測(cè)試工程與LabVIEW應(yīng)用

定　價(jià)：￥32.00

作　者：	戴鵬飛等編著
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	現(xiàn)代測(cè)試與控制叢書(shū)
標(biāo)　簽：	軟件工具程序設(shè)計(jì)

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ISBN：	9787121024740	出版時(shí)間：	2006-05-01	包裝：	膠版紙
開(kāi)本：	小16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	309	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

本書(shū)緊密結(jié)合工程實(shí)踐，以測(cè)試工程各環(huán)節(jié)為主線，依托LabVIEW平臺(tái)環(huán)境，詳細(xì)闡述了測(cè)試工程原理、實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)以及LabVIEW測(cè)試軟件編程等。全書(shū)共分8章，內(nèi)容包括LabVIEW介紹、測(cè)試信號(hào)與檢出、信號(hào)軟硬件處理、測(cè)試信號(hào)傳輸與總線、測(cè)試管理、網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試以及測(cè)試數(shù)據(jù)分析與判斷等；針對(duì)測(cè)試工程各環(huán)節(jié)，分別介紹了LabVIEW中的對(duì)應(yīng)功能及實(shí)現(xiàn)，并提供了精心設(shè)計(jì)的典型樣例，以幫助讀者更好地理解和掌握測(cè)試工程技術(shù)及LabVIEW相關(guān)功能和工具。本書(shū)既可作為大專院校測(cè)控技術(shù)、儀器儀表、機(jī)械電子、計(jì)算機(jī)應(yīng)用等專業(yè)高年級(jí)學(xué)生和研究生的教學(xué)用書(shū)，也可供測(cè)試工程設(shè)計(jì)研發(fā)、使用維護(hù)及相關(guān)領(lǐng)域的工程技術(shù)和研究人員參考。