回轉(zhuǎn)體的結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理

定　價(jià)：￥58.00

作　者：	徐春廣，肖定國(guó)，郝娟著
出版社：	國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787118111118	出版時(shí)間：	2017-01-01	包裝：	精裝
開本：	16開	頁(yè)數(shù)：	185	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《回轉(zhuǎn)體的結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理》結(jié)合高速發(fā)展的新型傳感器技術(shù)、數(shù)控技術(shù)和計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)等，針對(duì)國(guó)防工業(yè)領(lǐng)域特種回轉(zhuǎn)體零件的快速、現(xiàn)場(chǎng)、精密測(cè)量需求，提出了基于結(jié)構(gòu)光的回轉(zhuǎn)體幾何參數(shù)測(cè)量技術(shù)，講述了基于點(diǎn)、線、面等不同形式結(jié)構(gòu)光的測(cè)量原理、方法、實(shí)現(xiàn)途徑等。結(jié)構(gòu)光（structured Light）是已知空間方向的投影光線的集合，照射在被測(cè)物體上，可投影出不同形狀的幾何圖形，利用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將該幾何圖形信息采集到計(jì)算機(jī)中，采用不同算法對(duì)幾何圖形的特征進(jìn)行提取識(shí)別，從而得到被測(cè)對(duì)象的幾何廓形。這是一種非接觸測(cè)量方法，優(yōu)點(diǎn)是速度快，精度高，抗干擾能力強(qiáng)，對(duì)測(cè)量環(huán)境沒有特殊要求，非常適合現(xiàn)場(chǎng)使用，是實(shí)現(xiàn)特種回轉(zhuǎn)體現(xiàn)場(chǎng)、快速、高精度幾何量測(cè)量的有效方法，有廣泛的應(yīng)用前景。《回轉(zhuǎn)體的結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理》是作者對(duì)多年來利用結(jié)構(gòu)光開展回轉(zhuǎn)體零件幾何量測(cè)量研究工作的總結(jié)和提煉，也是作者多年來帶領(lǐng)科研團(tuán)隊(duì)和指導(dǎo)研究生進(jìn)行大量理論研究和工程實(shí)踐的科研成果。書中主要內(nèi)容來自于研究團(tuán)隊(duì)已發(fā)表的學(xué)術(shù)論文、會(huì)議論文、博士研究生和碩士研究生的畢業(yè)論文、科研項(xiàng)目研究報(bào)告和工作總結(jié)．以及本領(lǐng)域相關(guān)的重要學(xué)術(shù)論文和專著，有些內(nèi)容在本書中是首次公開。

