《薄膜結構X射線表征》結合作者二十多年來的工作積累和國內外最新進展,系統(tǒng)介紹了應用X射線衍射和散射技術表征薄膜微結構的多種基本實驗裝置、實驗數據分析理論以及典型的薄膜微結構表征實例。全書分三篇(共16章):第一篇基本實驗裝置(第1~3章),主要介紹X射線源、X射線準直和單色化、各種探測器及薄膜X射線衍射儀和表面/界面散射裝置。第二篇基本理論(第4~10章),介紹薄膜X射線衍射和散射實驗數據分析所用的相關理論,包括用于近完美多層膜和金屬多層膜的X射線衍射運動學理論;用于超晶格和多量子阱的X射線衍射動力學理論;用于原子密度和晶格參數很接近的金屬多層膜的X射線異常衍射精細結構理論;用于薄膜和多層膜表面與界面分析的X射線反射、漫散射理論以及掠入射衍射理論。第三篇薄膜微結構表征(第11~16章),介紹應用X射線衍射和散射技術表征薄膜微結構的實例?!侗∧そY構X射線表征》力圖理論聯系實驗、深入淺出,而又不失其先進性、實用性和普適性??晒氖卤∧げ牧虾推骷芯康难芯咳藛T和工程技術人員參考,也可作為高等院校和研究院所凝聚態(tài)物理、材料科學和有關薄膜科學技術專業(yè)及相關專業(yè)的教師和研究生教學用書和參考書。