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雷達(dá)目標(biāo)散射特性測量與處理技術(shù)

雷達(dá)目標(biāo)散射特性測量與處理技術(shù)

定 價:¥158.00

作 者: 許小劍 著,王小謨,左群聲 編
出版社: 國防工業(yè)出版社
叢編項: 雷達(dá)與探測前沿技術(shù)叢書
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787118114188 出版時間: 2017-12-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 446 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  目標(biāo)RCS測量、處理和評估貫穿于隱身裝備設(shè)計、研制、試驗和使用維護(hù)的各個階段。《雷達(dá)目標(biāo)散射特性測量與處理技術(shù)》在對RCS測量與處理技術(shù)領(lǐng)域公開文獻(xiàn)資料進(jìn)行歸納和分析的同時,重點對作者所在實驗室近年來在該領(lǐng)域的基礎(chǔ)理論、實驗和應(yīng)用性研究成果進(jìn)行了系統(tǒng)的總結(jié),尤其是對國內(nèi)外現(xiàn)有文獻(xiàn)鮮有涉及而工程實用價值又較高的新模型、新方法和新技術(shù)進(jìn)行了討論。全書一半以上的篇幅用于闡述作者所在實驗室的理論和技術(shù)研究成果。全書共分為8章,首先建立目標(biāo)寬帶散射函數(shù)和散射分布函數(shù)的概念,然后圍繞可探測目標(biāo)的RCS測試場和寬帶成像診斷測量技術(shù)問題進(jìn)行討論,主要包括:RCS測試場和寬帶相參測量雷達(dá)、低散射目標(biāo)支架設(shè)計方法、新型RCS定標(biāo)體與定標(biāo)處理技術(shù)、背景輔助測量與提取技術(shù)、目標(biāo)高分辨率診斷成像技術(shù)、極化校準(zhǔn)測量與處理技術(shù),以及RCS數(shù)據(jù)的處理、評估與報告等?!独走_(dá)目標(biāo)散射特性測量與處理技術(shù)》可供從事低可探測目標(biāo)設(shè)計實驗、目標(biāo)與環(huán)境特性、雷達(dá)目標(biāo)散射現(xiàn)象學(xué)、武器系統(tǒng)仿真等技術(shù)領(lǐng)域的廣大研究人員、工程技術(shù)人員和部隊官兵參考,也可作為相關(guān)院校教師和研究生的教學(xué)與研究參考書。

作者簡介

  許小劍,1963年生,江西萬安人。1983年合肥工業(yè)大學(xué)獲無線電技術(shù)專業(yè)工學(xué)學(xué)士,1986年航天部二院獲電磁場與微波技術(shù)專業(yè)工學(xué)碩士,1994年英國帝國理工學(xué)院高級訪問學(xué)者,2002年美國內(nèi)布拉斯加大學(xué)獲博士學(xué)位。2002年以前在北京環(huán)境特性研究所從事科研和科研管理工作,2003年起任北京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院教授、博導(dǎo)。長期從事國防科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域研究工作,主要研究方向包括遙感特征建模、分析與處理,雷達(dá)成像、圖像理解與目標(biāo)識別等。獲國家科技進(jìn)步二等獎1項,部級科技進(jìn)步一等獎2項、二等獎4項、三等獎1項;國務(wù)院政府特殊津貼專家、航天總公司有突出貢獻(xiàn)專家。合作出版專著與教材5部,發(fā)表學(xué)術(shù)論文260余篇,其中SCI和EI檢索約200篇,授權(quán)發(fā)明專利30余件。

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