納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編2

一、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析 生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
GB/T 18735-2002 分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范
GB/T 19619-2004 納米材料術(shù)語
二、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 19315-2003 非晶、納米晶軟磁合金帶材
GB/T 19588-2004 納米鎳粉
GB/T 19589-2004 納米氧化鋅
GB/T 19590-2004 超微細(xì)碳酸鈣
GB/T 19591-2004 納米二氧化鈦
三、試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6524-2003 金屬粉末 粒度分布的測(cè)量 重力沉降光透法
GB/T 10722-2003 炭黑 總表面積和外表面積的測(cè)定 氮吸附法
GB 11847-1989 二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定 多點(diǎn)BET法
GB/T 12334-2001 金屬和其他非有機(jī)覆蓋層 關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則
GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測(cè)定 X射線小角散射法
GB/T 13390-1992 金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸附法
GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
GB/T 19077.1-2003 粒度分析 激光衍射法
GB/T 19346-2003 非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測(cè)試方法
GB/T 19587-2004 氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積
GB/T 19627-2005 粒度分析 光子相關(guān)光譜法
GB/T 19921-2005 硅拋光片表面顆粒測(cè)試方法
GB/T 19922-2005 硅片局部平整度非接觸式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
GB/T 20099-2006 樣品制備 粉末在液體中的分散方法
GB/T 20170.1-2006 稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物粒度分布的測(cè)定
GB/T 20170.2-2006 稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物比表面積的測(cè)定
GB/T 20307-2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則