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內(nèi)容簡介

　　技術距離與技術創(chuàng)新之間存在非線性關系，技術距離過大或過小都不利于企業(yè)通過技術傳播與擴散獲得技術創(chuàng)新，適宜的技術距離才是企業(yè)進行技術創(chuàng)新的關鍵。以Yong min Chen（2005）兩部門生產(chǎn)模型為基礎，結合中國經(jīng)濟發(fā)展實際，基于技術距離視角，分別從國內(nèi)外技術差距與國內(nèi)技術差異層面出發(fā)，根據(jù)廠商利潤函數(shù)與資本收益方程構建演繹理論模型揭示知識產(chǎn)權保護對技術創(chuàng)新的作用機制；通過構建重要變量，實證檢驗知識產(chǎn)權保護水平在技術距離視角下對我國各省區(qū)及高技術產(chǎn)業(yè)分行業(yè)技術創(chuàng)新的影響效果。實證研究時，盡量考慮經(jīng)濟中實際存在而《知識產(chǎn)權保護的技術創(chuàng)新效應研究——基于技術距離視角》數(shù)理模型尚難涉及的相關因素，力求能夠更真實全面地反映知識產(chǎn)權保護與技術創(chuàng)新之間的關系?；诶碚摲治龊蛯嵶C結論，得出具體政策建議并指明進一步的研究方向。

作者簡介

　　經(jīng)濟學博士，講師，北京大學經(jīng)濟學院訪問學者。主持國家社科基金項目、省哲學社科項目；在《統(tǒng)計與決策》、《物流技術》、《商業(yè)研究》、《技術經(jīng)濟與管理研究》與《工業(yè)技術經(jīng)濟》等期刊發(fā)表學術論文多篇。主要研究方向：技術創(chuàng)新、知識產(chǎn)權保護與綠色發(fā)展。

圖書目錄

第一章緒論
第一節(jié) 研究背景
第二節(jié) 研究的目的和意義
第三節(jié) 研究思路與方法及主要研究內(nèi)容
一、研究思路與方法
二、主要研究內(nèi)容
第四節(jié) 核心概念界定
一、知識產(chǎn)權與知識產(chǎn)權保護
二、技術創(chuàng)新
三、技術距離
第五節(jié) 本書的創(chuàng)新之處
第二章技術距離、知識產(chǎn)權保護與技術創(chuàng)新研究綜述
第一節(jié) 知識產(chǎn)權保護的經(jīng)濟理論
一、最優(yōu)專利長度
二、專利寬度考量
第二節(jié) 知識產(chǎn)權保護與技術創(chuàng)新
第三節(jié) 技術距離與技術創(chuàng)新
第三章知識產(chǎn)權保護影響技術創(chuàng)新的數(shù)理模型
第一節(jié) 技術差距大（GAPmax）理論模型及均衡分析
一、技術差異大（DIFmax）理論分析
二、技術差異?。―IFmin）理論分析
第二節(jié) 技術差距小（GAPmin）理論模型及均衡分析
一、技術差異大（DIFmax）理論分析
二、技術差異?。―IFmin）理論分析
第四章知識產(chǎn)權保護水平測度
第一節(jié) 現(xiàn)有測度方法評述
一、國外研究
二、國內(nèi)研究
第二節(jié) 評價指標體系構建
一、改進GP方法的立法水平指數(shù)IGP
二、知識產(chǎn)權執(zhí)法水平評價指標體系
第三節(jié) 中國實際知識產(chǎn)權保護水平計算及檢驗
一、知識產(chǎn)權保護水平IPR指數(shù)測度
二、IPR指數(shù)檢驗
三、小結
第四節(jié) 省際知識產(chǎn)權保護強度測定
一、指標構建
二、強度測定
第五章中國知識產(chǎn)權保護與技術創(chuàng)新：動態(tài)測度
第一節(jié) 計量模型設定
一、基本模型
二、二次函數(shù)模型與交互模型
第二節(jié) 變量構造及數(shù)據(jù)來源
……
第六章中國知識產(chǎn)權保護與技術創(chuàng)新：門限效應
第七章知識產(chǎn)權保護的技術創(chuàng)新效應
第八章主要結論、對策建議及研究展望
參考文獻
后記