電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)：電子電路實(shí)驗(yàn)、設(shè)計(jì)及現(xiàn)代EDA技術(shù)（第四版）

第一篇 電子電路實(shí)驗(yàn)與調(diào)試基礎(chǔ)知識
第1章 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識
1．1 電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)的目的和意義
1．2 電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)的流程與要求
1．3 常用分立元件簡介
1．3．1 電阻器
1．3．2 電容器
1．3．3 電感器
1．4 誤差分析與測量結(jié)果的處理
1．4．1 誤差的來源與分類
1．4．2 誤差表示方法
1．4．3 測量結(jié)果的處理
第2章 基本測量技術(shù)
2．1 概述
2．2 電壓測量
2．2．1 高內(nèi)阻回路直流電壓的測量
2．2．2 交流電壓的測量
2．2．3 電壓測量的數(shù)字化方法
2．3 阻抗測量
2．3．1 輸入電阻的測量
2．3．2 輸出電阻的測量
2．4 增益及幅頻特性測量
2．5 電子示波器及其在測量中的應(yīng)用
2．5．1 模擬電子示波器顯示波形的原理
2．5．2 模擬電子示波器的基本組成及工作原理
2．5．3 雙通道模擬示波器
2．5．4 數(shù)字示波器的基本工作原理
2．5．5 數(shù)字示波器的組成和關(guān)鍵技術(shù)
2．5．6 數(shù)字示波器的技術(shù)參數(shù)
2．5．7 示波器的使用
第3章 電子電路調(diào)試與故障檢測技術(shù)
3．1 電子電路的調(diào)試
3．1．1 調(diào)試前的直觀檢查
3．1．2 調(diào)試方法
3．1．3 調(diào)試中的注意事項(xiàng)
3．2 檢查故障的一般方法
3．2．1 故障現(xiàn)象和產(chǎn)生故障的原因
3．2．2 檢查故障的一般方法
3．3 電子電路干擾的抑制
3．3．1 干擾源
3．3．2 干擾途徑及其抑制方法
3．3．3 有關(guān)接地的幾點(diǎn)基本知識
第二篇 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)
第4章 模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)一 常用電子儀器的使用練習(xí)
實(shí)驗(yàn)二 二極管的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)三 集成運(yùn)算放大器的基本應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)四 MOSFET放大電路
實(shí)驗(yàn)五 結(jié)型場效應(yīng)管共源放大電路
實(shí)驗(yàn)六 雙極型三極管單級共射放大電路
實(shí)驗(yàn)七 共射一共集放大電路
實(shí)驗(yàn)八 負(fù)反饋放大電路
實(shí)驗(yàn)九 正弦波產(chǎn)生電路
實(shí)驗(yàn)十 方波和三角波產(chǎn)生電路
實(shí)驗(yàn)十一 精密全波整流電路
實(shí)驗(yàn)十二 有源濾波電路
實(shí)驗(yàn)十三 低頻功率放大電路
第5章 數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)十四 集成邏輯門的功能測試與應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)十五 組合邏輯電路設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)十六 脈沖產(chǎn)生與整形電路
實(shí)驗(yàn)十七 集成觸發(fā)器及其應(yīng)用電路設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)十八 計(jì)數(shù)、譯碼、顯示電路
