電子技術(shù)應(yīng)用基礎(chǔ)（數(shù)字部分）

前言 第1章數(shù)字電路概論及數(shù)制、編碼 1.1數(shù)字電路與數(shù)字信號 1.1.1數(shù)字電路的分類及特點 1.1.2模擬信號與數(shù)字信號 1.2數(shù)字的描述規(guī)則——數(shù)制 1.2.1數(shù)制類型 1.2.2數(shù)制的相互轉(zhuǎn)換 1.2.3二進(jìn)制的基本算術(shù)運算 1.3編碼 1.3.1有符號數(shù)的編碼 1.3.2有小數(shù)點的數(shù)的編碼 1.3.3常用編碼 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第2章邏輯代數(shù)基本原理 2.1邏輯關(guān)系的表達(dá)方式 2.1.1邏輯關(guān)系 2.1.2邏輯函數(shù) 2.1.3邏輯關(guān)系的描述方法 2.1.4三種表達(dá)的轉(zhuǎn)換 2.1.5邏輯函數(shù)相等 2.2常用邏輯運算公式 2.2.1基本邏輯運算公式 2.2.2邏輯運算的變換律 2.3三個邏輯運算規(guī)則 2.3.1代入規(guī)則 2.3.2反演規(guī)則 2.3.3對偶規(guī)則 2.4邏輯函數(shù)式的化簡 2.4.1公式化簡法 2.4.2最簡與或表達(dá)式轉(zhuǎn)換為其他形式的表達(dá)式 2.4.3卡諾圖化簡法 2.4.4具有無關(guān)項邏輯函數(shù)的化簡 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第3章邏輯門電路 3.1半導(dǎo)體器件的開關(guān)特性 3.2二極管門電路 3.2.1二極管的開關(guān)特性 3.2.2二極管與門電路 3.2.3二極管或門電路 3.3TTL門電路 3.3.1三極管的開關(guān)特性 3.3.2TTL門電路 3.3.3TTL門電路的開路輸出結(jié)構(gòu)OC門 3.3.4TTL門電路的三態(tài)輸出門電路 3.3.5TTL門電路的改進(jìn) 3.3.6TTL門電路的主要電氣指標(biāo) 3.4CMOS門電路 3.4.1場效應(yīng)管的開關(guān)特性 3.4.2CMOS門電路 3.4.3CMOS三態(tài)門、漏極開路門和傳輸門 3.5門電路在使用時的實際問題 3.5.1多種邏輯器件混合使用時連接問題 3.5.2門電路驅(qū)動負(fù)載問題 3.5.3門電路抗干擾問題 3.6仿真實驗 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第4章組合邏輯電路 4.1組合邏輯電路的分析與設(shè)計方法 4.1.1組合邏輯電路的分析 4.1.2組合邏輯電路的設(shè)計 4.2加法器和數(shù)值比較器 4.2.1加法器 4.2.2數(shù)值比較器 4.3編碼器和譯碼器 4.3.1編碼器 4.3.2譯碼器 4.4數(shù)據(jù)選擇器和分配器 4.4.1數(shù)據(jù)選擇器 4.4.2數(shù)據(jù)分配器 4.5組合邏輯電路的冒險現(xiàn)象 4.5.1競爭冒險現(xiàn)象 4.5.2邏輯冒險的產(chǎn)生 4.5.3邏輯冒險的判別 4.5.4消除競爭冒險現(xiàn)象的方法 4.6仿真實驗 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第5章鎖存器和觸發(fā)器 5.1單穩(wěn)態(tài)與雙穩(wěn)態(tài)概念 5.1.1單穩(wěn)態(tài)和雙穩(wěn)態(tài)概念 5.1.2雙穩(wěn)態(tài)電路 5.2基本鎖存器 5.2.1基本RS鎖存器 5.2.2基本D鎖存器 5.3鐘控觸發(fā)器 5.3.1鐘控RS觸發(fā)器 5.3.2鐘控D觸發(fā)器 5.3.3鐘控JK觸發(fā)器 5.3.4鐘控T觸發(fā)器 5.4觸發(fā)器的觸發(fā)方式 5.4.1主從觸發(fā)器 5.4.2維持—阻塞觸發(fā)器 5.4.3傳輸延遲的觸發(fā)器 5.4.4CMOS傳輸門構(gòu)成的邊沿觸發(fā)器 5.5常用集成觸發(fā)器 5.5.174LS74和74LS112集成邊沿觸發(fā)器 5.5.2集成觸發(fā)器的電氣特性參數(shù) 5.5.3不同類型的觸發(fā)器間的轉(zhuǎn)換 5.6仿真實驗 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第6章時序邏輯電路 6.1時序邏輯電路概述 6.1.1時序邏輯電路的結(jié)構(gòu)特點 6.1.2時序邏輯電路邏輯功能的描述方法 6.1.3時序邏輯電路的分類 6.2時序邏輯電路分析 6.2.1同步時序電路的分析 6.2.2異步時序電路的分析 6.3常用時序邏輯器件 6.3.1計數(shù)器 6.3.2寄存器 6.4時序邏輯電路設(shè)計方法 6.4.1同步時序邏輯電路設(shè)計方法 6.4.2異步時序邏輯電路設(shè)計方法 6.5仿真實驗 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第7章半導(dǎo)體存儲器 7.1半導(dǎo)體存儲器的基本概念 7.1.1半導(dǎo)體存儲器的分類 7.1.2半導(dǎo)體存儲器的基本原理 7.1.3半導(dǎo)體存儲器技術(shù)指標(biāo) 7.2隨機(jī)存儲器RAM 7.2.1隨機(jī)存儲器原理與結(jié)構(gòu) 7.2.2隨機(jī)存儲器基本存儲單元 7.2.3隨機(jī)存儲器系統(tǒng) 7.3只讀存儲器ROM 7.3.1ROM的存儲單元 7.3.2只讀存儲器實現(xiàn)組合邏輯電路 7.3.3典型只讀存儲器芯片 7.4順序存儲器SAM 7.5仿真實驗 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第8章脈沖電路 8.1脈沖信號與脈沖電路 8.1.1脈沖信號 8.1.2脈沖電路 8.2常用脈沖電路 8.2.1施密特觸發(fā)器 8.2.2單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器 8.3多諧振蕩器脈沖電路 8.4555定時器及其應(yīng)用 8.4.1555定時器電路結(jié)構(gòu)及工作原理 8.4.2555定時器應(yīng)用 8.5仿真實驗 本章小結(jié) 思考題與習(xí)題 第9章DAC和ADC轉(zhuǎn)換器 9.1概述 9.2DAC轉(zhuǎn)換器 9.2.1數(shù)模轉(zhuǎn)換器原理 9.2.2電阻型網(wǎng)絡(luò)DAC 9.2.3電流型網(wǎng)絡(luò)DAC 9.2.4DAC技術(shù)指標(biāo) 9.2.5DAC0832集成芯片 9.3ADC轉(zhuǎn)換器 9.3.1模數(shù)轉(zhuǎn)換器原理 9.3.2并聯(lián)比較型ADC 9.3.3逐次逼近型ADC 9.3.4雙積分式ADC 9.3.5ADC技術(shù)指標(biāo) 9.3.6ADC0809集成芯片 思考題與習(xí)題 參考文獻(xiàn)