材料分析方法

第1篇  材料X射線衍射分析
　第1章  X射線物理學(xué)基礎(chǔ)
　  1.1  X射線與電磁波譜
　  1.2  X射線源
　  1.3  X射線譜
　    1.3.1 連續(xù)X射線譜
　    1.3.2  特征X射線譜
　  1.4  X射線與物質(zhì)的相互作用
　    1.4.1  X射線的衰減
　    1.4.2  X射線的真吸收
　    1.4.3  吸收限的應(yīng)用
　    1.4.4  X射線的散射
　  習(xí)題
　第2章  X射線衍射
　  2.1  晶體學(xué)基礎(chǔ)
　    2.1.1  布拉維點(diǎn)陣
　    2.1.2  晶體學(xué)指數(shù)
　    2.1.3  晶面間距
　    2.1.4  晶面夾角
　  2.2  倒易點(diǎn)陣
　    2.2.1  倒易點(diǎn)陣中基本矢量的定義
　    2.2.2  倒易陣胞的基本性質(zhì)
　    2.2.3  倒易點(diǎn)陣與倒易矢量
　  2.3  布拉格定律
　    2.3.1  布拉格方程的導(dǎo)出
　    2.3.2  布拉格方程的討論
　  2.4  衍射矢量方程及厄瓦爾德圖解
　    2.4.1  衍射矢量方程
　    2.4.2  厄瓦爾德圖解
　  2.5  X射線衍射方法
　  習(xí)題
　第3章  X射線衍射強(qiáng)度
　  3.1  電子對(duì)X射線的散射
　  3.2  原子對(duì)X射線的散射
　  3.3  單胞對(duì)X射線的散射與結(jié)構(gòu)因數(shù)
　    3.3.1  結(jié)構(gòu)因數(shù)公式的推導(dǎo)
　    3.3.2  幾種常見點(diǎn)陣的結(jié)構(gòu)因數(shù)計(jì)算
　  3.4  多晶體X射線衍射束的強(qiáng)度
　    3.4.1  衍射的積分強(qiáng)度
　    3.4.2  衍射積分強(qiáng)度的表達(dá)式
　  3.5  多晶體X射線衍射方法
　    3.5.1  多晶體衍射圖像的形成
　    3.5.2  德拜—謝樂法
　    3.5.3  X射線衍射儀
　  習(xí)題
　第4章  物相分析及點(diǎn)陣參數(shù)精確測定
　  4.1  物相的定性分析
　    4.1.1  定性分析基本原理
　    ……
　第5章  宏觀殘余應(yīng)力的測定
　第6章  多晶體織構(gòu)的測定
第2篇  材料電子顯微分析
　第7章  電子光學(xué)基礎(chǔ)
　第8章  透射電子顯微鏡
　第9章  電子衍射
　第10章  晶體薄膜衍襯成像分析
　第11章  掃描電子顯微鏡
　第12章  電子探針顯微鏡
第3篇  材料物理性能分析
　第13章  材料的聲學(xué)性能
　第14章  材料的熱學(xué)性能
附錄1  質(zhì)量吸收系數(shù)μ1/ρ
附錄2  原子散射因數(shù)
附錄3  各種點(diǎn)陣的結(jié)構(gòu)因數(shù)f2hkl
附錄4  粉末法的多重性因數(shù)phkr
附錄5  角因數(shù)
附錄6  德拜函數(shù)
附錄7  某些物質(zhì)的特征溫度
附錄8
附錄9  常用金屬材料應(yīng)力測定常數(shù)
附錄10  常見晶體標(biāo)準(zhǔn)電子衍射花樣
參考文獻(xiàn)