實(shí)用數(shù)字電子技術(shù)

第1章 數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ) 
1.1 數(shù)制和編碼 
1.1.1 進(jìn)位計(jì)數(shù)制 
1.1.2 碼制 
1.2 邏輯代數(shù) 
1.2.1 邏輯代數(shù)中的3種基本邏輯運(yùn)算 
1.2.2 邏輯函數(shù)及其表示方法 
1.2.3 邏輯函數(shù)的最小項(xiàng)表達(dá)式 
1.2.4 邏輯函數(shù)不同表達(dá)形式的內(nèi)在聯(lián)系 
1.2.5 邏輯代數(shù)的公式和運(yùn)算規(guī)則 
1.2.6 邏輯函數(shù)的公式化簡(jiǎn)法 
1.2.7 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡(jiǎn)法 
1.3 門(mén)電路 
1.3.1 基本門(mén)電路 
1.3.2 復(fù)合門(mén)電路 
1.3.3 其他門(mén)電路 
1.4 觸發(fā)器 
1.4.1 概述 
1.4.2 不同邏輯功能的觸發(fā)器 
1.4.3 觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)和工作特點(diǎn) 
本章小結(jié) 
思考與練習(xí) 
實(shí)驗(yàn)和實(shí)訓(xùn) 
第2章 數(shù)字電路的物理器件 
2.1 半導(dǎo)體器件 
2.1.1 二極管的開(kāi)關(guān)特性 
2.1.2 雙極型三極管的3種工作狀態(tài) 
2.1.3 MOS管的開(kāi)關(guān)特性 
2.2 集成門(mén)電路 
2.2.1 TTL門(mén)電路和CMOS門(mén)電路 
2.2.2 74TTL系列集成門(mén)電路 
2.2.3 4000 CMOS系列集成門(mén)電路 
2.2.4 74HC CMOS系列集成門(mén)電路 
2.3 集成觸發(fā)器 
2.3.1 TTL觸發(fā)器和CMOS觸發(fā)器 
2.3.2 各類(lèi)集成觸發(fā)器 
2.4 各類(lèi)集成電路的使用注意事項(xiàng) 
2.4.1 有關(guān)主要參數(shù)的使用 
2.4.2 驅(qū)動(dòng)與負(fù)載 
2.4.3 使用注意事項(xiàng) 
2.5 數(shù)字電路中物理器件的總體分類(lèi) 
2.5.1 規(guī)模、材料分類(lèi) 
2.5.2 數(shù)字通用標(biāo)準(zhǔn)集成電路系列產(chǎn)品類(lèi)別 
2.5.3 數(shù)字電路現(xiàn)代設(shè)計(jì)的集成電路類(lèi)別 
2.5.4 數(shù)字專(zhuān)用集成電路類(lèi)別 
2.5.5 其他器件類(lèi)別 
2.6 數(shù)字物理器件的查找方法 
2.6.1 器件的命名與說(shuō)明書(shū)的使用 
2.6.2 D.A.T.A.BOOK的使用 
2.6.3 查找電子器件的其他途徑 
2.7 數(shù)字物理器件的使用 
2.7.1 器件的可靠性 
2.7.2 器件的選擇 
2.7.3 器件的非在線(xiàn)檢測(cè) 
本章小結(jié) 
思考與練習(xí) 
實(shí)驗(yàn)和實(shí)訓(xùn) 
第3章 數(shù)字電路設(shè)計(jì)初步和故障分析 
3.1 概述 
3.1.1 數(shù)字系統(tǒng)與數(shù)字電路 
3.1.2 數(shù)字電路的特點(diǎn) 
3.1.3 數(shù)字電路的分類(lèi) 
3.2 數(shù)字電路的設(shè)計(jì)方法 
3.2.1 明確電路的總體方案 
3.2.2 分割總體方案成若干獨(dú)立的子功能部件 
3.2.3 設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)各子功能部件 
3.2.4 將功能部件組裝數(shù)字電路 
3.3 組合邏輯電路設(shè)計(jì) 
3.3.1 組合邏輯電路的一般設(shè)計(jì)方法 
3.3.2 組合邏輯電路設(shè)計(jì)舉例 
3.4 時(shí)序邏輯電路設(shè)計(jì) 
3.4.1 時(shí)序邏輯電路的一般設(shè)計(jì)方法 
3.4.2 同步時(shí)序邏輯電路設(shè)計(jì)舉例 
3.5 數(shù)字電路的物理設(shè)計(jì) 
