晶體光學(xué)（彩色第2版）

第一章 基本概念
1.1 光的性質(zhì)與傳播
1.2 自然光和偏光
1.3 光的折射與全反射
1.4 折射率與折射率儀
1.5 光的雙折射
1.6 一軸晶和二軸晶
1.7 習(xí)題
第二章 光率體
2.1 光率體
2.2 一軸晶光率體
2.3 二軸晶光率體
2.4 光率體的主要參數(shù)
2.5 光性方位
2.6 習(xí)題
第三章 偏光顯微鏡
3.1 偏光顯微鏡的構(gòu)造
3.2 偏光顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)
3.3 偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)
3.4 薄片的制作
3.5 習(xí)題
第四章 單偏光系統(tǒng)下礦物的光學(xué)性質(zhì)
4.1 髟態(tài)
4.2 解理
4.3 吸收
4.4 界面
4.5 習(xí)題
第五章 正交偏光系統(tǒng)下礦物的光學(xué)性質(zhì)
5.1 消光
5.2 干涉原理
5.3 干涉色
5.4 干涉色級序的確定
5.5 補色原理與補色器
5.6 消光類型與消光角
5.7 延性
5.8 雙晶
5.9 習(xí)題
第六章 聚斂偏光系統(tǒng)下礦物的光學(xué)性質(zhì)
6.1 聚斂偏光系統(tǒng)
6.2 一軸晶干涉圖
6.3 二軸晶干涉圖
6.4 光率體色散
6.5 習(xí)題
第七章 實驗
7.1 實驗薄片中常見礦物的光性特征
7.2 實驗一偏光顯微鏡的認識和校正
7.3 實驗二礦物折射率相對高低比較、解理角測量、多色性和吸收性觀察
7.4 實驗三干涉色級序的確定、消光角的測定、多色性和吸收性公式的測定
7.5 實驗四一軸晶干涉圖的認識及光性符號的測定
7.6 實驗五二軸晶干涉圖的認識及光性符號的測定
7.7 實驗六偏光顯微鏡下礦物主要光性的系統(tǒng)測定
參考文獻
《晶體光學(xué)》詞匯的中英對照及其索引
再版后記