作者簡(jiǎn)介

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圖書目錄

第1章緒論
1．1 回轉(zhuǎn)體廓形測(cè)量技術(shù)
1．2 結(jié)構(gòu)光三維測(cè)量技術(shù)
1．2．1 點(diǎn)結(jié)構(gòu)光法
1．2．2 線結(jié)構(gòu)光法
1．2．3 面結(jié)構(gòu)光法
1．3 結(jié)構(gòu)光測(cè)量技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
1．4 回轉(zhuǎn)體廓形測(cè)量發(fā)展趨勢(shì)
參考文獻(xiàn)
第2章內(nèi)孔幾何參數(shù)的點(diǎn)結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
2．1 點(diǎn)結(jié)構(gòu)光的內(nèi)孔輪廓測(cè)量原理
2．1．1 激光傳感器
2．1．2 角度傳感器
2．1．3 測(cè)量原理
2．1．4 測(cè)量頭裝置固有參數(shù)標(biāo)定原理
2．2 數(shù)據(jù)采集與預(yù)處理
2．2．1 數(shù)據(jù)采集方法
2．2．2 數(shù)據(jù)預(yù)處理
2．3 輪廓分段方法
2．3．1 概述
2．3．2 曲率法
2．3．3 弦到曲線的面積和法
2．4 內(nèi)孔幾何參數(shù)計(jì)算方法
2．4．1 徑截面參數(shù)計(jì)算原理
2．4．2 軸截面參數(shù)計(jì)算原理
2．4．3 螺旋線參數(shù)計(jì)算原理
2．4．4 容積計(jì)算原理
參考文獻(xiàn)
第3章內(nèi)孔幾何參數(shù)的線結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
3．1 一般線結(jié)構(gòu)光的幾何參數(shù)測(cè)量模型
3．1．1 理想測(cè)量模型
3．1．2 相機(jī)鏡頭畸變模型
3．1．3 相機(jī)參數(shù)標(biāo)定方法
3．2 內(nèi)孔三維幾何參數(shù)的環(huán)形線結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
3．2．1 環(huán)形線結(jié)構(gòu)光形成原理
3．2．2 簡(jiǎn)單同軸環(huán)形線結(jié)構(gòu)光測(cè)量頭裝置工作原理
3．2．3 帶錐鏡同軸環(huán)形線結(jié)構(gòu)光測(cè)量頭裝置工作原理
3．2．4 同軸環(huán)形線結(jié)構(gòu)光測(cè)量頭裝置固有參數(shù)標(biāo)定原理
3．3 內(nèi)孔三維幾何參數(shù)的弧形線結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
3．4 線結(jié)構(gòu)光圖像處理
3．4．1 線結(jié)構(gòu)光圖像的特征
3．4．2 線結(jié)構(gòu)光圖像的濾波
3．4．3 感興趣區(qū)域的設(shè)定
3．4．4 線結(jié)構(gòu)光光條中心提取原理
參考文獻(xiàn)
第4章內(nèi)孔疵病特征的面結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
4．1 內(nèi)孔表面特征的面結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
4．1．1 內(nèi)孔表面特征的面結(jié)構(gòu)光測(cè)量裝置與工作原理
4．1．2 面結(jié)構(gòu)光測(cè)量圖像的展開變換
4．1．3 展開圖像的拼接
4．2 孔內(nèi)表面疵病參數(shù)計(jì)算原理
4．2．1 圖像分割的基本原理
4．2．2 基于區(qū)域分割一合并的疵病提取原理
4．2．3 疵病表征及特征計(jì)算
參考文獻(xiàn)
第5章內(nèi)孔疵病特征的線結(jié)構(gòu)光測(cè)量技術(shù)
5．1 孔腔內(nèi)輪廓三維測(cè)量數(shù)據(jù)圖像化原理
5．2 圖像區(qū)域分割及陽(yáng)線／陰線區(qū)域識(shí)別
5．2．1 基于灰度閾值的并行區(qū)域分割算法
5．2．2 模板法陽(yáng)線／陰線區(qū)域識(shí)別
5．3 基于ITD圖像的火炮身管內(nèi)膛疵病檢測(cè)方法
5．3．1 陽(yáng)線斷脫、蝕坑、裂紋和燒蝕網(wǎng)疵病檢測(cè)
5．3．2 陰線掛銅和銹蝕疵病檢測(cè)
5．3．3 其他疵病檢測(cè)
5．3．4 疵病位置與幾何參數(shù)計(jì)算
5．3．5 疵病檢測(cè)精度評(píng)價(jià)
5．4 復(fù)合疵病檢測(cè)法
參考文獻(xiàn)
第6章內(nèi)孔幾何參數(shù)和疵病特征的結(jié)構(gòu)光測(cè)量系統(tǒng)
6．1 測(cè)量系統(tǒng)總體構(gòu)成
6．1．1 點(diǎn)結(jié)構(gòu)光測(cè)量系統(tǒng)
6．1．2 線結(jié)構(gòu)光測(cè)量系統(tǒng)
6．1．3 面結(jié)構(gòu)光測(cè)量系統(tǒng)
6．2 誤差分析
6．2．1 機(jī)械系統(tǒng)誤差分析
6．2．2 光學(xué)系統(tǒng)誤差分析
6．2．3 被測(cè)表面特性的影響
6．2．4 其他影響因素
6．3 減小誤差的措施
6．3．1 減小機(jī)械系統(tǒng)誤差的措施
6．3．2 減小光學(xué)系統(tǒng)誤差的措施
6．3．3 減小圖像處理誤差的措施
6．4 測(cè)量精度驗(yàn)證
6．4．1 孔徑測(cè)量精度驗(yàn)證
6．4．2 旋轉(zhuǎn)角度驗(yàn)證
參考文獻(xiàn)
第7章軸類外輪廓幾何參數(shù)的線結(jié)構(gòu)光測(cè)量技術(shù)
7．1 光幕式線結(jié)構(gòu)光測(cè)量原理
7．2 幾何參數(shù)計(jì)算方法
7．3 測(cè)量系統(tǒng)
參考文獻(xiàn)