現(xiàn)代光學測試技術

前言（Preface）
第1章 干涉測試基礎（Chapter 1Foundation of Interference Testing）
1.1 干涉與干涉術（Interference and Interferometry）
1.2 基本關系式（Basic Relations）
1.3 干涉條紋的特性（Characteristics of Interference Fringes）
1.4 不同頻率的單色平面波的干涉（ Interference of Monochromatic Plane Wave with Different Frequency）
1.5 球面波的干涉（Interference of Spherical Wave）
1.6 光源的相干性［9~11］（Coherence of Light Source）
1.7 對干涉儀元件的一般要求［12］（General Requirements for Interferometer Elements）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第2章 單頻干涉術（Chapter 2Mono?frequency Interferometry）
2.1 干涉儀及其分類（Interferometer and Classification）
2.2 波前形狀的研究（Researching of Wavefront Shape）
2.3 米基準的測定\[2~4\]（Measurement of Meter Benchmark）
2.4 長度測量（Measurement of Length）
2.5 位移測量（Displacement Measurement）
2.6 CCD?微機系統(tǒng)在干涉測長中的應用\[5，6\]（Application of CCD?computer System in Interference Length Measurement）
2.7 波面位相自動探測技術（Automatic Detection Technology of Wave Front Phase）
2.8 平行平板的楔度測量（Wedge Angle Measurement of Plane Parallel Plate）
2.9 小角度測量和介質折射率測量［16］（Measurement of Small Angle and Refractive Index）
2.10 激光波長測量\[17\]（Measurement of Laser Wavelength）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第3章 雙頻干涉術（Chapter 3Double Frequency Interferometry）
3.1 雙頻干涉術（Double Frequency Interferometry）
3.2 光頻調(diào)制技術（Light frequency Modulation Technology）
3.3 激光外差干涉儀\[6~9\]（Laser Heterodyne Interferometer）
3.4 外差偏振測距干涉儀\[10，11\]（Polarizing Heterodyne Range Finding Interferometer）
3.5 實時外差干涉儀\[12\]（Real?time Heterodyne Interferometer）
3.6 空氣折射率的測定\[13，14\]（Refractive Index Measurement of Air）
3.7 微振動和角度測量（Measurement of Micro?vibration and Angle）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第4章 莫爾干涉術（Chapter 4Moire Interferometry）
4.1 莫爾干涉測量原理（Measurement Principle of Moire Interference）
4.2 莫爾干涉術測位移（Displacement Measurement with Moire Interferometry）
4.3 莫爾干涉術測面形（Surface Contour Measurement with Moire Interferometry）
4.4 莫爾干涉術測變形和振動（Measurement of Deformation and Vibration with Moire Interferometry）
4.5 莫爾干涉術測流體折射率及其梯度（Refractive Index and Gradient Measurement of Fluid with Moire Interferometry）
4.6 外差莫爾干涉術測平面度\[15\]（Flatness Measurement with Heterodyne Moire Interferometry）
4.7 莫爾條紋的自動處理\[16，17\]（Automatic Processing of Moire Fringes）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第5章 全息術（Chapter 5Holography）
5.1 全息術原理（Holographic Principle）
5.2 全息圖的記錄、存儲和重現(xiàn)（Record， Storage and Reconstruction of Hologram）
5.3 全息圖的分類（Classification of Hologram）
5.4 全息圖的基本性質（Basic Characteristics of Hologram）
5.5 數(shù)字全息記錄與重建原理［5~9］（Principle of Digital Holographic Recording and Reconstruction）
5.6 全息術的應用（Holographic Application）
5.7 實驗中注意的問題（Notice in Experiments）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第6章 全息干涉術（Chapter 6Holographic Interferometry）
6.1 全息干涉術原理（Principle of Holographic Interferometry）
6.2 全息干涉術的特征（Characters of Holographic Interferometry）
