電子顯微分析實用方法

章 透射電子顯微鏡的基本結(jié)構(gòu)和操作
1．1 電磁透鏡的基本原理
1．2 透鏡的像差
1．2．1 球差
1．2．2 色差
1．2．3 像散
1．2．4 衍射差
1．3 顯微鏡的分辨率
1．3．1 顯微鏡的極限分辨率
1．3．2 實際分辨率
1．4 透射電鏡的基本結(jié)構(gòu)
1．4．1 照明系統(tǒng)
1．4．2 成像系統(tǒng)
1．4．3 試樣臺
1．4．4 照相記錄系統(tǒng)
1．5 透射電鏡的主要工作模式
1．5．1 放大成像模式
1．5．2 電子衍射模式
1．5．3 明場像和暗場像
1．5．4 點陣像（晶格像）
1．6 實驗內(nèi)容
1．7 透射電鏡的各功能鍵以及合軸調(diào)整技巧
1．7．1 JEOLJEM-2010透射電鏡主要功能鈕簡介
1．7．2 JEOLJEM-2010透射電鏡的合軸調(diào)整
1．7．3 TeaiG2F-20或F-30透射電鏡主要功能鈕簡介
1．7．4 TeaiG2F-20或F-30透射電鏡的合軸調(diào)整
練習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第2章 透射電鏡放大像的觀察與記錄
2．1 透射電子顯微像的襯度
2．1．1 襯度的概念
2．1．2 復(fù)型試樣和非晶試樣的放大像觀察與記錄
2．1．3 晶體試樣衍襯像的觀察與記錄
2．1．4 晶體缺陷衍襯像簡介
2．2 TEM的高分辨像觀察與記錄
2．2．1 晶格像的原理
2．2．2 晶格像的觀察
2．3 TEM高分辨像的傅里葉變換
2．3．1 傅里葉變換簡介
2．3．2 TEM高分辨像的傅里葉變換
2．3．3 環(huán)形濾波工具在傅里葉變換中的應(yīng)用
2．3．4 孿生濾波在傅里葉變換中的作用
2．4 薄膜試樣厚度的測定
2．4．1 消光輪廓法
2．4．2 跡線法
2．4．3 污染斑點法
練習(xí)題
參考文獻(xiàn)
……
第3章 掃描電鏡的基本原理與實驗方法
第4章 掃描透射電鏡的原理及應(yīng)用
第5章 TEM的選區(qū)電子衍射法
第6章 多晶試樣衍射花樣的分析和相機(jī)常數(shù)測定
第7章 單晶斑點衍射花樣及其分析
第8章 菊池花樣的分析與應(yīng)用
第9章 晶體學(xué)分析
0章 會聚束電子衍射
1章 晶體點群的會聚束衍射測定
2章 電子背散射衍射分析與取向成像方法
3章 X射線能譜微區(qū)化學(xué)分析的基本原理及定性分析
4章 塊狀試樣的X射線能譜定量分析
5章 薄試樣的X射線能譜分析
6章 電鏡試樣的制備
附錄1 電子的波長表
附錄2 幾種電子槍的參數(shù)
附錄3 原子對電子的散射因子
附錄4 立方晶系的指數(shù)平方根比
附錄5 晶體的晶面間距公式
附錄6 BCC、FCC和HCP結(jié)構(gòu)的單晶體斑點衍射花樣
附錄7 晶體的晶面夾角及晶向夾角公式
附錄8 BCC、FCC和HCP單晶體的菊池圖
A．8．1 FCC晶體的菊池圖
A．8．2 BCC晶體的菊池圖
A．8．3 HCP晶體的菊池圖
附錄9 標(biāo)準(zhǔn)極圖
附錄10 晶體的指數(shù)變換公式
附錄11 元素的特征X射線能量及吸收邊能量表
索引