低功率、高分辨率的A-D轉換器

定　價：￥79.00

作　者：	阿米爾·齊亞約（Amir Zjajo），何塞·皮內達著；宋婷婷譯
出版社：	機械工業(yè)出版社
叢編項：	國際信息工程先進技術譯叢
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787111589037	出版時間：	2018-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	232	字數(shù)：

內容簡介

　　在本書中，作者概述了這些創(chuàng)新的有價值的例子，并給人們機會看到它們在應用于高分辨率模-數(shù)（A-D）轉換器（ADC）開發(fā)時的優(yōu)勢。更具體地，讀者可以發(fā)現(xiàn)本書的主要貢獻在于：使用時間交織的信號處理和校準的多步A-D轉換器的設計、用于這些轉換器的完全可觀測性和可控性的DfT（可測性設計）技術的提出和實現(xiàn)、可以識別過程參數(shù)變化的傳感器網(wǎng)絡的方法與設計、使用小型樣本來估計過程變化的算法的建議以及用于晶片級測試的測試模式生成器的開發(fā)。

作者簡介

　　阿米爾？齊亞約（Amir Zjajo）和何塞？皮內達？德杰韋茲（ José Pineda de Gyvez）都是飛利浦研究實驗室以及恩智浦半導體公司研究所和大學機構在低功耗設計和測試領域的知名研究人員，他們的書和期刊出版物目前是深亞微米技術領域中理解、設計、測試和調試的不可或缺的參考。

圖書目錄

譯者序
原書序
縮略語表
物理量符號
第1章緒論1
1.1 A-D轉換系統(tǒng)1
1.2淺談當前的設計與調試實踐分析4
1.3動機7
1.4本書內容組成8
第2章 A-D轉換9
2.1高速、高分辨率A-D轉換器架構選擇9
2.1.1多步A-D轉換器9
2.1.2管線A-D轉換器10
2.1.3并行管線A-D轉換器12
2.1.4 A-D轉換器實現(xiàn)比較13
2.2低壓A-D轉換器設計注釋16
2.3 A-D轉換器模塊21
2.3.1 S/H21
2.3.2運算放大器24
2.3.3鎖存比較器27
2.4 A-D轉換器：總結31
第3章多步A-D轉換器的設計33
3.1多步A-D轉換器架構33
3.2非理想多步A-D轉換器的設計注意事項36
3.3時間交錯的前端S/H電路39
3.3.1時間交錯架構40
3.3.2 S/H單元的匹配44
3.3.3電路設計49
3.4多步A-D轉換器級設計53
3.4.1粗略量化53
3.4.2精細量化58
3.5中間級設計和校準67
3.5.1子D-A轉換器設計67
3.5.2殘差放大器69
3.6實驗結果76
3.7小結80
第4章多步A-D轉換器的測試82
4.1準靜態(tài)結構試驗的模擬ATPG82
4.1.1測試策略定義83
4.1.2基于準靜態(tài)節(jié)點電壓法的線性故障模型84
4.1.3決策標準和測試刺激優(yōu)化92
4.2可測性概念的設計98
4.2.1功率掃描鏈DfT100
4.2.2應用實例105
4.3用于BIST的片上激勵的產(chǎn)生113
4.3.1連續(xù)和離散時間電路拓撲114
4.3.2連續(xù)和離散時間波形發(fā)生器的設計123
4.4內置自測概念的注釋131
4.5深亞微米CMOS工藝的隨機分析可靠電路設計136
4.5.1用于過程變異性分析的隨機MNA136
4.5.2噪聲分析的隨機MNA138
4.5.3應用示例140
4.6小結144
第5章多步A-D轉換器的調試146
5.1傳感器網(wǎng)絡概念146
5.1.1觀察策略147
5.1.2集成傳感器149
5.1.3決策窗口和應用限制152
5.1.4 DLPM電路設計155
5.1.5溫度傳感器160
5.2模板級過程變化的估計163
5.2.1預期最大化算法163
5.2.2向量機限制估計器166
5.3多步A-D轉換器級的調試168
5.3.1質量標準168
5.3.2估算方法169
5.4 DfT用于多步轉換器的完全可訪問性173
5.4.1測試控制塊177
5.4.2模擬測試控制塊178
5.5時間交織系統(tǒng)的調試180
5.6前景校準184
5.7實驗結果187
5.7.1 A-D測試窗口生成/更新的結果應用191
5.7.2 A-D轉換器調試和校準的結果應用195
5.8小結202
第6章結論和建議203
6.1結果概述203
6.2推薦和未來研究204
附錄 205
附錄A 205
A.1時間不匹配205
A.2偏移不匹配206
A.3增益不匹配207
A.4帶寬不匹配207
A.5一般表達式208
附錄B 208
B.1使用正弦波的A-D轉換器非線性的直方圖測量208
B.2均方誤差210
B.3測量不確定性211
參考文獻213