乏信息可靠性分析

定　價(jià)：￥120.00

作　者：	夏新濤
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	電子通信工業(yè)技術(shù) 一般性問(wèn)題

購(gòu)買這本書可以去

ISBN：	9787030549969	出版時(shí)間：	2017-11-01	包裝：	平裝
開本：	B5	頁(yè)數(shù)：	340	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書主要論述乏信息可靠性評(píng)估與預(yù)測(cè)方法，主要內(nèi)容包括：乏信息可靠性分析的基本概念、二參數(shù)Weibull分布可靠性評(píng)估、三參數(shù)Weibull分布可靠性評(píng)估與假設(shè)檢驗(yàn)、失效數(shù)據(jù)的可靠性模型評(píng)估、無(wú)失效數(shù)據(jù)的可靠性預(yù)測(cè)、制造過(guò)程的可靠性評(píng)估、機(jī)械產(chǎn)品的品質(zhì)實(shí)現(xiàn)可靠性評(píng)估、性能數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的可靠性演變過(guò)程預(yù)測(cè)等。