幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用

　　《幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》作者有多年幾何精度設(shè)計(jì)與質(zhì)量控制理論、坐標(biāo)測(cè)量理論、技術(shù)和應(yīng)用研究、與多個(gè)行業(yè)和領(lǐng)域的企業(yè)成功合作經(jīng)歷，并直接參與了多項(xiàng)新一代GPS標(biāo)準(zhǔn)的制修訂工作，積累了豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。在整合原本科教學(xué)講義，GPS、GD&T和CMM培訓(xùn)講義的基礎(chǔ)上，結(jié)合ISO、GB和ASME相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、坐標(biāo)測(cè)量機(jī)制造商的資料，以及企業(yè)和網(wǎng)絡(luò)提供的案例編撰了《幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》?！稁缀巫鴺?biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》基于新一代GPS標(biāo)準(zhǔn)體系和美國(guó)ASMEGD&了相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，在介紹坐標(biāo)測(cè)量原理的同時(shí)，通過(guò)大量的實(shí)際案例，結(jié)合傳統(tǒng)測(cè)量方法進(jìn)行了比對(duì)描述，希望使讀者能更好地理解《幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》的內(nèi)容，同時(shí)也對(duì)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)應(yīng)用過(guò)程中的一系列問(wèn)題進(jìn)行了探討，希望能對(duì)讀者的測(cè)量實(shí)踐有所啟發(fā)和幫助?！稁缀巫鴺?biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》可以作為高校精度設(shè)計(jì)和技術(shù)測(cè)量課程的輔助教材，也可作為從事機(jī)械產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造、檢測(cè)和質(zhì)保人員的參考書(shū)籍，更希望《幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》能成為坐標(biāo)測(cè)量從業(yè)人員的一本工具書(shū)。全國(guó)產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)秘書(shū)長(zhǎng)坍翠新研究員為《幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》的立項(xiàng)和出版提供了指導(dǎo)與幫助。

暫缺《幾何坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》作者簡(jiǎn)介