光學(xué)測試技術(shù)

緒論 光學(xué)測試技術(shù)概述
0.1 光學(xué)測試技術(shù)的特點
0.2 光學(xué)測試系統(tǒng)的組成
0.3 光學(xué)測試技術(shù)的現(xiàn)狀
0.4 光學(xué)測試方法的選擇
0.5 光學(xué)測試技術(shù)的發(fā)展方向
練習(xí)與思考題
本章參考文獻
第1章 光干涉技術(shù)
1.1 光干涉的基礎(chǔ)理論
1.1.1 相干光場的性質(zhì)
1.1.2 光的干涉條件
1.1.3 干涉條紋的對比度
1.1.4 干涉條紋的形狀與間隔
1.2 雙光束干涉技術(shù)
1.2.1 平行平板雙光束干涉
1.2.2 等厚干涉與斐索干涉儀
1.2.3 泰曼-格林干涉儀
1.2.4 馬赫-曾德爾干涉儀
1.2.5 數(shù)字干涉儀
1.3 多光束干涉技術(shù)
1.3.1 平行平板的多光束干涉條紋
1.3.2 法布里-珀羅干涉儀
1.3.3 應(yīng)用法布里-珀羅干涉儀測光譜線的精細結(jié)構(gòu)
1.3.4 應(yīng)用法布里-珀羅干涉儀比較波長
1.4 剪切干涉技術(shù)
1.4.1 波面剪切的形成
1.4.2 剪切干涉測量原理
1.4.3 剪切干涉儀及其應(yīng)用
1.5 外差干涉技術(shù)
1.5.1 外差干涉技術(shù)的提出
1.5.2 產(chǎn)生激光外差干涉的途徑
1.5.3 外差干涉測長原理
1.5.4 激光測振儀
1.6 全息干涉技術(shù)
1.6.1 全息干涉基本原理
1.6.2 全息干涉技術(shù)及應(yīng)用
1.6.3 激光全息干涉測量技術(shù)的應(yīng)用
1.7 激光散斑干涉技術(shù)
1.7.1 散斑及其形成的原理
1.7.2 散斑的性質(zhì)
1.7.3 散斑照相測量原理
1.7.4 散斑干涉測量技術(shù)
1.7.5 散斑剪切干涉術(shù)
1.7.6 散斑干涉測量的應(yīng)用
練習(xí)與思考題
本章參考文獻
第2章 光衍射技術(shù)
2.1 激光衍射測量理論
2.1.1 衍射的分類
2.1.2 菲涅耳衍射
2.1.3 夫瑯禾費衍射
2.1.4 激光衍射測量技術(shù)
2.2 微光學(xué)中的光衍射理論
2.2.1 標量衍射理論
2.2.2 矢量衍射理論
2.3 衍射光學(xué)元件
2.3.1 衍射光柵
2.3.2 衍射光的控制與效率
2.3.3 衍射光柵的應(yīng)用
2.4 Talbot效應(yīng)及其應(yīng)用技術(shù)
2.4.1 Talbot效應(yīng)原理
2.4.2 Talbot效應(yīng)的應(yīng)用
2.5 莫爾條紋技術(shù)
2.5.1 條紋形成原理
2.5.2 衍射干涉原理
2.5.3 莫爾條紋的特點
2.5.4 莫爾條紋光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)成與分類
2.5.5 莫爾條紋測試技術(shù)應(yīng)用
練習(xí)與思考題
本章參考文獻
第3章 光調(diào)制解調(diào)及掃描技術(shù)
3.1 光調(diào)制技術(shù)
3.2 常用光調(diào)制技術(shù)
3.2.1 光強度的空間調(diào)制技術(shù)
3.2.2 光強度的時間調(diào)制技術(shù)
3.2.3 光的頻率調(diào)制技術(shù)
3.2.4 光的相位調(diào)制技術(shù)
3.2.5 光的偏振態(tài)調(diào)制技術(shù)
3.3 調(diào)制信號的解調(diào)技術(shù)
3.3.1 調(diào)幅信號的解調(diào)
3.3.2 調(diào)相信號的解調(diào)與相敏檢波
3.4 光掃描技術(shù)
3.4.1 光掃描技術(shù)原理
3.4.2 光強衍射掃描技術(shù)
3.4.3 相位調(diào)制掃描技術(shù)
3.4.4 白光掃描干涉技術(shù)
3.5 激光多普勒技術(shù)
