材料科學(xué)研究與測試方法（第2版）

定　價(jià)：￥44.80

作　者：	朱和國，王新龍編著
出版社：	東南大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	工學(xué) 教材研究生/本科/專科教材

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ISBN：	9787564143701	出版時(shí)間：	2013-08-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	343	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《材料科學(xué)研究與測試方法（第2版）》首先介紹了晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)，然后系統(tǒng)介紹了X射線的物理基礎(chǔ)、X射線衍射的方向與強(qiáng)度、多晶體X射線衍射分析的方法、X射線衍射儀及其在物相鑒定、宏微觀應(yīng)力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構(gòu)分析、小角X射線散射等方面的應(yīng)用；介紹了電子衍射的物理基礎(chǔ)、透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、衍射成像、運(yùn)動(dòng)學(xué)襯度理論、高分辨透射電子顯微技術(shù)、掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、電子探針及其應(yīng)用；介紹了AES、XPS、sTM、AFM、LEEI）等常用表面分析技術(shù)和TG、DTA、DSC等常用熱分析技術(shù)的原理、特點(diǎn)及其應(yīng)用；最后簡要介紹了紅外光譜和拉曼光譜等。書中研究和測試的材料包括金屬材料、無機(jī)非金屬材料、高分子材料、非晶態(tài)材料、金屬間化合物、復(fù)合材料等。對每章內(nèi)容作了提綱式的小結(jié)，并附有適量的思考題。書中采用了一些作者尚未發(fā)表的圖片和曲線，同時(shí)在實(shí)例分析中還注重引入了一些當(dāng)前材料界最新的研究成果?！恫牧峡茖W(xué)研究與測試方法（第2版）》可作為材料科學(xué)與工程學(xué)科本科生的學(xué)習(xí)用書，也可供相關(guān)學(xué)科與專業(yè)的研究生、教師和科技工作者使用。

作者簡介

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圖書目錄

1 晶體學(xué)基礎(chǔ)
1.1 晶體及其基本性質(zhì)
1.1.1 晶體的概念
1.1.2 空間點(diǎn)陣的四要素
1.1.3 布拉菲陣胞
1.1.4 典型晶體結(jié)構(gòu)
1.1.5 晶體的基本性質(zhì)
1.1.6 準(zhǔn)晶體簡介
1.2 晶向、晶面及晶帶
1.2.1 晶向及其表征
1.2.2 晶面及其表征
1.2.3 晶帶及其表征
1.3 晶體的宏觀對稱及點(diǎn)群
1.3.1 對稱的概念
1.3.2 對稱元素及對稱操作
1.3.3 對稱元素的組合及點(diǎn)群
1.3.4 晶體的分類
1.3.5 準(zhǔn)晶體的點(diǎn)群及其分類
1.3.6 點(diǎn)群的國際符號(hào)
1.3.7 點(diǎn)群的圣佛利斯符號(hào)
1.4 晶體的微觀對稱與空間群
1.4.1 晶體的微觀對稱
1.4.2 晶體的空間群及其符號(hào)
1.5 晶體的投影
1.5.1 球面投影
1.5.2 極式網(wǎng)與烏氏網(wǎng)
1.5.3 晶帶的極射赤面投影
1.5.4 標(biāo)準(zhǔn)極射赤面投影圖（標(biāo)準(zhǔn)極圖）
1.6 倒易點(diǎn)陣
1. 6.1 正點(diǎn)陣
1.6.2 倒點(diǎn)陣（倒易點(diǎn)陣）
1.6.3 正倒空間之間的關(guān)系
1.6.4 倒易矢量的基本性質(zhì)
1.6.5 晶帶定律
1.6.6 廣義晶帶定律
本章小結(jié)
思考題
2 X射線的物理基礎(chǔ)
3 X射線的衍射原理
4 X射線的多晶衍射分析及其應(yīng)用
5 電子顯微分析的基礎(chǔ)
6 透射電子顯微鏡
7 薄晶體的高分辨像
8 掃描電子顯微鏡及電子探針
9 表面分析技術(shù)
10 熱分析技術(shù)
11 紅外光譜和拉曼光譜
附錄
參考文獻(xiàn)