SOC\ASIC設計驗證和測試方法學

$SOC\ASIC設計驗證和測試方法學$

定　價：￥35.00

作　者：	沈理
出版社：	中山大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

購買這本書可以去

ISBN：	9787306026828	出版時間：	2006-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	260	字數(shù)：

內容簡介

　　本書闡述了設計系統(tǒng)芯片（SOC）所需的新的設計、驗證和測試方法學，其基本原理同樣適合于超大規(guī)模專用集成電路芯片（ASIC）的設計。本書適合IC設計領域的科技人員，高校相關專業(yè)大學生和研究生。本書的具體內容有：集成電路發(fā)展史及SOC設計所面臨的挑戰(zhàn)；SOC設計：SOC模型、設計分層、設計重用技術等；SOC/ASIC驗證：功能驗證、等價驗證、靜態(tài)分析驗證、物理驗證等；SOC/ASIC測試：集成電路測試技術、可測試性設計方法；集成電路設計語言（包括SystemC，SystemVerilog，OpenVera等）及其新發(fā)展；Synopsys公司的EDA系統(tǒng)以及相關的IC設計和驗證方法學；Philips SOC設計平臺的實例。

作者簡介

　　沈理，男，1937年10月出生，浙江省人。1959年畢業(yè)于浙江大學電機工程系，并進入中國科學院計算技術研究所工作。研究員，博士生導師。從事計算機學科領域的研究工作。早期曾參加我國第一臺大型電子管計算機——104機的研究工作，以及多臺計算機的電路研究和體系結構設計工作。1979年后從事容錯計算等基礎研究。1982～1984年，赴美國紐約州立大學Binghamton分校作訪問學者，進行VLSI測試研究。1985～1988年，進行測試理論的基礎研究。主持完成一個國家自然科學基金項目的研究；并參加“七五”國家重點科技攻關項目“測試方法研究及應用”的工作，獲1992年中科院自然科學獎二等獎。1989～1991年，參加國家863計劃課題研制工作，其中后兩年赴美國參加國際科技合作，進行工作站設計和AsIc設計。1992年后進行軟計算和模糊系統(tǒng)等基礎研究。連續(xù)主持“八五”、“九五”863計劃項目，“九五”中科院基礎性研究重點項目，國家自然科學基金項目的研究工作。1995年研制

