近代物理實(shí)驗(yàn)教程

誤差分析與數(shù)據(jù)處理
1 測(cè)量誤差和不確定度概念
2 隨機(jī)變量的概率分布
3 隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)分析
4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果的不確定度
5 分布規(guī)律的χ2檢驗(yàn)
6 最小二乘擬合
7 系統(tǒng)誤差的限制和消除
單元1 原子物理
1.1 弗蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)
1.2 氫與氘原子光譜
1.3 鈉原子光譜
1.4 密立根油滴實(shí)驗(yàn)
1.5 塞曼效應(yīng)
1.6 雙原子分子光譜
單元2 原子核物理
2.0 核物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)基礎(chǔ)知識(shí)
2.1 蓋革-米勒計(jì)數(shù)管的特性及放射性衰變的統(tǒng)計(jì)規(guī)律
2.2 γ能譜的測(cè)量
2.3 符合測(cè)量
2.4 穆斯堡爾效應(yīng)
2.5 正電子在物質(zhì)中湮沒(méi)的壽命測(cè)量
2.6 用快速電子驗(yàn)證相對(duì)論效應(yīng)
單元3 激光、光信息處理和光學(xué)測(cè)量
3.1 激光器特性及其參數(shù)的測(cè)量
3.2 He-Ne激光器縱模間隔測(cè)量
3.3 全息技術(shù)
3.4 光學(xué)信息處理
3.5 橢圓偏振法測(cè)量薄膜厚度、折射率和金屬?gòu)?fù)折射率
3.6 光拍法測(cè)量光的速度
3.7 各向異性晶體光學(xué)性質(zhì)的觀(guān)測(cè)和研究
單元4 真空技術(shù)
4.1 高真空的獲得與測(cè)量
4.2 真空鍍膜
單元5 X射線(xiàn)衍射技術(shù)
5.0 X射線(xiàn)衍射的基礎(chǔ)知識(shí)
5.1 立方晶系點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定
5.2 勞厄相法測(cè)定單晶取向
單元6 低溫和固體物理
6.0 低溫基礎(chǔ)知識(shí)
6.1 電阻溫度關(guān)系和減壓降溫技術(shù)
6.2 高溫超導(dǎo)體基本特性的測(cè)量
6.3 用電容-電壓法測(cè)半導(dǎo)體雜質(zhì)濃度分布
6.4 霍爾效應(yīng)
6.5 鐵電體電滯回線(xiàn)及居里溫度的測(cè)量
6.6 壓電振子參數(shù)及壓電材料常數(shù)的測(cè)量
單元7 聲學(xué)
7.1 用駐波管法測(cè)量材料的法向吸聲系數(shù)
7.2 超聲波探傷和超聲速度測(cè)量
7.3 噪聲測(cè)量和頻譜分析
單元8 微波技術(shù)
8.0 微波基本知識(shí)
8.1 微波的傳輸特性和基本測(cè)量
8.2 微波介質(zhì)特性的測(cè)量
單元9 磁共振技術(shù)
9.0 磁共振基礎(chǔ)知識(shí)
9.1 核磁共振的穩(wěn)態(tài)吸收
9.2 脈沖核磁共振法測(cè)量弛豫時(shí)間
9.3 電子自旋共振
9.4 光泵磁共振
單元10 計(jì)算機(jī)模擬和微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)
10.1 計(jì)算機(jī)數(shù)值模擬實(shí)驗(yàn)
10.2 鎖相放大實(shí)驗(yàn)
10.3 信號(hào)取樣平均實(shí)驗(yàn)
10.4 單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)
附表
Ⅰ.中華人民共和國(guó)法定計(jì)量單位
Ⅱ.物理學(xué)常量表
Ⅲ.標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)N(x;O，1)數(shù)值表
Ⅳ. t分布的置信系數(shù)tξ磚數(shù)值表
Ⅴ.χ2分布的χ2ξ(ν)數(shù)值表