統(tǒng)計過程控制體系（SPC）實施指南

定　價：￥30.00

作　者：	袁學(xué)成，胡湘洪編著
出版社：	中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	社會學(xué)方法

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ISBN：	9787506655545	出版時間：	2009-12-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	198	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書適用于ISO 9000審核員，ISO／TS 16949審核員，整車企業(yè)或汽車零部件企業(yè)專業(yè)技術(shù)人員以及軍工質(zhì)量管理人員，有利于相關(guān)專業(yè)技術(shù)人員掌握。本書還可供專業(yè)技術(shù)人員作培訓(xùn)教材使用。本書旨在介紹SPC設(shè)計的基本觀點和方法，著重對建立SPC體系所涉及的基礎(chǔ)知識進行必要的闡述，同時解釋了在實施SPC時需了解和掌握的其他統(tǒng)計技術(shù)以及SPC與其他統(tǒng)計技術(shù)之間的內(nèi)在聯(lián)系。本書的主要內(nèi)容包括：統(tǒng)計過程控制原理及應(yīng)用流程[過程概念；過程變差；局部措施和對系統(tǒng)采取措施；控制特性、子組和監(jiān)控頻率的確定；過程（控制）分類；SPC的三個目標(biāo)；從工程分析、在線控制到持續(xù)改進的基本程序]。測量系統(tǒng)分析，常見的計量型數(shù)據(jù)控制圖（也包括特別情況下的統(tǒng)計過程控制應(yīng)用，作業(yè)指導(dǎo)書和控制圖的轉(zhuǎn)換），常見的計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖，抽樣與分組的影響，目標(biāo)和離散的影響，用于多品種小批量生產(chǎn)過程控制的控制圖（歸一化處理），在ISO／TS 16949和軍工質(zhì)量管理體系中實施SPC的常見錯誤分析，以及如何建立SPC體系。

作者簡介

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圖書目錄

第1章統(tǒng)計過程控制原理及應(yīng)用流程
1.1 概述
1.2 過程概念
1.3 過程變差
1.4 局部措施和系統(tǒng)性措施
1.5 統(tǒng)計過程控制
1.6 控制特性、子組和監(jiān)控頻率的確定
1.7 過程(控制)分類
1.8 統(tǒng)計過程控制(SPC)的三個目標(biāo)
1.9 從工程分析、在線控制到持續(xù)改進的基本程序
第2章測量系統(tǒng)分析簡單介紹
2.1 測量系統(tǒng)分析相關(guān)術(shù)語和概念
2.2 測量系統(tǒng)評定注意事項
2.3 測量系統(tǒng)分析流程
2.4 結(jié)果分析
2.5 計量型測量系統(tǒng)分析方法
第3章常見的計量型數(shù)據(jù)控制圖
3.1 均值和極差控制圖(X拔-R圖)
3.2 均值和標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(X拔-S圖)
3.3 單值和移動極差控制圖(X-MR圖)
3.4 特別情況下的統(tǒng)計技術(shù)
3.5 作業(yè)指導(dǎo)書的要求和控制圖的轉(zhuǎn)換
第4章常見的計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖
4.1 概述
4.2 不合格品率的P圖
4.3 不合格品數(shù)的np圖
4.4 不合格品數(shù)的c圖
4.5 單位產(chǎn)品不合格數(shù)的μ圖
第5章實施sPC的常見錯誤分析
5.1 測量誤差較大的情形
5.2 分辨率的影響
5.3 過程或取樣分層
5.4 總體單值截尾的情況
5.5 其他例子
第6章案例分析
6.1 抽樣和分組
6.2 目標(biāo)和離散的影響
6.3 歸一化處理
6.4 利用控制圖進行持續(xù)改進
第7章電子元器件統(tǒng)計過程控制體系
7.1 概述
7.2 電子元器件統(tǒng)計過程控制體系的一般要求
7.3 預(yù)防性維護與預(yù)測性維護
7.4 SPC體系內(nèi)審
7.5 SPC體系實施計劃編制指南
7.6 實施SPC的流程
附錄一控制圖的計算公式和系數(shù)
附錄二標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)函數(shù)表
參考文獻