電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)（第2版）

定　價(jià)：￥36.00

作　者：	孫梯全，龔晶
出版社：	東南大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787564164171	出版時(shí)間：	2016-03-01	包裝：
開本：	16開	頁數(shù)：	249	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)（第2版）》共8章，第1～3章介紹電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識，第4章有13個(gè)獨(dú)立的模擬電路基本實(shí)驗(yàn)，第5章有8個(gè)數(shù)字電路基本實(shí)驗(yàn)，第6章為MultisIm虛擬仿真實(shí)驗(yàn)，第7章有4個(gè)實(shí)體電路設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，第8章有2個(gè)模擬與數(shù)字電路綜合實(shí)驗(yàn)。《電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)（第2版）》的內(nèi)容編排注重結(jié)合電子電路的工程應(yīng)用實(shí)際和技術(shù)發(fā)展方向，在幫助學(xué)生驗(yàn)證、消化和鞏固基礎(chǔ)理論的同時(shí)，努力培養(yǎng)學(xué)生的工程素養(yǎng)和創(chuàng)新能力。實(shí)驗(yàn)原理部分注意引導(dǎo)學(xué)生關(guān)注電子電路的設(shè)計(jì)原理、特性參數(shù)和實(shí)際應(yīng)用，培養(yǎng)學(xué)生的工程意識；實(shí)驗(yàn)內(nèi)容安排由淺入深、循序漸進(jìn)、前后呼應(yīng)，在配合理論教學(xué)的同時(shí)，注意引導(dǎo)學(xué)生運(yùn)用所學(xué)知識解決工程實(shí)際問題；在實(shí)驗(yàn)思考題的設(shè)計(jì)上注意進(jìn)一步引導(dǎo)學(xué)生分析和思考工程實(shí)際問題，激發(fā)學(xué)生的創(chuàng)新思維?！峨娮蛹夹g(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)（第2版）》是高等學(xué)校電類、計(jì)算機(jī)類學(xué)生“電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)”、“模擬電子電路實(shí)驗(yàn)”、“數(shù)字電子電路實(shí)驗(yàn)”等課程的教材，也可以供從事電子技術(shù)工作的工程技術(shù)人員、非電類相關(guān)課程的教師及學(xué)生參考。

作者簡介

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圖書目錄

1 實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識
1．1 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)概述
1．1．1 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的意義
1．1．2 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的特點(diǎn)
1．1．3 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的目的
1．1．4 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的要求
1．2 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)方法
1．2．1 基本規(guī)則
1．2．2 基本方法
1．3 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程
1．3．1 安全注意事項(xiàng)
1．3．2 實(shí)驗(yàn)器材使用注意事項(xiàng)
2 基本測量技術(shù)
2．1 概述
2．1．1 測量方法的分類
2．1．2 選擇測量方法的原則
2．2 電壓測量
2．3 電阻測量
2．4 增益及幅頻特性測量
2．5 測量數(shù)據(jù)的采集和處理
2．5．1 測量數(shù)據(jù)的采集
2．5．2 測量數(shù)據(jù)的誤差
2．5．3測量數(shù)據(jù)的處理
3 常用電子元器件基礎(chǔ)知識
3．1 半導(dǎo)體分立器件型號命名法
3．2 晶體二極管
3．2．1 晶體二極管的分類和圖形符號
3．2．2 晶體二極管的主要技術(shù)參數(shù)
3．2．3 常用晶體二極管
3．2．4 晶體二極管使用注意事項(xiàng)
3．2．5 晶體二極管的變通運(yùn)用
3．3 晶體三極管
3．3．1 晶體三極管的分類和圖形符號
3．3．2 晶體三極管的主要技術(shù)參數(shù)
3．3．3 常用晶體三極管的主要參數(shù)
3．3．4 晶體三極管使用注意事項(xiàng)
3．4 場效應(yīng)晶體管
3．4．1 場效應(yīng)晶體管的特點(diǎn)
3．4．2 場效應(yīng)晶體管的分類和圖形符號
3．4．3 場效應(yīng)晶體管主要技術(shù)參數(shù)
3．4．4 常用場效應(yīng)晶體管的主要參數(shù)
3．4．5 場效應(yīng)晶體管的測量
3．4．6 場效應(yīng)晶體管使用注意事項(xiàng)
3．5 半導(dǎo)體模擬集成電路
3．5．1 模擬集成電路基礎(chǔ)知識
3．5．2 集成運(yùn)算放大器
3．5．3 集成穩(wěn)壓器
3．5．4 集成功率放大器
3．5．5 集成電路的測試
3．6 數(shù)字集成器件
3．6．1 數(shù)字集成器件的發(fā)展和分類
3．6．2 TTL集成電路的特點(diǎn)
3．6．3 CMOS集成電路的特點(diǎn)
3．6．4 TTL集成電路與CMOS集成電路混用時(shí)應(yīng)注意的問題
3．6．5 數(shù)字集成電路的數(shù)據(jù)手冊
3．6．6 邏輯電平
4 模擬電路基本實(shí)驗(yàn)
4．1 常用儀器的使用
4．1．1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />4．1．2 實(shí)驗(yàn)設(shè)備
4．1．3 實(shí)驗(yàn)原理
4．1 _4實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
4．1．5 實(shí)驗(yàn)報(bào)告
4．1．6 思考題
4．2 常用電子元器件的識別和測量
4．2．1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />4．2．2 實(shí)驗(yàn)設(shè)備
……
5 數(shù)字電路基本實(shí)驗(yàn)
6 Multisim仿真實(shí)驗(yàn)
7 實(shí)體電路設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)
8 模擬和數(shù)字電路綜合實(shí)驗(yàn)
附錄常用IC封裝
參考文獻(xiàn)