統(tǒng)計過程控制理論與實踐：SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術

第１章 概論
1.1 關于產品質量可靠性的基本理念
1.1.1 保證、評價產品質量可靠性常規(guī)方法存在的問題
1.1.2 關于質量可靠性的基本理念
1.1.3 保證和評價產品質量可靠性的相關技術
1.2 生產過程統(tǒng)計質量控制的技術流程
1.2.1 制造過程對參數一致性和穩(wěn)定性的影響
1.2.2 統(tǒng)計過程控制的目的和相關技術
1.2.3 實施質量控制的技術流程
1.2.4 實施SPC的基本條件
思考題與習題
第2章 工序能力指數與6σ設計
2.1 預備知識——工藝參數分布規(guī)律的定量描述
2.1.1 正態(tài)分布函數
2.1.2 正態(tài)分布特征值的統(tǒng)計特性
2.2 工序能力的定量表征和工序能力指數
2.2.1 工藝參數一致性與工序能力
2.2.2 工序能力指數（Cp）
2.2.3 實際工序能力指數(Cpk)
2.2.4 工業(yè)生產對工序能力指數的要求
2.3 工序能力指數的計算
2.3.1 均值(μ)和標準偏差(σ)的計算方法
2.3.2 工序能力指數計算實例
2.4 6σ設計與等效工序能力指數
2.4.1 從工序能力指數理解6σ設計的含義和目標
2.4.2 pσ設計水平與DPMO
2.4.3 基于6σ設計理念的ECpk
2.4.4 ECpk計算中涉及的兩個算法
思考題與習題
第3章 工序能力指數評價的特殊模型
3.1 工序能力指數常規(guī)計算方法的適用條件
3.2 非正態(tài)分布工藝參數的工序能力指數計算方法
3.2.1 非正態(tài)分布工藝參數數據
3.2.2 計算方法一：基于數據轉換的計算方法
3.2.3 計算方法二：基于工藝成品率的計算方法
3.2.4 非正態(tài)分布參數工序能力指數計算方法討論
3.3 多參數情況工序能力指數計算方法
3.3.1 多變量工序能力指數MCpk計算思路
3.3.2 MCpk計算步驟
3.3.3 MCpk應用實例
3.3.4 多元正態(tài)分布函數的高精度積分算法
3.4 計件值工序能力指數
3.4.1 描述計件值數據分布規(guī)律的二項分布
3.4.2 計件值工序能力指數的計算思路
3.4.3 計件值工序能力指數計算方法一： 每批樣本量相同
3.4.4 計件值工序能力指數計算方法二： 每批樣本量不相同
3.5 計點值工序能力指數
3.5.1 描述計點值數據分布規(guī)律的泊松分布
3.5.2 計點值工序能力指數的計算思路
3.5.3 計點值工序能力指數計算方法一： 每批樣本量相同
3.5.4 計點值工序能力指數計算方法二： 每批樣本量不相同
思考題與習題
第4章 統(tǒng)計過程控制與常規(guī)控制圖
4.1 SPC與控制圖
4.1.1 SPC基本概念
4.1.2 “統(tǒng)計受控”與“加工結果是否合格”的關系
4.1.3 控制圖的結構和作用
4.1.4 控制限的計算原理
4.1.5 工藝過程受控/失控狀態(tài)的判斷規(guī)則
4.1.6 常規(guī)控制圖的分類
4.2 常規(guī)計量值控制圖
4.2.1 “均值—標準偏差”控制圖
4.2.2 “均值—極差”控制圖
4.2.3 “單值—移動極差”控制圖
4.3 常規(guī)計件值控制圖
4.3.1 不合格品數控制圖(np圖)
4.3.2 不合格品率控制圖(p圖)
4.3.3 通用不合格品率控制圖(pT圖)
4.4 常規(guī)計點值控制圖
4.4.1 缺陷數控制圖（c圖）
4.4.2 單位缺陷數控制圖（u圖）
4.4.3 通用單位缺陷數控制圖(uT圖)
4.5 常規(guī)控制圖的應用
4.5.1 關于“分析用控制圖”與“控制用控制圖”
4.5.2 常規(guī)計量值控制圖應用實例
4.5.3 常規(guī)計數值控制圖應用實例
思考題與習題
第5章 特殊控制圖
5.1 特殊控制圖的基本原理
5.1.1 常規(guī)控制圖的適用條件
5.1.2 需要采用特殊控制圖的典型情況
5.1.3 特殊控制圖的基本原理
5.2 適用于非正態(tài)分布數據的控制圖
5.2.1 非正態(tài)分布數據的控制圖分析方法
5.2.2 制造過程非正態(tài)分布數據控制圖實例
5.2.3 非制造過程中非正態(tài)分布數據控制圖實例
5.3 適用于多品種情況的回歸控制圖
5.3.1 回歸控制圖原理
5.3.2 回歸方法一： 標準正態(tài)處理方法與應用
5.3.3 回歸方法二：“相對偏差”方法與應用
5.3.4 關于“雙重回歸”情況
5.3.5 對多品種情況的一種不正確處理方法
5.4 適用于多品種小批量情況的TK控制圖
5.4.1 T統(tǒng)計量與T控制圖
5.4.2 K統(tǒng)計量與K控制圖
5.4.3 TK控制圖的特點
5.4.4 TK控制圖應用實例
5.5 適用于批加工參數的嵌套控制圖
5.5.1 “批加工”生產特點與參數的嵌套性
5.5.2 工藝參數數據的嵌套性檢驗
5.5.3 一階嵌套控制圖模型與應用
5.5.4 二階嵌套控制圖模型與應用
5.6 適用于多參數情況的多變量控制圖
5.6.1 多參數問題與多變量控制圖
5.6.2 多變量T2控制圖
5.6.3 單值多變量T2控制圖
5.6.4 多變量控制圖的應用實例
5.6.5 針對多參數問題的一種不正確處理方法
5.7 綜合控制圖
5.7.1 關于綜合控制圖
5.7.2 綜合控制圖應用實例
5.8 分位數控制圖
5.8.1 分位數控制圖的原理
5.8.2 計點值分位數控制圖
5.8.3 計件值分位數控制圖
5.8.4 適用于非正態(tài)計量值的分位數控制圖
5.9 缺陷成團控制圖
5.9.1 缺陷成團模型
5.9.2 缺陷成團控制圖
5.9.3 缺陷成團控制圖應用實例
思考題與習題
第6章 Cpk和SPC應用實踐
6.1 工序能力指數評價實施方案的制訂
6.1.1 Cpk評價流程和實施方案的制訂要求
6.1.2 關鍵工序過程節(jié)點與關鍵工藝參數
6.1.3 用于Cpk評價的數據采集
6.1.4 工序能力指數計算
6.2 提升Cpk的技術途徑
6.2.1 提升工序能力指數的技術途徑
6.2.2 工序能力指數提升實例
6.3 SPC實施方案的制訂
6.3.1 SPC實施方案的制訂要求
6.3.2 用于SPC評價的數據采集
6.3.3 控制圖的正確選用
6.4 失控問題分析
6.4.1 失控問題分析的基本思路
6.4.2 控制圖綜合應用分析實例1
6.4.3 控制圖綜合應用分析實例2
6.4.4 控制圖綜合應用分析實例3
思考題與習題
第7章 過程改進工具——DOE技術
7.1 DOE的含義與作用
7.1.1 引例——PCB挖槽工藝的優(yōu)化
7.1.2 什么是試驗設計
7.1.3 試驗設計中基本術語
7.1.4 符號化與效應計算
7.1.5 試驗設計的作用