4.1.3反褶積法含量計算公式
    4.1.3.1三點式反褶積法含量計算公式
    4.1.3.2多點式反褶積法含量計算公式
    4.1.4反褶積法的誤差分析
    4.1.4.1三點式含量計算公式的誤差估計
    4.1.4.2特征參數(shù)α偏小產(chǎn)生的負(fù)值
    4.2特征參數(shù)α的現(xiàn)場測定方法
    4.2.1計算特征參數(shù)α的判別因子法
    4.2.1.1判別因子E法
    4.2.1.2判別因子B法
    4.2.1.3相對判別因子法
    4.2.1.4判別因子公式法
    4.2.2斜率法
    4.2.2.1兩點斜率法
    4.2.2.2多點斜率法
    4.2.2.3作圖法
    4.3反褶積法的計算機(jī)程序與框圖
    4.3.1本底處理
    4.3.2含量計算
    4.3.2.1三點式反褶積法
    4.3.2.2五點式反褶積法
    4.3.3特征參數(shù)α的計算
    4.3.3.1判別因子E法
    4.3.3.2判別因子B法
    4.3.3.3相對判別因子法
    4.3.4負(fù)值處理
    4.3.5主程序及程序操作
    4.3.5.1主程序
    4.3.5.2程序操作
    4.4反褶積法計算實例
    4.4.1對于薄礦層的解釋
    4.4.2對于薄礦夾層的解釋
    4.4.3對于傾斜薄礦層的解釋
   5.迭代法
    5.1形態(tài)系數(shù)型分層解釋法
    5.1.1形態(tài)系數(shù)型分層解釋法正演問題
    5.1.2形態(tài)系數(shù)型分層解釋法誤差分析
    5.2迭代法的含量計算方法
    5.2.1差值迭代法和比值迭代法
    5.2.2高斯迭代法
    5.2.2.1解n元線性方程組的迭代法
    5.2.2.2γ測井分層解釋高斯－塞德爾迭代法（簡稱高斯迭代法）
    5.2.2.3γ測井高斯迭代法的最優(yōu)松弛因子的選取
    5.3形態(tài)系數(shù)的計算及相應(yīng)參數(shù)的確定
    5.3.1形態(tài)系數(shù)的計算
    5.3.2形態(tài)系數(shù)計算中相應(yīng)參數(shù)的確定
    5.3.2.1鉆井條件的確定
    5.3.2.2線吸收系數(shù)μ值的確定
    5.3.2.3礦層與鉆孔相遇角α0、探測器長度L的確定
    5.4迭代法的計算機(jī)程序與框圖
    5.4.1形態(tài)系數(shù)的計算
    5.4.1.1計算重積分的函數(shù)子程序
    5.4.1.2計算形態(tài)系數(shù)子程序
    5.4.1.3計算形態(tài)系數(shù)公式中被積函數(shù)的函數(shù)子程序
    5.4.1.4計算形態(tài)系數(shù)公式中積分上限函數(shù)的函數(shù)子程序
    5.4.1.5計算形態(tài)系數(shù)公式中積分下限函數(shù)的函數(shù)子程序
    5.4.1.6主程序
    5.4.2迭代法計算
    5.4.2.1本底處理
    5.4.2.2迭代過程
    5.4.2.3形態(tài)系數(shù)的選擇
    5.4.2.4負(fù)值處理
    5.4.2.5主程序
    5.4.3程序操作
    5.4.3.1形態(tài)系數(shù)計算程序
    5.4.3.2迭代法含量計算程序
    5.5迭代法計算實例
    5.5.1形態(tài)系數(shù)計算實例
    5.5.2形態(tài)系數(shù)常用理論計算表
    5.5.3迭代法分層解釋實例
   6.其它分層解釋法
    6.1數(shù)字信號法
    6.1.1離散反濾波器αk的計算及其含量計算通式
    6.1.2數(shù)字信號法常用計算公式
    6.1.3數(shù)字信號法在分層解釋中的一些技術(shù)問題
    6.1.3.1精確三點式反褶積算子
    6.1.3.2算子長度不夠時的離散反濾波函數(shù)與近似離散反濾波函數(shù)
    6.1.3.3算子長度對數(shù)字信號分層解釋法的影響
    6.2反褶積差值迭代法
    6.3逆矩陣法
    6.3.1求解線性方程組的逆矩陣法及其在分層解釋中的應(yīng)用
    6.3.2逆矩陣特點及其組合逆矩陣系數(shù)法
    6.3.3常用的逆矩陣法 逆矩陣系數(shù)法
    6.4單一系數(shù)分解法
    6.4.1對稱正定帶型矩陣的喬累斯基分解法
    6.4.2γ測井分層解釋單一系數(shù)分解法
    6.5分層解釋實例
    6.5.1數(shù)字信號法計算實例
    6.5.2迭代法計算實例
    6.5.3分解法計算實例
    6.5.4逆矩陣法計算實例
   7.γ能譜測井分層解釋簡介
    7.1γ能譜測井基本原理
    7.2γ能譜測并曲線的分離解釋
    7.2.1常規(guī)的γ能譜測井曲線的分離方法
    7.2.2分離Y能譜曲線的分層解釋法簡介
    7.2.2.1單元層的分層解釋法
    7.2.2.2反褶積分層解釋法
   附錄A 鉆孔γ場理論表達(dá)式的推導(dǎo)
    A.1γ場球坐標(biāo)積分表達(dá)通式
    A.2直孔γ場
    A.2.1礦層邊界γ射線照射量率的計算
    A.2.2礦層中心點γ射線照射量率的計算
    A.2.3井軸上任一點γ射線照射量率的計算
    A.2.4線狀探測器中心點γ射線照射量率的計算
    A.3斜孔γ場
    A.3.1命題一與它的推論
    A.3.1.1命題一
    A.3.1.2推論
    A.3.2命題二
    A.3.3αφ與φ的關(guān)系式
    A.3.4斜孔γ場礦層邊界γ射線照射量率計算公式
    A.3.5斜孔γ場礦層中心γ射線照射量率計算公式
   附錄B 積分運(yùn)算的Simpson（辛普森）算法
    B.1Simpson求積公式
    B.2變步長Simpson求積公式
    B.3自適應(yīng)步長Simpson算法
    B.4重積分的計算
   附錄C 分層解釋法源程序清單
    C.1五點式反褶積法
    C.2反褶積差值迭代法
    C.3逆矩陣系數(shù)法
    C.4單一系數(shù)分解法
    C.5數(shù)字信號法
    C.6比值迭代法
    C.7三點式反褶積法
    C.8幾個公用程序
   附錄D 石家莊模型站γ測井標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)
   參考文獻(xiàn)