半導體器件數(shù)值模擬計算方法的理論和應(yīng)用

　　半導體器件數(shù)值模擬計算方法是現(xiàn)代計算數(shù)學和工業(yè)與應(yīng)用數(shù)學的重要領(lǐng)域。半導體器件數(shù)值模擬是用電子計算機模擬半導體器件內(nèi)部重要的物理特性，獲取有效數(shù)據(jù)，是設(shè)計和研制新型半導體器件結(jié)構(gòu)的有效工具。本書主要內(nèi)容包括半導體器件數(shù)值模擬的有限元方法、有限差分方法，半導體問題的區(qū)域分裂和局部加密網(wǎng)格方法，半導體瞬態(tài)問題的塊中心差分方法等經(jīng)典理論部分，以及半導體問題的混合元。特征混合元方法、混合元。分數(shù)步差分方法、半導體瞬態(tài)問題的有限體積元方法、半導體問題的混合有限體積元。分數(shù)步差分方法、電阻抗成像的數(shù)值模擬方法和半導體問題數(shù)值模擬的間斷有限元方法等現(xiàn)代數(shù)值模擬方法和技術(shù)。

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