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程序開(kāi)發(fā)人員測(cè)試指南:構(gòu)建高質(zhì)量的軟件

程序開(kāi)發(fā)人員測(cè)試指南:構(gòu)建高質(zhì)量的軟件

定 價(jià):¥69.00

作 者: [瑞典] 亞歷山大·塔林德(Alexander Tarlinder) 著,朱少民,楊曉慧,歐陽(yáng)辰,曾樂(lè)天 譯
出版社: 人民郵電出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

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ISBN: 9787115480088 出版時(shí)間: 2018-05-01 包裝: 平裝
開(kāi)本: 16開(kāi) 頁(yè)數(shù): 219 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書(shū)分為19章,主要內(nèi)容為開(kāi)發(fā)人員測(cè)試,測(cè)試目標(biāo)、方式和角色,測(cè)試術(shù)語(yǔ),開(kāi)發(fā)人員眼中的可測(cè)試性,契約式編程,可測(cè)試性的驅(qū)動(dòng)者,單元測(cè)試,基于規(guī)格說(shuō)明的測(cè)試,依賴關(guān)系,數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)和組合測(cè)試,準(zhǔn)單元測(cè)試,測(cè)試替身,模擬框架,測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)——經(jīng)典風(fēng)格,測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)——Mockist風(fēng)格,使用測(cè)試代碼,**單元測(cè)試,測(cè)試思路等開(kāi)發(fā)人員和測(cè)試人員必知必會(huì)的知識(shí)。如果你是一個(gè)希望所寫的代碼質(zhì)量更高、缺陷更少的開(kāi)發(fā)人員,那么這本書(shū)很適合你。本書(shū)介紹了如何用可測(cè)試性提升軟件質(zhì)量,在各種開(kāi)發(fā)模式中,可測(cè)試性都是軟件的主要質(zhì)量屬性之一。閱讀本書(shū),你可以成為更好的開(kāi)發(fā)人員,學(xué)習(xí)到更多的軟件測(cè)試知識(shí),不必再苦于沒(méi)有時(shí)間做測(cè)試、也無(wú)法從同事或團(tuán)隊(duì)那里獲得相關(guān)的支持。

作者簡(jiǎn)介

  朱少民,國(guó)內(nèi)軟件測(cè)試界的領(lǐng)軍人物和知名專家,三十多年來(lái)一直從事軟件測(cè)試、質(zhì)量管理和過(guò)程改進(jìn)等工作,過(guò)去五年幫助了近百家企業(yè)提升其質(zhì)量保證與測(cè)試能力,先后獲得安徽省、原機(jī)械工業(yè)部、青島市、合肥市等多項(xiàng)科技進(jìn)步獎(jiǎng),出版了十多部著作,包括測(cè)試方面的暢銷書(shū)《全程軟件測(cè)試》、《軟件測(cè)試方法和技術(shù)》、《完美測(cè)試》和譯作《自動(dòng)化測(cè)試*佳實(shí)踐》等,經(jīng)常在國(guó)內(nèi)外會(huì)議上發(fā)表演講,并在國(guó)內(nèi)開(kāi)設(shè)軟件測(cè)試MOOC課程。之前曾任思科-網(wǎng)迅(中國(guó))軟件有限公司QA總監(jiān),目前是同濟(jì)大學(xué)軟件學(xué)院教授、中國(guó)科技大學(xué)軟件學(xué)院教指委委員。楊曉慧,前華為技術(shù)有限公司-軟件公司測(cè)試專家,1999年進(jìn)入華為公司,先后參與和主持過(guò)多項(xiàng)產(chǎn)品測(cè)試、測(cè)試流程改造、測(cè)試工程師職責(zé)定義等工作。工作覆蓋測(cè)試策略、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試評(píng)估和過(guò)程管理等軟件測(cè)試工程的各個(gè)方面,在自動(dòng)化、可靠性驗(yàn)證、可服務(wù)性驗(yàn)證、可測(cè)試性設(shè)計(jì)等領(lǐng)域上都有豐富的經(jīng)驗(yàn)。2007年以后主管軟件公司的測(cè)試技術(shù)架構(gòu)設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)、應(yīng)用,通過(guò)幫助產(chǎn)品持續(xù)積累和提升測(cè)試技術(shù)能力,實(shí)現(xiàn)研發(fā)的效率和質(zhì)量提升。歐陽(yáng)辰,品友互動(dòng)CTO。推動(dòng)品友大數(shù)據(jù)智能戰(zhàn)略,成為程序化廣告的知名公司。加入品友之前,曾在微軟、小米和甲骨文工作:曾任小米研發(fā)總監(jiān),負(fù)責(zé)廣告和大數(shù)據(jù)平臺(tái),曾在微軟工作十年,負(fù)責(zé)搜索和廣告平臺(tái)的核心大數(shù)據(jù)項(xiàng)目,持有數(shù)項(xiàng)國(guó)內(nèi)外專利,著有《Druid實(shí)時(shí)大數(shù)據(jù)分析》。曾樂(lè)天,博士,畢業(yè)于西安電子科技大學(xué),現(xiàn)在工業(yè)和信息化部電子第五研究所(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室)從事軟件測(cè)評(píng)方面的研究工作。