3.5.1 激光多普勒效應(yīng)
3.5.2 差動多普勒技術(shù)
3.5.3 激光多普勒測速技術(shù)
練習(xí)與思考題
本章參考文獻
第4章 光纖傳感技術(shù)
4.1 光纖原理與結(jié)構(gòu)
4.1.1 光纖結(jié)構(gòu)原理
4.1.2 光纖模式與傳輸
4.1.3 光纖中的偏振
4.2 光纖傳感的概念與類別
4.2.1 光纖傳感的定義及特點
4.2.2 光纖傳感系統(tǒng)的組成
4.2.3 光纖傳感系統(tǒng)的分類
4.2.4 調(diào)制原理分類
4.3 強度調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.3.1 介質(zhì)的吸收特性
4.3.2 透射式強度調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.3.3 光波模式強度調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.3.4 光吸收型強度調(diào)制光纖傳感技術(shù)
4.4 波長調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.4.1 黑體輻射波長調(diào)制技術(shù)
4.4.2 熒光波長調(diào)制技術(shù)
4.5 相位調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.6 偏振態(tài)調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.6.1 磁光效應(yīng)
4.6.2 磁光調(diào)制技術(shù)
4.6.3 溶液旋光性
4.7 傳光型光纖傳感技術(shù)
4.7.1 光纖微彎傳感技術(shù)
4.7.2 光纖輻射傳感技術(shù)
4.8 干涉型光纖傳感技術(shù)
4.8.1 光纖邁克耳孫干涉儀
4.8.2 光纖馬赫-曾德爾Mach-Zehnder干涉儀
4.8.3 光纖薩格納克干涉儀
4.8.4 光纖法布里-珀羅干涉儀
4.9 光纖布拉格光柵傳感技術(shù)
4.9.1 光纖布拉格光柵的原理
4.9.2 光纖布拉格光柵的應(yīng)變特性
4.9.3 光纖布拉格光柵的溫度傳感特性
4.9.4 光纖光柵傳感系統(tǒng)的基本組成
4.9.5 光纖光柵傳感器的敏感性
4.9.6 光纖光柵溫度與應(yīng)變交叉敏感特性
4.9.7 光纖光柵傳感器的波長解調(diào)技術(shù)
4.9.8 光纖光柵傳感器應(yīng)用技術(shù)
4.10 傳感器的復(fù)用技術(shù)
4.10.1 光纖傳感器網(wǎng)絡(luò)的一般形式
4.10.2 點傳感器的復(fù)用技術(shù)
4.10.3 分布式傳感技術(shù)
練習(xí)與思考題
本章參考文獻
第5章 光納米傳感與測量技術(shù)
5.1 納米光學(xué)與納米測量概述
5.2 倏逝波原理與傳感技術(shù)
5.2.1 倏逝波原理
5.2.2 基于倏逝波的傳感技術(shù)
5.3 表面等離子體共振技術(shù)
5.3.1 SPR技術(shù)原理
5.3.2 SPR技術(shù)的應(yīng)用
5.3.3 SPR傳感器的性能
5.4 近場光學(xué)探測技術(shù)
5.4.1 近場光學(xué)原理
5.4.2 光子隧道理論
5.4.3 近場探測技術(shù)
5.4.4 近場掃描光學(xué)顯微鏡的應(yīng)用
5.4.5 其他的納米級測試方法
5.5 光納米傳感技術(shù)的發(fā)展方向
5.5.1 亞波長光學(xué)元件技術(shù)
5.5.2 MOEMS技術(shù)
練習(xí)與思考題
本章參考文獻
附錄
A 光探測及信號處理技術(shù)
A.1 光信號探測技術(shù)
A.2 模擬電信號調(diào)理技術(shù)
A.3 數(shù)字信號處理技術(shù)
練習(xí)與思考題
參考文獻