實(shí)驗(yàn)十九 籃球競賽24s定時電路設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)二十 移位寄存器及其應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)二十一 D/A轉(zhuǎn)換器
實(shí)驗(yàn)二十二 A/D轉(zhuǎn)換器
第6章 綜合設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)二十三 多位LED顯示器的動態(tài)掃描驅(qū)動電路
實(shí)驗(yàn)二十四 數(shù)字式音量自動調(diào)節(jié)電路
實(shí)驗(yàn)二十五 數(shù)字溫度計(jì)
實(shí)驗(yàn)二十六 交通信號燈控制電路
實(shí)驗(yàn)二十七 音樂彩燈控制電路
實(shí)驗(yàn)二十八 語音放大電路
實(shí)驗(yàn)二十九 簡易心電圖儀設(shè)計(jì)
第三篇 常用EDA軟件的使用
第7章 OrCAD/PSpice16．6軟件的使用
7．1 概述
7．1．1 PSpice軟件的主要構(gòu)成
7．1．2 運(yùn)行PSpiee的有關(guān)規(guī)定
7．1．3 電路仿真的一般流程
7．2 三極管共射放大電路的仿真分析
7．2．1 利用0rcAD Capture繪制電路圖
7．2．2 直流工作點(diǎn)分析
7．2．3 時域（瞬態(tài)）分析
7．2．4 交流掃描分析
7．2．5 參數(shù)掃描分析
7．2．6 實(shí)驗(yàn)任務(wù)
7．3 MOS晶體管特性曲線分析
7．3．1 繪制電路圖
7．3．2 設(shè)置分析參數(shù)，觀察輸出特性曲線
7．3．3 設(shè)置分析參數(shù)，觀察轉(zhuǎn)移特性曲線
7．3．4 實(shí)驗(yàn)任務(wù)
7．4 差分放大電路分析
7．4．1 繪制電路圖
7．4．2 設(shè)置分析參數(shù)
7．4．3 執(zhí)行PSpice程序
7．4．4 利用Probe，顯示分析結(jié)果
7．4．5 調(diào)用文字輸出文件
7．4．6 實(shí)驗(yàn)任務(wù)
第8章 ISE 14．7軟件的使用
8．1 Xilinx ISE 14．7仿真過程
8．1．1 建立新的設(shè)計(jì)項(xiàng)目
8．1．2 輸入Verilog HDL設(shè)計(jì)文件
8．1．3 輸入測試平臺文件
8．1．4 編譯設(shè)計(jì)項(xiàng)目，進(jìn)行功能仿真
8．2 Xilinx ISE：14．7邏輯綜合與實(shí)現(xiàn)
8．2．1 分配引腳
8．2．2 邏輯綜合與實(shí)現(xiàn)
8．2．3 對目標(biāo)器件編程，實(shí)際測試電路功能
8．2．4 實(shí)驗(yàn)任務(wù)
8．3 Xilinx FPGA實(shí)驗(yàn)平臺
8．3．1 開發(fā)板提供的基本資源
8．3．2 開發(fā)板提供的：PMOD擴(kuò)展插座
8．4 四位顯示器的動態(tài)掃描控制電路設(shè)計(jì)
8．4．1 電路工作原理
8．4．2 邏輯設(shè)計(jì)
8．4．3 實(shí)際測試
8．5 TestBench的編寫
8．5．1 TestBench的基本結(jié)構(gòu)
8．5．2 Verilog HDL系統(tǒng)任務(wù)
8．5．3 Verilog HDL編譯器指令
第9章 Quartus Ⅱ9．1軟件的使用
9．1 Ouartus Ⅱ9．1軟件主界面及其設(shè)計(jì)流程
9．2 Ouartus Ⅱ9．1仿真過程
9．2．1 建立新的設(shè)計(jì)項(xiàng)目
9．2．2 輸入設(shè)計(jì)文件
9．2．3 編譯設(shè)計(jì)文件
9．2．4 設(shè)計(jì)項(xiàng)目的仿真驗(yàn)證
9．2．5 分析信號的延遲特性
9．3 Quartus Ⅱ9．1邏輯綜合與實(shí)現(xiàn)
9．3．1 引腳分配
9．3．2 對目標(biāo)器件編程
9．3．3 實(shí)驗(yàn)任務(wù)
9．4 Altera FPGA實(shí)驗(yàn)平臺
9．4．1 開發(fā)板提供的基本輸入/輸出資源
9．4．2 開發(fā)板提供的時鐘源與擴(kuò)展槽
附錄A 常用集成電路引腳排列圖
A．1 模擬集成電路
A．2 74系列數(shù)字集成電路
A．3 4000系列CMOS集成電路
附錄B 常用邏輯符號對照表
參考文獻(xiàn)