能量色散X射線熒光光譜

前言
緒論 能量色散和波長色散x射線熒光譜的比較
0.1 概述
0.2 wdxrf和edxrf譜儀色散方法
0.3 用于wdxrf和edxrf比較的譜儀
0.4 wdxrf和edxrf譜儀本身引起的譜線干擾
0.5 檢出限
0.6 分辨率
0.7 準確度和精密度
0.8 分析時間
0.9 edxrf和wdxrf譜儀比較小結
0.1 0edxrf和wdxrf譜儀合為一體的譜儀
參考文獻
第一章 x射線熒光光譜物理學基礎
1.1 x射線的本質(zhì)和定義
1.2 x射線與物質(zhì)的相互作用
1.3 莫塞萊（moseley）定律
1.4 熒光產(chǎn)額
1.5 譜線分數(shù)
參考文獻
第二章 激發(fā)和激發(fā)源
2.1 x射線管
2.2 原級譜激發(fā)
2.3 二次靶激發(fā)
2.4 放射性核素激發(fā)源
2.5 同步輻射光源
2.6 質(zhì)子激發(fā)
參考文獻
第三章 探測器
3.1 概述
3.2 x射線探測器的主要技術指標
3.3 能量探測器組成
3.4 常用的探測器簡介
參考文獻
第四章 能量色散x射線熒光光譜儀結構
4.1 概述
4.2 通用型和手持式edxrf譜儀測量單元
4.3 微束edxrf譜儀測量單元
4.4 偏振edxrf譜儀測量單元
4.5 全反射edxrf譜儀測量單元
4.6 測量單元中激發(fā)系統(tǒng)
4.7 探測器
4.8 記錄單元
參考文獻
第五章 譜處理
5.1 引言
5.2 感興趣區(qū)的設置和ka/kb強度比的應用
5.3 基準譜在譜處理中的應用
5.4 分析函數(shù)在譜處理中的應用
5.5 偏最小二乘法
參考文獻
第六章 基體效應
6.1 引言
6.2 元素間吸收增強效應
6.3 物理化學效應
參考文獻
第七章 元素間吸收增強效應的校正
7.1 引言
7.2 基本參數(shù)法
7.3 理論影響系數(shù)法
7.4 經(jīng)驗影響系數(shù)法
7.5 基本參數(shù)法和影響系數(shù)法的比較
參考文獻
第八章 散射線在校正基體效應中的應用
8.1 引言
8.2 散射線校正吸收效應的基本原理
8.3 散射線在基體校正中的應用
參考文獻
第九章 定性和半定量分析
9.1 概述
9.2 定性和半定量分析條件的設定
9.3 定性分析步驟
9.4 半定量分析的基本原理
9.5 rhk?？灯疹D散射線的定量分析實例
9.6 改善半定量分析結果準確度的方法
9.7 結論
參考文獻
第十章 定量分析方法（1）——分析條件的設置
10.1 概述
10.2 取樣和制樣
10.3 分析條件的選擇
參考文獻
第十一章 定量分析方法（2）——校準曲線的制定
11.1 概述
11.2 校準曲線模式
11.3 凈強度
11.4 校準曲線的制定
11.5 定量分析方法的評價
11.6 譜儀漂移校正
參考文獻
第十二章 定量分析（3）——鍍層和薄膜材料分析
12.1 概述
12.2 常規(guī)定量分析方法在單層樣分析中的應用
12.3 基本參數(shù)法應用于多層鍍膜分析
12.4 三維共聚焦xrf譜儀用多層膜厚度分析
參考文獻
第十三章 xrf定量分析中不確定度評定
13.1 引言
13.2 名詞術語
13.3 測量結果的分布
13.4 測量不確定度
13.5 測量不確定度的報告
13.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差和光子計數(shù)的不確定度
13.7 異常數(shù)據(jù)的剔除
參考文獻
第十四章 xrf標準方法
14.1 概述
14.2 標準的分類
14.3 我國標準的編號
14.4 我國的xrf標準
14.5 xrf國際標準
14.6 標準物質(zhì)
參考文獻
第十五章 樣品制備
15.1 概述
15.2 固體塊樣的制備
15.3 粉末和粉末壓片的制備
15.4 玻璃熔片的制備
15.5 其他樣品制備方法
參考文獻
第十六章 地質(zhì)樣品分析
16.1 引言
16.2 edxrf譜儀在地質(zhì)樣品現(xiàn)場分析中的應用
16.3 edxrf譜儀在實驗室分析中的應用
16.4 μ-edxrf譜儀在地質(zhì)分析中的應用
參考文獻
第十七章 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)分析
17.1 概述
17.2 樣品制備
17.3 rolls篩選的方法
參考文獻
第十八章 文物分析
18.1 引言
18.2 edxrf譜儀在文物分析中的應用
18.3 edxrf譜儀應用于古陶瓷斷源、斷代的必要條件
18.4 小結
參考文獻
第十九章 水泥原材料分析
19.1 引言
19.2 分析對象
19.3 基體效應
19.4 樣品制備
19.5 測定條件
19.6 校準曲線的制定
19.7 精密度
19.8 準確度
參考文獻
附錄