高速數(shù)字接口原理與測(cè)試指南

上部 高速數(shù)字信號(hào)測(cè)量原理
第1章 無(wú)處不在的數(shù)字接口
第2章 數(shù)字信號(hào)基礎(chǔ)
2.1 什么是數(shù)字信號(hào)(Digital Signal)
2.2 數(shù)字信號(hào)的上升時(shí)間(Rising Time)
2.3 數(shù)字信號(hào)的帶寬(Bandwidth)
2.4 數(shù)字信號(hào)的建立/保持時(shí)間(Setup/Hold Time)
2.5 并行總線與串行總線(Parallel and Serial Bus)
2.6 單端信號(hào)與差分信號(hào)(Single-ended and Differential Signals)
2.7 數(shù)字信號(hào)的時(shí)鐘分配(Clock Distribution)
2.8 串行總線的8b/10b編碼(8b/10b Encoding)
2.9 偽隨機(jī)碼型(PRBS)
2.10 傳輸線對(duì)數(shù)字信號(hào)的影響(Transmission Line Effects)
2.11 數(shù)字信號(hào)的預(yù)加重(Pre-emphasis)
2.12 數(shù)字信號(hào)的均衡(Equalization)
2.13 數(shù)字信號(hào)的抖動(dòng)(Jitter)
2.14 擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)
第3章 數(shù)字測(cè)試基礎(chǔ)
3.1 數(shù)字信號(hào)的波形分析(Waveform Analysis)
3.2 數(shù)字信號(hào)的眼圖分析(Eye Diagram Analysis)
3.3 眼圖的參數(shù)測(cè)量(Eye Diagram Measurement)
3.4 眼圖的模板測(cè)試(Mask Test)
3.5 數(shù)字信號(hào)抖動(dòng)的成因(Root Cause of Jitter)
3.6 數(shù)字信號(hào)的抖動(dòng)分解(Jitter Seperation)
3.7 串行數(shù)據(jù)的時(shí)鐘恢復(fù)(Clock Recovery)
3.8 示波器的抖動(dòng)測(cè)量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)
3.9 相位噪聲測(cè)量(Phase Noise Measurement)
3.10 傳輸線的特征阻抗(Characteristic Impedance)
3.11 特征阻抗的TDR測(cè)試(Time Domain Reflectometer)
3.12 傳輸線的建模分析(Transmission Line Modelling)
第4章 實(shí)時(shí)示波器原理
4.1 模擬示波器(Analog Oscilloscope)
4.2 數(shù)字存儲(chǔ)示波器(Digital Storage Oscilloscope)
4.3 示波器的帶寬(Bandwidth)
4.4 示波器的頻響方式(Frequency Response)
4.5 示波器帶寬對(duì)測(cè)量的影響(Bandwidth Impact)
4.6 示波器的帶寬增強(qiáng)技術(shù)(Bandwidth Enhancement Technology)
4.7 示波器的頻帶交織技術(shù)(Bandwidth Interleaving Technology)
4.8 示波器的采樣技術(shù)(Sampling Technology)
4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)
4.10 示波器的直流電壓測(cè)量精度(DC Voltage Accuracy)
4.11 示波器的時(shí)間測(cè)量精度(Delta-Time Accuracy)
4.12 示波器的等效位數(shù)(ENOB)
4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)
4.14 示波器的內(nèi)存深度(Memory Depth)
4.15 示波器的死區(qū)時(shí)間(Dead Time)
4.16 示波器的顯示模式(Display Mode)
4.17 示波器的觸發(fā)(Trigger)
4.18 示波器的觸發(fā)條件(Trigger Conditions)
4.19 示波器的觸發(fā)模式(Trigger Mode)
4.20 示波器的測(cè)量速度(Measurement update rate)
附錄 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理
第5章 示波器探頭原理
5.1 高阻無(wú)源探頭(High Impedance Passive Probe)
5.2 無(wú)源探頭的常用附件(Passive Probe Accessories)
5.3 低阻無(wú)源探頭(Low Impedance Passive Probe)
5.4 有源探頭(Active Probe)
5.5 差分探頭(Differential Probe)
5.6 電流探頭(Current Probe)
5.7 高靈敏度探頭(High-sensitivity Probe)
5.8 探頭連接前端對(duì)測(cè)量的影響(Probe Head)
5.9 探頭衰減比對(duì)測(cè)量的影響(Probe Attenuation Ratio)
5.10 探頭的校準(zhǔn)方法(Probe Calibration)
第6章其他常用數(shù)字測(cè)量?jī)x器6.1采樣示波器(Sampling Oscilloscope)6.2矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與TDR(VNA and TDR)6.3邏輯分析儀(Logic Analyzer)6.4協(xié)議分析儀(Protocol Analyzer)6.5誤碼分析儀(Bit Error Ratio Tester)附錄1Agilent公司U4154A邏輯分析儀簡(jiǎn)介附錄2示波器協(xié)議解碼功能和協(xié)議分析儀的區(qū)別第7章常用測(cè)量技巧7.1電源紋波噪聲測(cè)試方法7.2時(shí)間間隔測(cè)量7.3如何用示波器進(jìn)行ps級(jí)時(shí)間精度的測(cè)量7.4怎樣測(cè)量PLL電路的鎖定時(shí)間7.5T型頭和功分器的區(qū)別7.6如何克服測(cè)試電纜對(duì)高頻測(cè)量的影響第8章用多臺(tái)儀器搭建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)8.1自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)8.2LXI測(cè)試系統(tǒng)的硬件平臺(tái)8.3LXI測(cè)試系統(tǒng)的軟件架構(gòu)8.4LXI測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)8.5LXI測(cè)試系統(tǒng)的兼容性問題8.6LXI測(cè)試系統(tǒng)的時(shí)鐘同步8.7LXI測(cè)試系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)安全性下部高速數(shù)字接口及測(cè)試方法第9章PCIE簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法
9.1PCIE總線簡(jiǎn)介9.2PCIE 協(xié)會(huì)簡(jiǎn)介9.3PCIE信號(hào)質(zhì)量測(cè)試9.4PCIE協(xié)議調(diào)試和測(cè)試9.5PCIE測(cè)試總結(jié)和常見問題第10章PCIE 3.0簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法第11章SATA簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法
第12章Ethernet簡(jiǎn)介及信號(hào)測(cè)試方法
第13章MIPI DPHY簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法
第14章MIPI MPHY簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法
第15章存儲(chǔ)器簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
第16章USB 2.0簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
第17章USB 3.0簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
第18章HDMI 簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
第19章MHL簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
第20章DisplayPort簡(jiǎn)介及信號(hào)測(cè)試
第21章LVDS傳輸系統(tǒng)簡(jiǎn)介及測(cè)試
第22章MILSTD1553B簡(jiǎn)介及測(cè)試