產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范國家標準應(yīng)用指南（GPS）

第1章 GPS標準的發(fā)展
1.1 概述
1.2 新的GPS標準構(gòu)建的基本思想
1.3 GPS標準實施的基本思路
1.4 GPS標準的意義和作用
第2章 GPS幾何公差標注
2.1 形狀、方向、位置和跳動公差標注
2.2 幾何公差標注的基本原則
2.3 幾何公差標注的基本要求和方法
2.4 幾何公差的定義和解釋
2.5 位置度公差注法
2.6 輪廓尺寸和公差注法
第3章 公差原則與相關(guān)要求
3.1 概述
3.2 公差原則
3.3 獨立原則
3.4 術(shù)語和定義
3.5 包容要求
3.6 最大實體要求
3.7 最小實體要求
第4章 基準和基準體系
4.1 術(shù)語及定義
4.2 基準的建立
4.3 基準體系的建立
4.4 基準的應(yīng)用示例
4.5 基準和基準體系的標注
4.6 基準和基準體系標注的綜合示例
4.7 基準目標
4.8 三基面體系
第5章 一般幾何公差
5.1 幾何精度設(shè)計的基本任務(wù)
5.2 一般公差的概念
5.3 一般幾何公差的標準公差值
5.4 圖樣標注示例
5.5 關(guān)于拒收
第6章 幾何誤差檢測
6.1 概述
6.2 幾何誤差檢測規(guī)定
6.3 形狀誤差及其評定
6.4 方向、位置和跳動誤差及其評定
6.5 基準的建立和體現(xiàn)
6.6 檢測方案
6.7 最小區(qū)域與定向最小區(qū)域判別法
第7章 直線度誤差檢測
7.1 概述
7.2 術(shù)語和定義
7.3 直線度誤差評定方法
7.4 直線度誤差檢測方法
7.5 數(shù)據(jù)處理
第8章 平面度誤差檢測
8.1 基本概念
8.2 術(shù)語和定義
8.3 平面度誤差的測量與評定方法
8.4 平面度誤差測量方法
8.5 平面度誤差的評定
8.6 綜合示例
8.7 仲裁
8.8 GB／T 24630—2009有關(guān)問題說明
第9章 圓度、圓柱度誤差檢測
9.1 基本概念
9.2 術(shù)語、定義及參數(shù)
9.3 圓度誤差評定
9.4 圓柱度測量
第10章 圓柱結(jié)合的極限與配合
10.1 概述
10.2 術(shù)語及定義
10.3 極限制
10.4 配合制
10.5 公差帶與配合的選用
10.6 配制配合
10.7 大尺寸工件的標準公差和基本偏差
10.8 小尺寸的孔、軸公差帶
10.9 線性和角度尺寸的一般公差
10.10 尺寸檢驗
第11章 圓錐結(jié)合的極限與配合
11.1 概述
11.2 術(shù)語和定義
11.3 系列
11.4 圓錐公差
11.5 圓錐配合
11.6 圓錐量規(guī)
第12章 表面結(jié)構(gòu)的評定參數(shù)
12.1 概述
12.2 術(shù)語發(fā)展概況
12.3 輪廓參數(shù)的術(shù)語及數(shù)值
12.4 圖形參數(shù)的術(shù)語及算法
12.5 具有復合加工特征的表面參數(shù)的術(shù)語及算法
12.6 表面粗糙度參數(shù)值的選擇
第13章 表面結(jié)構(gòu)的圖樣標注
13.1 概述
13.2 術(shù)語和定義
13.3 表面結(jié)構(gòu)完整圖形符號的組成
13.4 表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的標注
13.5 加工方法或相關(guān)信息的注法
13.6 表面紋理的注法
13.7 加工余量的注法
13.8 表面結(jié)構(gòu)要求及數(shù)值標注方法的總結(jié)
13.9 表面結(jié)構(gòu)要求在圖樣和其他技術(shù)產(chǎn)品文件中的注法
13.10 圖形符號的比例和尺寸
13.11 表面結(jié)構(gòu)符號的含義
13.12 表面結(jié)構(gòu)代號和標注示例
13.13 控制表面功能的最少標注
第14章 表面結(jié)構(gòu)測量和儀器校準
14.1 概述
14.2 術(shù)語和定義
14.3 輪廓法評定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法
14.4 輪廓法接觸(觸針)式儀器的標稱特性
14.5 輪廓法相位修正濾波器的計量特性
14.6 輪廓法測量標準
14.7 接觸(觸針)式儀器的校準
14.8 三維表面區(qū)域法研究及發(fā)展概況簡介