實用膜片鉗技術(shù)

第一章 膜片鉗技術(shù)基本概念
第一節(jié) 膜片鉗技術(shù)概述
一、什么是膜片鉗技術(shù)
二、膜片鉗技術(shù)的發(fā)展概況
三、膜片鉗技術(shù)的基本記錄模式
四、膜片鉗技術(shù)的應用
第二節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的電極
一、玻璃微電極
二、Ag/AgCl電極
三、Pt電極
四、碳纖電極
五、常見問題
第三節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的電壓和電位
一、膜電位
二、平衡電位
三、命令電壓
四、鉗制電位
五、電極電壓降
六、失調(diào)電位
七、浴池電位
八、常見問題
第四節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的電流和電導
一、跨膜電流
二、離子通道電導
三、閘門電流
四、正電流與負電流
五、內(nèi)向電流與外向電流
六、去極化電流與超極化電流
七、封接電流
八、輸入漏電流
九、膜漏電流
第五節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的電阻
一、膜電阻與膜輸入阻抗
二、電極電阻
三、封接電阻
四、串聯(lián)電阻及接入電阻
五、浴池電阻
六、漏電阻
第六節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的電容
一、膜電容
二、分布電容
三、電極電容
四、快電容與慢電容
五、時間常數(shù)
第七節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的漏減功能
一、漏電流的概念與特點
二、Clampex采樣軟件的P/N漏減功能
三、Clampex采樣軟件的定標P/N漏減功能
四、膜片鉗放大器漏減功能
五、Clampfit處理軟件的漏減功能
六、常見問題
第八節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的噪聲
一、噪聲的測量指標
二、噪聲的基本類型
三、膜片鉗放大器噪聲
四、電極夾持器噪聲
五、電極噪聲
六、干擾的來源
七、干擾的排除方法
八、量化噪聲
九、混疊噪聲
十、常見問題
第九節(jié) 膜片鉗記錄系統(tǒng)中的信號濾波
一、有關(guān)濾波的幾個基本概念
二、濾波器的基本類型
三、數(shù)碼濾波器
四、采樣頻率與濾波頻率的關(guān)系
五、電干擾濾波器
六、常見問題
第二章 膜片鉗技術(shù)實驗方法
第一節(jié) 全細胞記錄技術(shù)
一、離子通道簡介
二、全細胞記錄要注意的問題
三、全細胞記錄與其它記錄技術(shù)的比較
四、電壓門控性離子通道的動力學研究
五、配體門控性離子通道的動力學研究
第二節(jié) 單通道記錄技術(shù)及其數(shù)據(jù)分析
一、單通道記錄模式
二、單通道數(shù)據(jù)的采集
三、單通道數(shù)據(jù)分析中的幾個基本概念
四、單通道數(shù)據(jù)分析前的處理
五、單通道事件的檢測
六、單通道電流幅度（電導）的分析
七、單通道開關(guān)的動力學分析
八、通道開放概率的計算
九、膜片上通道數(shù)目的估算
十、其它分析
第三節(jié) 穿孔膜片鉗記錄技術(shù)
一、穿孔全細胞記錄模式
二、穿孔囊泡記錄模式
三、穿孔膜片鉗記錄模式的實驗方法及注意事項
第四節(jié) 巨膜片記錄技術(shù)
一、巨膜片記錄技術(shù)的概念
二、肌細胞標本制備
三、玻璃微電極制備
四、封接的形成
五、巨膜片電容的測定
六、巨膜片記錄技術(shù)的局限
第五節(jié) 其它膜片鉗技術(shù)方法
一、膜電容測定法
二、松散封接記錄技術(shù)
三、脂質(zhì)體記錄技術(shù)
四、細胞內(nèi)膜離子通道記錄技術(shù)
五、細胞內(nèi)灌注與抽吸技術(shù)
六、壓力鉗技術(shù)
七、在體膜片鉗記錄技術(shù)
第三章 腦片膜片鉗記錄技術(shù)
第一節(jié) 腦片膜片鉗技術(shù)研究概況
一、腦片標本介紹
二、腦片膜片鉗技術(shù)研究概況
第二節(jié) 腦片培養(yǎng)技術(shù)
一、腦片培養(yǎng)技術(shù)簡介
二、腦片培養(yǎng)方法
三、培養(yǎng)海馬腦片的特點
四、腦片培養(yǎng)的應用
第三節(jié) 海馬的結(jié)構(gòu)
一、海馬的概念
二、海馬結(jié)構(gòu)的細胞構(gòu)筑
三、海馬結(jié)構(gòu)的主要傳出纖維
四、海馬結(jié)構(gòu)的主要傳入纖維
五、海馬結(jié)構(gòu)的內(nèi)部纖維聯(lián)系
第四節(jié) 腦片振動切片機
一、腦片切片方法簡介
二、NVSLM1型振動切片機
