硅MEMS工藝與設(shè)備基礎(chǔ)

定　價(jià)：￥160.00

作　者：	阮勇，尤政著
出版社：	國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	微米納米技術(shù)叢書-MEMS與微系統(tǒng)系列
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787118117400	出版時(shí)間：	2018-12-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	463	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《硅MEMS工藝與設(shè)備基礎(chǔ)/MEMS與微系統(tǒng)系列·微米納米技術(shù)叢書》在第1章首先介紹MEMS器件的硅MEMS基本工藝、器件和新材料，在此基礎(chǔ)上，第2章闡述MEMS工藝設(shè)計(jì)規(guī)則與工藝誤差，第3章至第8章闡述硅MEMS單項(xiàng)工藝，介紹相關(guān)工藝原理與典型設(shè)備，第9章分析列舉了典型的硅MEMS器件結(jié)構(gòu)的工藝制備，第10章和第11章介紹圓片鍵合和封裝技術(shù)，第12章圍繞工藝中的參數(shù)討論了檢測(cè)技術(shù)，附錄部分對(duì)于真空技術(shù)、相關(guān)藥品與安全防護(hù)進(jìn)行總結(jié)。本書詳細(xì)介紹了硅MEMS器件所需的工藝與設(shè)備，能夠讓MEMS研究人員對(duì)硅MEMS工藝技術(shù)及其主要設(shè)備與環(huán)境有全面了解。全書主要特色是將工藝原理、設(shè)備與實(shí)驗(yàn)案例貫通統(tǒng)一考慮，詳細(xì)討論典型MEMS器件工藝原理和方法與設(shè)備、安全防護(hù)、動(dòng)力系統(tǒng)。各章節(jié)工藝的支撐均基于實(shí)際4/6英寸①半自動(dòng)設(shè)備和技術(shù)，適合從事MEMS技術(shù)研究的工程技術(shù)人員參考，使MEMS教學(xué)與研究人員能夠在設(shè)計(jì)規(guī)劃之初將設(shè)計(jì)與工藝實(shí)踐結(jié)合起來(lái)，使MEMS器件的開(kāi)發(fā)高效順暢：同時(shí)力圖將MEMS器件研究中困擾的問(wèn)題，從設(shè)備、工藝源頭給予解釋闡述。本書也可用做高等學(xué)校相關(guān)專業(yè)微機(jī)電系統(tǒng)課程教材。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《硅MEMS工藝與設(shè)備基礎(chǔ)》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

第1章 MEMS技術(shù)與器件發(fā)展概述
1．1 概述
1．2 MEMS器件
1．2．1 MEMS振蕩器
1．2．2 MEMS麥克風(fēng)
1．2．3 MEMS微鏡頭
1．2．4 數(shù)字微鏡器件/數(shù)字光學(xué)投影技術(shù)
1．2．5 MEMS壓力傳感器
1．2．6 MEMS運(yùn)動(dòng)測(cè)量器件
1．2．7 微能源器件
1．2．8 MEMS片上實(shí)驗(yàn)室/微流控器件
1．2．9 其他MEMS器件
1．3 MEMS商業(yè)產(chǎn)品（系統(tǒng)）
1．3．1 醫(yī)療健康
1．3．2 運(yùn)動(dòng)信息檢測(cè)
1．3．3 消費(fèi)類電子
1．3．4 汽車工業(yè)
1．3．5 其他應(yīng)用
1．4 產(chǎn)業(yè)分析
1．4．1 三波應(yīng)用高潮
1．4．2 MEMS產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢(shì)
參考文獻(xiàn)
第2章 MEMS工藝與設(shè)計(jì)規(guī)則簡(jiǎn)介
2．1 硅MEMS工藝
2．1．1 濕法清洗工藝
2．1．2 氧化工藝
2．1．3 光刻工藝
2．1．4 薄膜淀積工藝
2．1．5 摻雜工藝
2．1．6 刻蝕工藝
2．1．7 鍵合工藝
2．1．8 測(cè)試封裝工藝
2．2 MEMS器件中的新材料
2．2．1 敏感材料的本質(zhì)和特點(diǎn)
2．2．2 敏感材料的分類
2．2．3 敏感材料*新研究進(jìn)展
2．2．4 敏感材料未來(lái)發(fā)展前景
2．3 光刻版圖設(shè)計(jì)
2．3．1 光刻版圖設(shè)計(jì)規(guī)則類型
2．3．2 同一圖層內(nèi)圖形幾何尺寸規(guī)則
2．3．3 不同層間包含及覆蓋幾何尺寸規(guī)則
2．3．4 版圖設(shè)計(jì)尺寸規(guī)則
2．3．5 版圖對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記設(shè)計(jì)要求
2．3．6 版圖設(shè)計(jì)中的注意事項(xiàng)
2．4 測(cè)試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
2．5 制造工藝誤差
2．5．1 誤差分類
2．5．2 在制造中的實(shí)際誤差
2．6 典型體硅標(biāo)準(zhǔn)工藝
2．6．1 SOI工藝