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納米力學測試新方法:掃描探針聲學顯微術

納米力學測試新方法:掃描探針聲學顯微術

定 價:¥78.00

作 者: 李法新,周錫龍,付際
出版社: 科學出版社
叢編項:
標 簽: 聲學 物理學 自然科學

ISBN: 9787030515766 出版時間: 2017-03-01 包裝: 平裝
開本: B5 頁數(shù): 字數(shù):  

內容簡介

  本書從AFAM的力學基礎-接觸力學出發(fā),闡述了AFAM的原理和基礎、準確度和靈敏度、粘彈性成像,以及AFAM的廣泛應用。此外,還對正在興起的多頻原子力顯微術進行了介紹。本書的內容安排如下:*章緒論簡要介紹當前主要的納米力學測試方法,以及AFAM的發(fā)展歷史和研究現(xiàn)狀。第二章首先對接觸力學的基本理論進行介紹,隨后介紹納米壓痕技術的測試原理和應用。第三章詳細介紹原子力顯微鏡的基本原理和應用模式。第四章詳細介紹AFAM的基本理論,定量化原理及兩種基本成像模式。第五章給出了AFAM在測試和成像過程中涉及到的準確度和靈敏度問題,是對AFAM的深入研究。第六章介紹基于AFAM的材料粘彈性力學性能測試方法的原理及應用。第七章介紹AFAM在納米科學技術各個領域的應用,主要涉及復合材料、智能材料和生物材料的微結構和微區(qū)彈性性質。第八章將介紹目前正在興起的另一種納米測試技術-多頻原子力顯微成像技術。

作者簡介

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