第五節(jié) 海馬腦片盲法膜片鉗記錄技術(shù)
一、實驗設備
二、溶液配制
三、海馬腦片制備
四、腦片孵育槽
五、腦片記錄浴槽
六、玻璃微電極制備
七、腦片盲法全細胞記錄
第四章 膜片鉗放大器及數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器
第一節(jié) Axoclamp 2B微電極放大器
一、探頭
二、電極夾持器
三、模型細胞
四、前后面板
五、浴池電位的去除
六、記錄模式
七、接地和交流噪聲
八、電源
九、常見問題
第二節(jié) Axopatch 1D膜片鉗放大器
一、探頭
二、電極夾持器
三、模型細胞
四、前后面板
五、噪聲
六、電源
七、儀器的基本連線
八、全細胞與單通道記錄操作步驟
九、常見問題
第三節(jié) Axopatch 200B膜片鉗放大器
一、探頭
二、電極夾持器
三、模型細胞
四、前后面板
五、接地和交流噪聲
六、電源
七、全細胞與單通道記錄操作步驟
八、常見問題
第四節(jié) Digidat 1200系列數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換器
一、Digidata 1200系列轉(zhuǎn)換器之間的差別
二、Digidata 1200B前后面板
三、安裝
四、pClamp采樣軟件對Digidata 1200系列轉(zhuǎn)換器的確認
第五節(jié) Digidat 132x系列數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換器
一、Digidata 132x系列轉(zhuǎn)換器之間的差別
二、所需計算機配置
三、前后面板
四、安裝
五、pClamp采樣軟件對Digidata 1200系列轉(zhuǎn)換器的確認
六、常見問題
[附] 什么是SCSI？
第五章 膜片鉗技術(shù)數(shù)據(jù)采集和處理軟件
第一節(jié) pClamp數(shù)據(jù)采集和處理軟件概述
一、pClamp簡介
二、pClamp的構(gòu)成
三、pClamp的安裝和運行
第二節(jié) Clampex 8數(shù)據(jù)采集軟件
一、幾個名詞術(shù)語
二、Clampex 8主要文件類型
三、Clampex 8采樣文件的命名
四、Clampex 8的窗口
五、Protocol編輯
六、Configure設置
七、Lab Bench設定
八、Seal Test功能
九、Membrane Test功能
十、液接電位的計算與鉗制電位的校正
十一、常見問題
第三節(jié) Clampfit 8數(shù)據(jù)處理分析軟件
一、Clampfit 8的窗口
二、Clampfit 8文件類型
三、數(shù)據(jù)的基本處理功能
四、Stimulus Waveform調(diào)節(jié)
五、快速作圖
六、文件的數(shù)學運算
七、擬合
八、統(tǒng)計分析
九、常見問題
第四節(jié) Clampex 9數(shù)據(jù)采集軟件
一、Clampex 9采樣及分析窗口
二、Protocol編輯
三、Resistance Test功能
四、LTP助手（LTP Assistant）
五、Telegraphed Instrument設置
六、常見問題
第五節(jié) Clampfit 9數(shù)據(jù)處理分析軟件
一、Clampfit 9的窗口
二、Clampfit 9文件的數(shù)學運算
三、Clampfit 9的單通道數(shù)據(jù)分析功能
四、Clampfit 9的自發(fā)突觸活動分析
五、Variance-mean分析（V-M分析）
六、Clampfit 9的閾值檢測功能
七、常見問題
第六節(jié) Origin數(shù)據(jù)分析與圖形制作軟件
一、如何將pClamp采樣數(shù)據(jù)輸入到Origin軟件進行處理
二、如何賦予數(shù)據(jù)表中各組別的名稱與特征
三、如何對數(shù)據(jù)表中的數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換
四、作直條圖時的幾個問題
五、如何對數(shù)據(jù)進行直線回歸
六、如何對坐標軸進行調(diào)整
七、如何對坐標軸做斷軸
八、如何將幾個不同的圖顯示在同一頁面上并進行處理
九、如何對所獲數(shù)據(jù)進行曲線擬合
十、如何制作Waveform圖形
十一、如何在Origin中剪切輸入的采樣圖形
十二、如何去除壞點
十三、如何將制作好的圖形輸出
附　錄
附錄一 膜片鉗技術(shù)常用單位及換算
附錄二 膜片鉗實驗溶液中常用離子的化合價與遷移率
附錄三 膜片鉗放大器的主要類型及生產(chǎn)廠家
附錄四 膜片鉗技術(shù)推薦參考書
圖題與表題
一、圖題
二、表題
索引
一、中文索引
二、英文索引