圖書(shū)目錄

第 1章 開(kāi)發(fā)者測(cè)試 1
1.1 開(kāi)發(fā)者測(cè)試 1
1.2 開(kāi)發(fā)人員測(cè)試活動(dòng) 2
1.2.1 單元測(cè)試 2
1.2.2 集成測(cè)試 2
1.2.3 維護(hù) 2
1.2.4 持續(xù)集成 3
1.2.5 自動(dòng)化測(cè)試 3
1.3 開(kāi)發(fā)人員通常不做什么 4
1.4 定義“開(kāi)發(fā)者測(cè)試” 5
1.5 開(kāi)發(fā)人員測(cè)試和開(kāi)發(fā)過(guò)程 5
1.6 小結(jié) 6
第 2章 測(cè)試目標(biāo)、方式和角色 7
2.1 測(cè)試和檢查 7
2.2 測(cè)試目標(biāo) 7
2.2.1 批判式測(cè)試 8
2.2.2 支持式測(cè)試 8
2.3 測(cè)試方式 8
2.3.1 傳統(tǒng)測(cè)試 9
2.3.2 敏捷測(cè)試 10
2.3.3 BDD、ATDD和實(shí)例化需求 11
2.4 質(zhì)量保證和開(kāi)發(fā)者測(cè)試 13
2.5 小結(jié) 14
第3章 測(cè)試術(shù)語(yǔ) 15
3.1 錯(cuò)誤、缺陷、失效 15
3.2 白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試 16
3.3 測(cè)試技術(shù)分類 16
3.3.1 測(cè)試級(jí)別 17
3.3.2 測(cè)試類型 19
3.3.3 讓測(cè)試級(jí)別和測(cè)試類型
發(fā)揮作用 21
3.4 敏捷測(cè)試四象限 22
3.5 其他類型的測(cè)試 23
3.5.1 冒煙測(cè)試 23
3.5.2 端到端測(cè)試 24
3.5.3 特性測(cè)試 24
3.5.4 正面測(cè)試和負(fù)面測(cè)試 24
3.5.5 小型、中型和大型測(cè)試 24
3.6 小結(jié) 25
第4章 開(kāi)發(fā)者眼中的可測(cè)試性 26
4.1 可測(cè)試的軟件 26
4.2 可測(cè)試性的好處 27
4.2.1 功能可被驗(yàn)證 27
4.2.2 減少意外 28
4.2.3 它可以改變 28
4.2.4 為什么要注重可測(cè)試性 29
4.3 可測(cè)試性的定義 30
4.3.1 可觀察性 31
4.3.2 可控制性 33
4.3.3 可部署性 34
4.3.4 可隔離性 35
4.3.5 小規(guī)模(smallness) 36
4.3.6 單一性 36
4.3.7 抽象級(jí)別 37
4.3.8 效率(efficiency) 38
4.3.9 復(fù)用 38
4.3.10 可測(cè)試性的提示 38
4.4 小結(jié) 39
第5章 契約式編程 40
5.1 契約形式化約束 41
5.2 實(shí)現(xiàn)契約式編程 42
5.3 強(qiáng)制契約 43
5.3.1 斷言 43
5.3.2 支持契約的類庫(kù) 44
5.3.3 單元測(cè)試 45
5.3.4 靜態(tài)分析 45
5.4 小結(jié) 45
第6章 可測(cè)試性的驅(qū)動(dòng)者 47
6.1 直接輸入和輸出 47
6.2 間接輸入和輸出 48
6.3 狀態(tài) 49
6.4 時(shí)序耦合 50
6.5 數(shù)據(jù)類型和可測(cè)試性 50
6.6 域值比 54
6.7 小結(jié) 55
第7章 單元測(cè)試 56
7.1 為什么做單元測(cè)試? 56
7.2 什么是單元測(cè)試 57
7.3 單元測(cè)試框架的生命周期 58
7.3.1 測(cè)試方法 59
7.3.2 測(cè)試初始化器和清除 59
7.3.3 構(gòu)造函數(shù)和析構(gòu)函數(shù) 60
7.4 測(cè)試命名 60
7.4.1 測(cè)試框架的強(qiáng)制規(guī)定 60
7.4.2 行為驅(qū)動(dòng)的開(kāi)發(fā)方式 61
7.4.3 工作單元、測(cè)試狀態(tài)、
所期望的行為 61
7.4.4 選擇一個(gè)命名標(biāo)準(zhǔn) 61
7.5 測(cè)試結(jié)構(gòu)化 62
7.6 斷言方法 63
7.6.1 斷言類型 63
7.6.2 每個(gè)測(cè)試有多少斷言 64
7.6.3 斷言冗長(zhǎng) 65
7.6.4 斷言等式 66
7.6.5 限制和匹配器 67
7.7 測(cè)試異?!?0