圖書目錄

第1章緒論
1.1集成電路工業(yè)發(fā)展里程碑
1.2半導體技術發(fā)展路線圖
1.2.1國際半導體技術路線圖
1.2.2路線圖技術特性
1.3集成電路設計驅動
1.3.1微處理器
1.3.2模擬混合信號(AMS)設計
1.3.3嵌入存儲器
1.3.4系統(tǒng)芯片(SOC)
1.4 soc設計挑戰(zhàn)
1.4.1 SOC的規(guī)范形式
1.4.2 SOC的挑戰(zhàn)
1.4.3設計挑戰(zhàn)
1.4.4測試挑戰(zhàn)
參考文獻
第2章 SOC設計
2.1 SOC模型
2.1.1建模分類
2.1.2通用模型
2.1.3系統(tǒng)模型
2.1.4體系結構模型
2.1.5硬件模型
2.1.6實現(xiàn)級性能模型
2.1.7軟件模型
2.2 SOC設計分層
2.3 SOC系統(tǒng)設計
2.3.1系統(tǒng)設計過程
2.3.2系統(tǒng)設計的一些重要概念
2.4 SOC硬件設計
2.4.1設計質量的優(yōu)化標準
2.4.2邏輯、電路和物理設計
2.4.3驗證和測試
2.5 SOC設計重用技術
2.5.1設計重用的概念
2.5.2虛擬插座接口(VSI)
2.6 S0c設計方法學
2.6.1基于內核的設計方法
2.6.2基于平臺的設計方法
參考文獻
第3章 SOC／ASIC驗證
3.1驗證技術概述
3.1.1功能驗證
3.1.2等價驗證
3.1.3靜態(tài)分析驗證
3.1.4物理驗證
3.2模擬
3.2.1模擬器
3.2.2功能覆蓋度量
3.2.3覆蓋分析技術
3.2.4驗證測試程序
3.3驗證測試程序自動化
3.3.1動態(tài)偏置偽隨機測試程序生成
3.3.2基于模型的偽隨機測試程序生成
3.3.3基于約束滿足問題求解的偽隨機測試程序生成
3.3.4基于代碼覆蓋的測試程序生成
3.4 Lint檢驗
3.5靜態(tài)時序分析
3.5.1靜態(tài)時序分析方法
3.5.2深亞微米集成電路的時序分析方法
3.6形式等價檢驗
3.6.1組合形式等價檢驗
3.6.2基于BDD的等價檢驗
3.7形式模型檢驗
3.7.1 CTL模型檢驗
3.7.2符號模型檢驗
3.8定理證明驗證
3.9斷言驗證
3.9.1硬件驗證語言
3.9.2斷言——特性說明
3.9.3基于斷言的驗證方法
3.10集成電路設計的驗證方法學
3.10.1設計驗證計劃
3.10.2 SOC驗證方法學
參考文獻
第4章 SOC／ASIC測試
4.1測試技術概述
4.1.1測試的基本技術
4.1.2測試的定義
4.2故障模擬
4.2.1缺陷、失效和故障
4.2.2故障模擬器
4.2.3故障模擬結果分析
4.3自動測試向量生成
4.3.1組合電路測試生成方法
4.3.2時序電路測試生成方法
4.3.3其他測試生成方法
4.3.4測試的評價
4.4電流測試
4.4.1基本概念
4.4.2測試碼產生
4.4.3深亞微米工藝的影響
4.5存儲器測試
4.5.1存儲器模型
4.5.2存儲器故障模型
4.5.3存儲器功能測試
4.6可測試性設計技術
4.6.1可測試性設計目標
4.6.2可測試性分析
4.6.3特定的可測試性設計方法
4.6.4系統(tǒng)化的可測試性設計方法
4.7掃描設計
4.7.1掃描電路設計
4.7.2掃描測試
4.7.3掃描鏈結構
4.8邊界掃描設計
4.8.1邊界掃描結構
4.8.2測試訪問端口(TAP)控制器
4.8.3混合信號測試總線
4.9內建自測試(BIST)
4.9.1邏輯電路BIST(LBIST)
4.9.2測試向量生成
4.9.3測試響應壓縮
4.10存儲器的可測試性設計
4.11 SOC的可測試性設計
4.11.1內核的測試要求
4.11.2 SOC測試結構
4.11.3 SOC測試策略
4.12可調試性設計
4.12.1調試概念
4.12.2硅片調試
4.12.3可調試性設計的功能
4.13可制造性設計和可維護性設計
4.14集成電路的測試方法學
4.14.1集成電路的測試設計
4.14.2 SOC測試方法學
參考文獻
第5章集成電路設計語言
5.1設計語言
5.1.1軟件編程語言C／C++
5.1.2硬件描述語言Verilog1995
5.1.3硬件描述語言VHDL一1993
5.1.4 Verilog-2001
5.1.5 Verilog—AMS
5.2驗證語言
5.2.1硬件驗證語言OpenVera
5.2.2斷言驗證語言0VA
5.3統(tǒng)一的設計和驗證語言
5.3.1特性說明語言PSL
5.3.2系統(tǒng)級設計語言SystemC
5.3.3硬件描述和硬件驗證語言SystemVeri。log
5.3.4 Verilog一2005
5.3.5 VHDL一200x
5.3.6新穎的SOC設計語言
5.4測試語言
5.4.1標準測試接口語言STIL
5.4.2內核測試語言CTL
參考文獻
第6章 Synopsys EDA系統(tǒng)
6.1概述
6.2 Galaxy設計平臺
6.2.1分層設計方法學
6.2.2 RTIJ綜合
6.2.3靜態(tài)時序分析
6.2.4信號完整性
6.2.5電源綜合
6.2.6測試設計
6.2.7物理設計
6.2.8 Sign.off確認
6.2.9設計數(shù)據(jù)庫
6.3 Discoveiy驗證平臺
6.3.1系統(tǒng)級分析和設計
6.3.2基準驗證方法學
6.3.3 RTL驗證
6.3.4斷言驗證
6.3.5測試程序自動化
6.3.6 RTL代碼檢查
6.3.7形式特性檢驗
6.3.8形式等價檢驗¨
6.3.9覆蓋分析
6.3.10驗證IP內核
6.3.11 AMS設計和驗證
6.4設計庫
6.5可制造性設計
參考文獻
第7章 SOC設計平臺實例——Philips Nexperia-DVP
7.1 Nexperia數(shù)字視頻平臺
7.2數(shù)字視頻SOc設計
7.2.1 soc參考體系結構
7.2.2 SOC實現(xiàn)
7.3數(shù)字視頻軟件
7.3.1平臺軟件
7.3.2軟件參考體系結構
7.4數(shù)字視頻系統(tǒng)集成
7.4.1性能優(yōu)化
7.4.2調度技術
參考文獻
附錄英文縮寫詞