6.3 實時全息干涉術（Real?Time Holographic Interferometry）
6.4 雙曝光干涉術（Double Exposure Holographic Interferometry）
6.5 時間平均全息干涉術（Time?average Holographic Interferometry）
6.6 頻閃照明全息干涉術（Holographic Interferometry with Stroboscopic Illumination）
6.7 全息等高線術（Holographic Contour Method）
6.8 反射照明全息圖的計算（Calculation of Reflective Illumination Hologram）
6.9 數(shù)字全息干涉術（Digital Holographic Interferometry）
6.10 全息干涉術的應用（Application of Holographic Interferometry）
6.11 計算全息圖檢驗非球面（Aspheric Surface Testing by Computer?generated Hologram）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第7章全信息測量技術（Chapter 7All Information Measurement Technology）
7.1 自動處理全息圖（Automatic Processing Hologram）
7.2 實時全息干涉術的全信息測量（All information Measurement of Real?time Holographic Interferometry）
7.3 雙曝光全息干涉術的全信息測量（All Information Measurement of Double?exposure Holographic Interferometry）
7.4 全信息測量的光學系統(tǒng)（Optical System of All Information Measurement）
7.5 電學系統(tǒng)與自控技術（Electrical System and Auto?control Technology）
7.6 表面變形的全信息測量（All Information Measurement of Deformed Surface）
7.7 膠體硬化時厚度變化的全信息測量\[12\]（All Information Measurement of Thickness Changing under Adhesive Shrinking）
7.8 基于EALCD的數(shù)字全息干涉術\[14\]（Digital Holographic Interferometry Based on EALCD）
7.9 四步數(shù)字相移全息干涉術三維變形測量\[17，18\]（3D Deformation Measurement Based on Four?step Digital Phase Shifting）
本章習題(Exercises）
本章術語(Terminologies）
參考文獻(References）
第8章散斑干涉術（Chapter 8Speckle Interferometry）
8.1 散斑計量學的發(fā)展歷程（Development Course of Speckle Metrology）
8.2 散斑及其特性（Speckle and Its Characteristics）
8.3 數(shù)字散斑照相術（Digital Speckle Photography）
8.4 數(shù)字散斑干涉術測物面形變（Digital Speckle Interferometry for Deformation Measurement）
8.5 數(shù)字散斑相關技術（Digital Speckle Correlation Technique）
8.6 剪切散斑干涉術（Shearing Speckle Interferometry）
本章習題（Exercises）
本章術語（Terminologies）
參考文獻（References）
第9章光學相關測試技術（Chapter 9Optical Correlation Test Technology）
9.1 光學信息處理技術（Technology of Optical Information Processing）
9.2 傅里葉變換原理（Principle of Fourier Transform）
9.3 范德爾?盧格特（Vander?lugt）相關器（Vander?lugt Correlator）
9.4 實時聯(lián)合變換相關器（Real?time Joint Transform Correlator）
9.5 基于實時聯(lián)合變換相關器的濾波技術（Filtering Technique Based on Real?time Joint Transform Correlator）
9.6 畸變不變目標識別技術（Distortion Invariant Target Recognition Technology）
本章習題（Exercises）
本章術語（Terminologies）
參考文獻（References）
第10章光源、記錄介質和探測器（Chapter 10Light Source， Recording Material and Detector）
10.1 全息干涉對光源的要求（The Requirements for Light Source of Holographic Interference）
10.2 激光光源（Laser Light Source）
10.3 對全息記錄材料的要求（The Requirements for Recording Materials in Holography）
10.4 鹵化銀照相乳膠（Halogenating Silver Photographic Emulsion）
10.5 光導熱塑料\[8\]（Photoconductor Thermoplastic Film）
10.6 硅酸鉍晶體\[9，10\]（BSO Crystal）
10.7 電視攝像機（Television Camera）
10.8 固體圖像傳感器\[13，14\]（Solid Image Sensor）
10.9 空間光調(diào)制器（Spatial Light Modulator）
本章習題（Exercises）
本章術語（Terminologies）
參考文獻（References）