計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量（第二版）

定　價(jià)：￥55.00

作　者：	金觀昌
出版社：	清華大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	清華大學(xué)學(xué)術(shù)專著
標(biāo)　簽：	光學(xué)計(jì)量

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ISBN：	9787302155973	出版時(shí)間：	2007-09-01	包裝：	平裝
開本：	16	頁數(shù)：	246	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量（第2版）》是反映光學(xué)測量最新科技成果的著作，《計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量（第2版）》于1997年第1次出版，現(xiàn)修訂再版。再版對(duì)大多數(shù)章節(jié)內(nèi)容進(jìn)行了修訂，增補(bǔ)介紹了新研究成果（例如，在數(shù)字圖像基礎(chǔ)上增加了小波變換，對(duì)發(fā)展較快、應(yīng)用較多的數(shù)字相關(guān)測量技術(shù)作了較大的補(bǔ)充，對(duì)近年來發(fā)展起來的納米云紋、電鏡云紋亦作了增補(bǔ)），新增了數(shù)字全息干涉術(shù)（第5章）?！队?jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量（第2版）》共分11章，前兩章敘述計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量的硬件與軟件以及有關(guān)圖像處理的基礎(chǔ)內(nèi)容；以后各章分別介紹適用于現(xiàn)有光學(xué)干涉術(shù)的條紋自動(dòng)處理技術(shù)、相位測量技術(shù)、數(shù)字全息干涉術(shù)、電子散斑干涉術(shù)、電子錯(cuò)位散斑干涉術(shù)、數(shù)字相關(guān)測量技術(shù)、計(jì)算機(jī)輔助散斑干涉術(shù)、計(jì)算機(jī)輔助光彈性應(yīng)力分析方法以及計(jì)算機(jī)輔助云紋技術(shù)及其應(yīng)用?！队?jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量（第2版）》可作為高等院校光學(xué)測量、力學(xué)測量、物理等專業(yè)的教學(xué)用書；對(duì)于從事測量、無損檢測的科技人員也是一本了解現(xiàn)代檢測技術(shù)動(dòng)向及應(yīng)用新技術(shù)的參考書。

作者簡介

　　金觀昌，男，江蘇蘇州人，1938年7月出生于上海。1955年上海市市西中學(xué)畢業(yè)；1959年畢業(yè)于清華大學(xué)自動(dòng)控制系，同年任教于工程力學(xué)系，1994年為清華大學(xué)工程力學(xué)系教授、博士生導(dǎo)師。1994—2002年任固體力學(xué)實(shí)驗(yàn)室主任，1986—1988年為美國奧克蘭大學(xué)訪問學(xué)者，1990—2000年任香港城市大學(xué)客座研究員。1970年開始從事激光光學(xué)測量、全息與散斑干涉計(jì)量研究。應(yīng)用激光技術(shù)于高溫材料力學(xué)性能測量并獲得首批國家發(fā)明專利、北京市科技進(jìn)步獎(jiǎng)及國家發(fā)明獎(jiǎng)。20世紀(jì)80年代在國內(nèi)率先開始計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量研究工作，在相位測量技術(shù)、電子散斑干涉、數(shù)字散斑相關(guān)、三維形狀測量等方面獲得獨(dú)創(chuàng)性成果，計(jì)算機(jī)三維形狀測量成果獲得國家發(fā)明專利，相位技術(shù)研究及動(dòng)態(tài)力學(xué)性能測量兩項(xiàng)成果獲得國家教委科技進(jìn)步獎(jiǎng)。21世紀(jì)初，數(shù)字散斑研究成果獲得北京市科技進(jìn)步獎(jiǎng)。1997年以來承擔(dān)并完成國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目6項(xiàng)，撰寫論文上百篇，出版專著2部。

圖書目錄

前言
第1章　計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量的硬件與軟件
　1.1 計(jì)算機(jī)圖像系統(tǒng)的輸入設(shè)備
　1.2 圖像存儲(chǔ)器——圖像卡
　1.3　微型計(jì)算機(jī)
　1.4 輸出設(shè)備
　1.5 計(jì)算機(jī)輔助光學(xué)測量軟件的開發(fā)
第2章圖像處理基礎(chǔ)
　2.1 圖像
　2.2　數(shù)字圖像的基本概念
　2.3 圖像的傅里葉變換及其他變換
　2.4 小波變換
　2.5 圖像增強(qiáng)
第3章　條紋自動(dòng)處理技術(shù)
　3.1 自動(dòng)條紋分解技術(shù)
　3.2 采用外差技術(shù)讀出條紋的方法
第4章　相位測量技術(shù)
　4.1　相位測量原理
　4.2 相位解包
　4.3 相移裝置
第5章　數(shù)字全息干涉術(shù)
　5.1 全息照相和全息干涉的原理
5.2 數(shù)字全息記錄與重建原理
　5.3　數(shù)字全息干涉術(shù)及其應(yīng)用
第6章電子散斑干涉術(shù)
　6.1 電子散斑干涉的基本原理
　6.2 電子散斑干涉儀
　6.3　三維電子散斑干涉儀
　6.4 電子散斑干涉術(shù)的應(yīng)用
第7章電子錯(cuò)位散斑干涉術(shù)
　7.1 電子錯(cuò)位散斑干涉的原理
　7.2 電子錯(cuò)位散斑干涉儀
　7.3 電子錯(cuò)位散斑干涉術(shù)的應(yīng)用
第8章　數(shù)字相關(guān)測量技術(shù)
　8.1　數(shù)字散斑相關(guān)的原理
　8.2　相關(guān)運(yùn)算
　8.3　計(jì)算機(jī)模擬散斑圖
　8.4 小波減噪
　8.5 補(bǔ)償技術(shù)
　8.6 應(yīng)變測量
　8.7 采用投影數(shù)字散斑相關(guān)方法測量離面位移
　8.8 三維數(shù)字相關(guān)技術(shù)
　8.9　數(shù)字散斑相關(guān)測量技術(shù)
　8.10　數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù)的應(yīng)用
第9章　計(jì)算機(jī)輔助散斑干涉術(shù)
　9.1 計(jì)算機(jī)輔助散斑干涉的基本原理
　9.2　提高精度的擬合運(yùn)算方法
　9.3 實(shí)驗(yàn)測試及方法比較
第10章計(jì)算機(jī)輔助光彈性應(yīng)力分析方法
　10.1 光彈性應(yīng)力分析的原理　
　……
第11章　計(jì)算機(jī)輔助云紋技術(shù)及其應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
名詞索引