掃描近場光學(xué)顯微鏡與納米光學(xué)測量

基礎(chǔ)篇
第一章 近場光學(xué)發(fā)展史
§1.1 近場光學(xué)和近場光學(xué)顯微鏡發(fā)展簡史
§1.2 近場光學(xué)理論研究
§1.3 近場光學(xué)最近的發(fā)展
§1.4 本章小結(jié)

第二章 近場光學(xué)原理
§2.1 近場光學(xué)原理發(fā)展概況
§2.2 從“光學(xué)遠(yuǎn)場”到“光學(xué)近場”
§2.3 不確定性原理（uncertainty principle）的解釋
§2.4 角譜（平面波展開）方法的解釋
§2.5 表面（納米）結(jié)構(gòu)與隱失場
§2.6 近場光學(xué)探測原理
§2.7 近場光學(xué)中的互易定理
§2.8 等離激元光學(xué)基本原理
§2.9 本章小結(jié)

第三章 光學(xué)天線原理
§3.1 引言
§3.2 光學(xué)天線基礎(chǔ)（介紹）
§3.3 光學(xué)天線的研究模型及方法
§3.4 光學(xué)天線的應(yīng)用
§3.5 本章小結(jié)

第四章 近場光學(xué)探針
§4.1 近場光學(xué)探針是近場光學(xué)顯微鏡的核心器件
§4.2 近場光學(xué)探針的原理
§4.3 近場光學(xué)探針的種類
§4.4 探針與基片間的相互作用
§4.5 近場光學(xué)探針的應(yīng)用
§4.6 本章小結(jié)

第五章 近場光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)
§5.1 近場光學(xué)顯微鏡測量系統(tǒng)
§5.2 近場光學(xué)顯微鏡的基本結(jié)構(gòu)
§5.3 近場光學(xué)顯微鏡的工作模式和掃描模式
§5.4 掃描管與掃描臺
§5.5 間距測控—剪切力模式與輕敲模式
§5.7 近場光學(xué)顯微鏡的分類
§5.8 本章小結(jié)

第六章 孔徑型近場光學(xué)顯微鏡
§6.1 孔徑型SNOM的原理
§6.2 孔徑型SNOM儀器系統(tǒng)
§6.3 間距測控模式
§6.4 照明模式與集光模式
§6.5 孔徑型SNOM的分辨率
§6.6 孔徑探針使用中的問題
§6.7 孔徑型SNOM系統(tǒng)
§6.8 孔徑型SNOM的應(yīng)用
§6.9 本章小結(jié)

第七章 散射型近場光學(xué)顯微鏡
§7.1 散射型SNOM的原理
§7.2 散射型SNOM儀器系統(tǒng)
§7.3 探針測量中的增強效應(yīng)
§7.4 散射型SNOM的對比度和分辨率
§7.5 散射背景噪聲的抑制
§7.6 散射型探針使用中的問題
§7.7 散射型SNOM的應(yīng)用
§7.8 本章小結(jié)

測量篇
第八章 納米光場參數(shù)測量
§8.1 納米光場多參數(shù)測量的概念
§8.2 測量原理與方法
§8.3 測量系統(tǒng)與功能探針
§8.4 本章小結(jié)

第九章 強度測量與超分辨光學(xué)成像
§9.1 光場（電場）強度測量
§9.2 超衍射分辨光學(xué)成像
§9.3 納米光場強度分布測量
§9.4 聚焦徑向偏振光場測量
§9.5 大范圍SNOM成像
§9.6 提高SNOM成像分辨率
§9.7 近場光學(xué)圖像的解釋
§9.8 本章小結(jié)

第十章 振幅/相位測量
§10.1 納米光場振幅/相位測量發(fā)展
§10.2 近場探測和探針外差干涉技術(shù)
§10.3 幾種典型的光場相位測量方法
§10.4 一些改進(jìn)型的相位測量方法
§10.5 本章小結(jié)

第十一章 矢量場測量
§11.1 引言
§11.2 矢量場測量基礎(chǔ)
§11.3 單一電場分量測量
§11.4 面內(nèi)電場的偏振測量
§11.5 縱向及面內(nèi)電場的偏振測量
§11.6 全矢量場測量
§11.7 本章小結(jié)

第十二章 光頻磁場測量
§12.1 光頻磁場的間接測量
§12.2 光頻磁場的直接測量
§12.3 基于互易定理的電磁場測量方法
§12.4 本章小結(jié)

第十三章 近場光譜測量
§13.1 近場光譜術(shù)
§13.2 近場光譜測量系統(tǒng)基本結(jié)構(gòu)
§13.3 光譜成像
§13.4 近場光譜測量
§13.5 近場空間超分辨光譜
§13.6 本章小結(jié)

應(yīng)用篇
第十四章 探針增強光譜術(shù)
§14.1 傳統(tǒng)光譜術(shù)與“探針光譜術(shù)”
§14.2 拉曼散射與拉曼光譜術(shù)
§14.3 近場光譜與“探針光譜”概念
§14.4 探針增強拉曼光譜術(shù)（TERS）的發(fā)展
§14.5 TERS探測原理
§14.6 TERS測量系統(tǒng)
§14.7 TERS的其他關(guān)鍵技術(shù)
§14.8 TERS測量系統(tǒng)的評價
§14.9 TERS的應(yīng)用
§14.10 本章小結(jié)

第十五章 納米光源測量
§15.1 有源納米光源—小孔激光器
§15.2 等離激元納米光源
§15.3 本章小結(jié)

第十六章 等離基元光學(xué)器件的測量
§16.1 超透鏡成像測量
§16.2 SPP波導(dǎo)器件測量
§16.3 聚焦原理與聚焦器件測量
§16.4 SPP分光和反射器件測量
§16.5 納米光學(xué)天線測量
§16.6 阿基米德螺線型光學(xué)天線
§16.7 超穎材料和超穎表面
§16.8 石墨烯單層增強隱失場測量
§16.9 納米棱鏡測量
§16.10 SPP回路測量
§16.11 本章小結(jié)

第十七章 納米光學(xué)矢量場測量
§17.1 相位測量在納米光學(xué)中的應(yīng)用
§17.2. 相位測量在等離激元光學(xué)器件上的應(yīng)用
§17.3. 相位測量在局域表面等離激元(LSP)器件上的應(yīng)用
§17.4.相位測量在空間光場傳播特性中的應(yīng)用
§17.5. 相位奇異點與光和物質(zhì)相互作用
§17.6 矢量場測量在光子晶體器件上的應(yīng)用
§17.7 矢量場測量在SPP器件上的應(yīng)用
§17.8 矢量場測量在光學(xué)天線器件上的應(yīng)用
§17.9 矢量場測量在光場表征中的其他應(yīng)用
§17.10 光頻磁場測量的應(yīng)用
§17.11 本章小結(jié)

第十八章 結(jié)束語