7.8 行為驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)方式的框架 72
7.8.1 測(cè)試結(jié)構(gòu) 72
7.8.2 命名測(cè)試 73
7.8.3 匹配器 74
7.9 小結(jié) 75
第8章 基于規(guī)格說(shuō)明的測(cè)試 76
8.1 等價(jià)類劃分 76
8.2 邊界值分析 78
8.3 典型數(shù)據(jù)類型的邊緣用例和其他
測(cè)試用例 79
8.3.1 數(shù)字 79
8.3.2 字符串 79
8.3.3 日期和時(shí)間 80
8.3.4 集合 80
8.4 狀態(tài)轉(zhuǎn)移測(cè)試 81
8.5 決策表 82
8.6 小結(jié) 83
第9章 依賴關(guān)系 84
9.1 對(duì)象間依賴關(guān)系 84
9.1.1 傳入?yún)f(xié)作者 85
9.1.2 使用工廠方法 86
9.1.3 提供一個(gè)外部工廠或者
生成器 87
9.2 系統(tǒng)資源依賴關(guān)系 89
9.2.1 文件 89
9.2.2 提供你自己的抽象 89
9.2.3 測(cè)試由I/O操作處理過(guò)的
數(shù)據(jù) 90
9.2.4 系統(tǒng)時(shí)鐘 91
9.2.5 其他系統(tǒng)資源依賴關(guān)系 92
9.3 層間依賴關(guān)系 92
9.4 跨層級(jí)依賴關(guān)系 94
9.5 小結(jié) 95
第 10章 數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)和組合測(cè)試 96
10.1 參數(shù)化測(cè)試 98
10.2 Theories 99
10.3 生成式測(cè)試 101
10.3.1 驗(yàn)證結(jié)果 102
10.4 組合測(cè)試 103
10.4.1 單模式故障 104
10.4.2 雙模式故障 105
10.4.3 雙模式故障和所有成對(duì)變量
之外 106
10.5 小結(jié) 106
第 11章 準(zhǔn)單元測(cè)試 107
11.1 實(shí)例 107
11.1.1 使用內(nèi)存數(shù)據(jù)庫(kù)的測(cè)試 108
11.1.2 測(cè)試專用的郵件服務(wù)器 108
11.1.3 使用輕量級(jí)容器的測(cè)試 109
11.1.4 Web服務(wù)測(cè)試 110
11.2 影響 111
11.3 小結(jié) 112
第 12章 測(cè)試替身 113
12.1 樁對(duì)象 113
12.1.1 樁對(duì)象的靈活性 114
12.1.2 用樁對(duì)象來(lái)避免副作用 115
12.2 偽對(duì)象 116
12.3 模擬對(duì)象 117
12.3.1 驗(yàn)證間接輸出 117
12.3.2 驗(yàn)證間接輸入轉(zhuǎn)換 121
12.4 探針 122
12.5 啞對(duì)象 123
12.6 驗(yàn)證狀態(tài)還是行為 124
12.6.1 狀態(tài)驗(yàn)證 124
12.6.2 行為驗(yàn)證 125
12.6.3 參數(shù) 125
12.7 小結(jié) 126
第 13章 模擬框架 127
13.1 創(chuàng)建測(cè)試替身 127
13.2 設(shè)置預(yù)期 128
13.3 驗(yàn)證交互行為 131
13.4 誤用、濫用和其他陷阱 133
13.4.1 過(guò)度驗(yàn)證 133
13.4.2 模擬具體類 134
13.4.3 模擬有價(jià)值的類 135
13.4.4 Mock返回Mock 135
13.5 小結(jié) 135
第 14章 測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)——經(jīng)典風(fēng)格 137
14.1 測(cè)試驅(qū)動(dòng)一個(gè)簡(jiǎn)單的搜索引擎 137
14.1.1 測(cè)試1:發(fā)現(xiàn)API 138
14.1.2 測(cè)試2:主邏輯路徑
(Happy Path) 139
14.1.3 測(cè)試3:多文件索引 140
14.1.4 測(cè)試4:更復(fù)雜的文件 141
14.1.5 測(cè)試5:在多文件中找到
單詞 141
14.1.6 測(cè)試6:消除重復(fù)的
匹配(Matches) 142
14.1.7 測(cè)試7:引入排序 143
14.1.8 測(cè)試8:忽略大小寫 145
