第1章 常用元器件與一般測試
1.1 電子技術基礎實驗的基本要求
1.1.1 電子技術基礎實驗的目的和意義
1.1.2 電子技術基礎實驗的一般要求
1.2 常用無源元器件與一般測試
1.2.1 電阻器和電位器
1.2.2 電容器
1.2.3 電感器
1.3 常用有源元器件與一般測試
1.3.1 半導體二極管
1.3.2 半導體三極管
1.3.3 場效應管
1.4 集成電路
1.4.1 集成電路的分類
1.4.2 集成電路外引腳的認識
第2章 基本測量技術
2.1 概述
2.2 電子電路的電壓測量
2.2.1 直流電壓的測草
2.2.2 交流電壓的測量
2.3 電子電路的阻抗測量
2.3.1 輸入阻抗的測量
2.3.2 輸出阻抗的測量
2.4 電子示波器在基本測量中的應用
2.4.1 示波器測量電壓
2.4.2 示波器測量相位
2.4.3 示波器測量時間
2.4.4 示波器測量頻率
2.5 現代電子測量儀器
2.5.1 現代示波器與邏輯分析儀
2.5.2 虛擬儀器
第3章 測量誤差與測量數據的處理
3.1 測量誤差產生的原因及其表示方法
3.1.1 誤差產生的原因
3.1.2 誤差的分類
3.1.3 誤差的表示方法
3.2 消除系統(tǒng)誤差的主要措施
3.3 測量數據的處理
第4章 模擬電路實驗
4.1 基本驗證性實驗
實驗一 常用電子儀器的使用訓練
實驗二 單管共射放大電路
實驗三 結型場效應管共漏放大電路
實驗四 差動放大電路
實驗五 負反饋放大電路
實驗六 基本模擬運算電路
實驗七 0TL(0CL)功率放大器
實驗八 正弦波振蕩電路
實驗九 非正弦波振蕩電路
實驗十 有源濾波電路
實驗十一 直流穩(wěn)壓電源
實驗十二 虛擬電子線路實驗平臺
4.2 設計性實驗
實驗十三 模擬乘法器
實驗十四 簡易溫度控制電路
實驗十五 函數信號發(fā)生器
第5章 數字電路實驗
5.1 基本驗證性實驗
實驗十六 TTL、CMOS集成邏輯門的邏輯功能與參數測試
實驗十七 TTL集電極開路門與三態(tài)輸出門
實驗十八 TTL、CMOS集成電路的接口
實驗十九 SSI組合邏輯電路
實驗二十 MSI組合邏輯電路
實驗二十一 集成J—K、D觸發(fā)器
實驗二十二 計數、譯碼、顯示電路
實驗二十三 移位寄存器
實驗二十四 E2PROM的使用
實驗二十五 傳輸門
實驗二十六 555時基電路
實驗二十七 D/A、A/D轉換器
5.2 設計性實驗
實驗二十八 汽車尾燈控制電路
實驗二十九 電子秒表
實驗三十 單片數字頻率計
第6章 模擬、數字綜合設計性實驗
實驗三十一 超短波遺物提醒器
實驗三十二 數字顯示溫度測量儀
實驗三十三 人體熱釋電紅外自動控制電路
實驗三十四 簡易數字三用表
實驗三十五 紅外同步開關控制電路
第7章 電子小系統(tǒng)的調試、故障診斷與安裝
7.1 電子電路的調試
7.1.1 調試前的檢查
7.1.2 調試步驟與注慧事項
7.2 故障診斷
7.2.1 故障現象與其產生的原因
7.2.2 診斷故障的一般措施
7.3 電子電路干擾的排除與安裝
7.3.1 內、外干擾源
7.3.2 干擾途徑及其排除方法
7.3.3 正確安裝
7.4 PCB板的制作
7.4.1 ProtelforWindowsPCB的基本操作
7.4.2 PCB自動設計
附錄A 常用電子儀器
A.1 CA8022/CA8042雙蹤示波器
A.2 CAl640系列函數信號發(fā)生器
A.3 CA217X系列毫伏表
A.4 MY—65型4丟數字多用表
A.5 MF—47型萬用表
附錄B 常用模擬、數字集成電路引腳圖
B.1 模擬集成電路引腳圖
B.2 數字集成電路引腳圖
參考文獻