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企業(yè)技術創(chuàng)新能力評估研究:基于專利濫用的視角

企業(yè)技術創(chuàng)新能力評估研究:基于專利濫用的視角

定 價:¥20.00

作 者: 趙耀 著
出版社: 吉林大學出版社
叢編項:
標 簽: 經(jīng)營管理

ISBN: 9787560163468 出版時間: 2010-09-01 包裝: 平裝
開本: 大32開 頁數(shù): 236 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本書將技術創(chuàng)新能力放在企業(yè)運營和專利濫用的現(xiàn)實背景下,分析評估專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新能力的影響,從產(chǎn)業(yè)組織理論、知識管理理論、技術創(chuàng)新理論和制度經(jīng)濟學的角度闡釋了專利濫用的內(nèi)容、本質(zhì)及作用機理,從企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的外部環(huán)境和系統(tǒng)要素兩大方面分析了專利濫用的影響。全書共分為九章,具體內(nèi)容包括企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)及企業(yè)技術創(chuàng)新能力的一般分析、專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)影響的理論分析、專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)影響的定量分析、專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新能力影響的實證分析、專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新能力影響的評估等。該書可供各大專院校作為教材使用,也可供從事相關工作的人員作為參考用書使用。

作者簡介

  趙耀,1969年3月出生,安徽人,曾在部屬國企和省委機關工作,高級經(jīng)濟師。1997年畢業(yè)于南京大學公共管理學院行政學專業(yè),獲法學碩士學位;2010年畢業(yè)于東南大學經(jīng)濟管理學院管理科學與工程專業(yè),獲管理學博士學位。主要研究方向為產(chǎn)業(yè)經(jīng)濟學。在《江海學刊》《江蘇社會科學》《南京社會科學》《中國行政管理》《統(tǒng)計與決策》《理論與現(xiàn)代化》等國內(nèi)核心期刊上發(fā)表十多篇理論文章,參與省級課題一項。

圖書目錄

第一章 引言
1.1 研究背景和意義
1.1.1 問題的現(xiàn)實背景
1.1.2 問題的定位
1.1.3 研究意義
1.2 研究內(nèi)容和路徑
1.3 本文的創(chuàng)新之處
第二章 概念定義及研究概況綜述
2.1 專利研究
2.1.1 專利長度
2.1.2 專利寬度
2.1.3 專利高度
2.2 專利濫用研究
2.3 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)研究
2.4 企業(yè)技術創(chuàng)新能力及其評價指標研究
第三章 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)及企業(yè)技術創(chuàng)新能力的一般分析
3.1 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的模型解構
3.1.1 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的構成
3.1.2 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的外部環(huán)境
3.1.3 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的功能
3.2 企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的運行
3.3 企業(yè)技術創(chuàng)新能力的評價指標
第四章 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)影響的理論分析
4.1 專利濫用的影響因素
4.1.1 專利濫用的相關市場
4.1.2 市場勢力與專利濫用
4.1.3 市場勢力的影響分析
4.2 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)外部環(huán)境的影響
4.2.1 專利濫用與市場競爭
4.2.2 專利濫用與知識擴散
4.3 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)的影響路徑及作用機理
第五章 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新系統(tǒng)影響的定量分析
5.1 專利產(chǎn)品搭售非專利產(chǎn)品問題
5.2 專利拒絕許可的市場關閉問題
5.3 專利聯(lián)營問題
5.3.1 封閉式專利聯(lián)營的交叉許可
5.3.2 開放式專利聯(lián)營的一攬子許可
5.4 專利濫用的知識擴散效應問題
第六章 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新能力影響的實證分析
6.1 理論假設
6.1.1 專利濫用
6.1.2 市場競爭
6.1.3 知識擴散
6.2 問卷設計和數(shù)據(jù)收集
6.2.1 問卷設計
6.2.2 樣本數(shù)據(jù)描述
6.3 樣本數(shù)據(jù)信度和效度分析
6.3.1 樣本的信度和效度分析方法
6.3.2 樣本數(shù)據(jù)的探索性分析結果
6.4 結構方程模型概述
6.4.1 測量模型
6.4.2 驗證性因子分析
6.4.3 結構方程模型的建模步驟
6.4.4 結構方程模型的優(yōu)點
6.5 結構方程模型演算過程
6.5.1 初始SEM模型和路徑圖
6.5.2 潛變量檢驗
6.5.3 初始SEM模型的檢驗
6.5.4 修正SEM模型及其檢驗
6.6 理論假設的檢驗結果分析
6.6.1 理論假設的檢驗
6.6.2 結果分析
6.7 本章 結論
第七章 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新能力影響的評估
7.1 基于AHP-模糊綜合評價的一般分析
7.1.1 AHP-模糊綜合評價
7.1.2 評價指標權重的確定
7.2 考慮專利濫用因素的評估方法
7.3 專利濫用對企業(yè)技術創(chuàng)新能力的具體影響
7.3.1 專利產(chǎn)品搭售非專利產(chǎn)品對企業(yè)技術創(chuàng)新能力的影響
7.3.2 專利拒絕許可對企業(yè)技術創(chuàng)新能力的影響
7.3.3 專利聯(lián)營對企業(yè)技術創(chuàng)新能力的影響
第八章 企業(yè)技術創(chuàng)新能力對專利濫用影響的分析
8.1 以知識為紐帶的企業(yè)技術創(chuàng)新能力、知識交易與專利濫用
8.1.1 知識交易的途徑
8.1.2 知識交易對專利濫用影響的理論分析
8.1.3 基于知識聯(lián)盟的企業(yè)技術創(chuàng)新能力對專利濫用影響的定量分析
8.2 技術創(chuàng)新、市場競爭與專利濫用
8.2.1 市場結構與技術創(chuàng)新
8.2.2 企業(yè)技術創(chuàng)新與技術市場的互動對專利濫用影響的定量分析
8.3 順應技術創(chuàng)新需求的專利制度的跟進
8.3.1 技術創(chuàng)新對專利制度演化的作用
8.3.2 專利制度對技術創(chuàng)新的回應
8.3.3 累積創(chuàng)新下的專利制度安排
第九章 結束語
9.1 本文的主要結論
9.2 本文的借鑒意義
9.2.1 立法要與時俱進,從源頭上防范專利濫用
9.2.2 采取積極的規(guī)制手段,有效維護市場環(huán)境
9.2.3 制定針對性的專利戰(zhàn)略,合理規(guī)避專利濫用
9.2.4 立足企業(yè)自主創(chuàng)新,切實提高創(chuàng)新能力
9.3 本文研究的局限與展望
參考文獻
附錄(調(diào)查問卷)

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