14.1.9 測(cè)試9:處理標(biāo)點(diǎn)符號(hào) 146
14.2 測(cè)試的順序 147
14.3 紅色到綠色狀態(tài)條的策略 147
14.4 挑戰(zhàn) 148
14.4.1 我們的代碼無(wú)法被測(cè)試 149
14.4.2 我們的代碼很特殊 150
14.4.3 測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)不是完整的
測(cè)試 150
14.4.4 從零開(kāi)始 150
14.5 測(cè)試最先還是最后 151
14.6 小結(jié) 151
第 15章 測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)——Mockist風(fēng)格 153
15.1 一種不同的方法 153
15.1.1 測(cè)試驅(qū)動(dòng)用戶注冊(cè) 154
15.1.2 增加更多測(cè)試 158
15.2 雙環(huán)TDD 159
15.2.1 另一個(gè)反饋環(huán) 159
15.2.2 關(guān)閉周期 160
15.3 小結(jié) 160
第 16章 復(fù)制 161
16.1 復(fù)制的壞處 161
16.2 利用復(fù)制的好處 162
16.3 機(jī)械復(fù)制 163
16.3.1 拷貝、粘貼 163
16.3.2 塊拷貝、粘貼 163
16.3.3 構(gòu)造函數(shù)拷貝、粘貼 164
16.3.4 方法復(fù)制 165
16.4 知識(shí)復(fù)制 166
16.4.1 不同方法中的類似功能 167
16.4.2 功能相似的類 167
16.4.3 競(jìng)爭(zhēng)性實(shí)現(xiàn) 168
16.4.4 競(jìng)爭(zhēng)性領(lǐng)域模型 168
16.5 小結(jié) 169
第 17章 使用測(cè)試代碼 170
17.1 測(cè)試代碼中的注釋 170
17.2 刪除測(cè)試用例 173
17.2.1 需要被刪除的主要候選者 173
17.2.2 需要被刪除的可能候選者 174
17.2.3 刪除測(cè)試用例的重要性 174
17.3 小結(jié) 175
第 18章 超越單元測(cè)試 176
18.1 單元測(cè)試以外的測(cè)試 176
18.1.1 封裝在事務(wù)內(nèi)的測(cè)試 176
18.1.2 需要使用服務(wù)或組件的
測(cè)試 178
18.1.3 需要與其他系統(tǒng)交互的
測(cè)試 179
18.1.4 通過(guò)UI運(yùn)行的測(cè)試 181
18.1.5 需要調(diào)用一個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試 183
18.1.6 更多內(nèi)容 184
18.2 單元測(cè)試不具備的特征 185
18.2.1 復(fù)雜性 186
18.2.2 穩(wěn)定性 186
18.2.3 缺陷定位 187
18.2.4 性能 187
18.2.5 環(huán)境依賴性 188
18.2.6 目標(biāo)受眾 188
18.3 實(shí)踐指南 189
18.3.1 測(cè)試的獨(dú)立性 189
18.3.2 配置 189
18.3.3 驗(yàn)證 191
18.3.4 利用測(cè)試替身 191
18.3.5 決定開(kāi)發(fā)者測(cè)試策略 192
18.4 小結(jié) 193
第 19章 測(cè)試思路與啟發(fā)式 194
19.1 高層注意事項(xiàng) 194
19.1.1 測(cè)試有效性 194
19.1.2 測(cè)試配方 194
19.1.3 抽象級(jí)別及其細(xì)節(jié) 195
19.1.4 原型 195
19.1.5 可信來(lái)源(結(jié)果判斷
依據(jù)) 196
19.2 低層注意事項(xiàng) 196
19.2.1 0-1-n 196
19.2.2 空值(null) 196
19.2.3 范圍 196
19.2.4 集合 196
19.2.5 異常和錯(cuò)誤 197
19.2.6 數(shù)字 197
19.2.7 字符串 197
19.2.8 日期 197
19.3 小結(jié) 198
附錄A 工具和庫(kù) 199
附錄B 源代碼 201
詞匯表 209
后記:忘卻測(cè)試是為了更好的開(kāi)發(fā) 216

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