3.5.1 什么是數(shù)字電路的物理設(shè)計(jì) 
3.5.2 物理設(shè)計(jì)應(yīng)考慮的問(wèn)題 
3.6 數(shù)字電路故障的診斷與排除 
3.6.1 數(shù)字電路故障診斷前的準(zhǔn)備 
3.6.2 數(shù)字電路故障的分類(lèi) 
3.6.3 常見(jiàn)的邏輯故障 
3.6.4 故障的檢測(cè)與定位 
3.6.5 測(cè)試數(shù)字電路的方法 
3.7 數(shù)字電路線(xiàn)路設(shè)計(jì)舉例 
3.7.1 設(shè)計(jì)搶15電子玩具 
3.7.2 設(shè)計(jì)帶有校時(shí)功能的數(shù)字鬧鐘 
本章小結(jié) 
思考與練習(xí) 
實(shí)驗(yàn)與實(shí)訓(xùn) 
第4章 數(shù)字電路讀圖 
4.1 數(shù)字電路讀圖的要求、方法和步驟 
4.1.1 讀圖的基本要求 
4.1.2 讀圖的一般方法 
4.1.3 讀圖的具體步驟 
4.2 典型邏輯部件和單元電路的讀圖 
4.2.1 編碼器 
4.2.2 譯碼器 
4.2.3 算術(shù)邏輯電路 
4.2.4 多路選擇器和多路分配器 
4.2.5 計(jì)數(shù)器 
4.2.6 寄存器 
4.2.7 節(jié)拍脈沖發(fā)生器 
4.2.8 數(shù)／模、模／數(shù)轉(zhuǎn)換電路 
4.3 數(shù)字電路綜合讀圖 
4.3.1 綜合性數(shù)字電路讀圖的內(nèi)容和步驟 
4.3.2 直流數(shù)字電壓表的讀圖 
本章小結(jié) 
思考與練習(xí) 
實(shí)驗(yàn)與實(shí)訓(xùn) 
第5章 大規(guī)模集成電路及其應(yīng)用 
5.1 只讀存儲(chǔ)器ROM 
5.1.1 ROM的結(jié)構(gòu)和工作原理 
5.1.2 可編程ROM(PROM)和可改寫(xiě)ROM(EPROM) 
5.1.3 EPROM集成芯片簡(jiǎn)介 
5.2 隨機(jī)存取存儲(chǔ)器RAM 
5.2.1 RAM的結(jié)構(gòu)和工作原理 
5.2.2 RAM的存儲(chǔ)單元 
5.2.3 6264型RAM簡(jiǎn)介 
5.3 可編程邏輯器件 
5.3.1 PLD的基本結(jié)構(gòu)和分類(lèi) 
5.3.2 PAL與GAL的原理及使用 
5.3.3 GAL的原理與特點(diǎn) 
5.4 高密度在系統(tǒng)可編程邏輯器件 
5.4.1 PLSI/ISPLSI 1016的結(jié)構(gòu)與原理 
5.4.2 PLSI/ISPLSI 1016的主要性能指標(biāo) 
5.4.3 PLD的開(kāi)發(fā)與在系統(tǒng)編程技術(shù) 
5.4.4 在系統(tǒng)可編程通用數(shù)字開(kāi)關(guān) 
本章小結(jié) 
思考與練習(xí) 
實(shí)驗(yàn)與實(shí)訓(xùn) 
第6章 脈沖信號(hào)的產(chǎn)生與整形 
6.1 矩形脈沖波形的產(chǎn)生 
6.1.1 環(huán)形振蕩器 
6.1.2 用施密特觸發(fā)器構(gòu)成的多諧振蕩器 
6.1.3 石英晶體振蕩器 
6.1.4 用555定時(shí)器構(gòu)成的多諧振蕩器 
6.2 矩形脈沖波形的整形 
6.2.1 應(yīng)用施密特觸發(fā)器整形 
6.2.2 應(yīng)用555定時(shí)器整形 
6.2.3 應(yīng)用單穩(wěn)態(tài)電路整形 
本章小結(jié) 
思考與練習(xí) 
實(shí)驗(yàn)和實(shí)訓(xùn) 
第7章 脈沖與數(shù)字電路的軟件仿真——Electronics Workbench的應(yīng)用 
7.1 概述 
7.1.1 功能與特點(diǎn) 
7.1.2 運(yùn)行環(huán)境要求 
7.2 基本操作方法 
7.2.1 工作界面構(gòu)成 
7.2.2 實(shí)驗(yàn)電路生成方法 
7.3 脈沖電路的仿真 
7.3.1 儀表的使用 
7.3.2 分析功能及其設(shè)置 
7.3.3 脈沖電路仿真范例 
7.4 數(shù)字邏輯電路的仿真 
7.4.1 儀表的使用 
7.4.2 數(shù)字邏輯電路仿真范例 
7.4.3 子電路的生成與使用 
實(shí)驗(yàn)與實(shí)訓(xùn) 
附錄 集成電路的功能與型號(hào)對(duì)照表 
參考文獻(xiàn)