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內(nèi)容簡介

　　隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗和必要的著火危險試驗是保證其在生產(chǎn)、運輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)。因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設(shè)備、各項著火危險試驗是否符合標準關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標準，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面標準的系列匯編，受到讀者歡迎。1999年以來我國又陸續(xù)制修訂了電工電子環(huán)境試驗和著火危險試驗方面的標準36項，截至目前為止該方面國家標準共計134項。這些標準受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗、運輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理，分4冊陸續(xù)出版：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準匯編》（第三版）、《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標準匯編》（第二版）、《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編》（第二版）、《電工電子產(chǎn)品著火危險試驗國家標準匯編》（第一版）。本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編》（第二版），共匯集了截至2005年7月底我國正式發(fā)布實施的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國家標準15項及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗設(shè)備的國家標準9項，共計24項。本匯編收集的國家標準均為推薦性國家標準（目錄中標明GB/T），標準年號用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標準是在國家標準清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣。標準正文“引用標準”中的標準屬性請讀者注意查對。由于所收錄標準的發(fā)布年代不盡相同，我們對標準中所涉及到的有關(guān)量和單位的標注方法未作統(tǒng)一改動。

作者簡介

暫缺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編》作者簡介

圖書目錄

環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB/T 5170．1—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB/T 5170．2—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170．5—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T 5170．8—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T 5170．9—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T 5170．10—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 5170．11—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB/T 5170．13—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺
GB/T 5170．14—1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺
GB/T 5170．15—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺
GB/T 5170．16—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
GB/T 5170．171987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB/T 5170．18—1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB/T 5170．19—1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備
GB/T 5170．20—1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
環(huán)境試驗設(shè)備
GB/T 10586—1989濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10587—1989鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10588—1989長霉試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10589—1989低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10590—1989低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T 1059]—1989 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592—1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件
6B/T 11158—1989高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11159—1989低氣壓試驗箱技術(shù)條件